171482
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е 171482ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советсеа Социалистически 1 Республикависимое от авт. свидетельствааявлено 16 11,1963 ( 826202/26-25) л присоединением заявкиГосударственный комитет по делам изобретений и открытий СССРвторыобрете хабцев Заявитель ИЯ ТЯЖЕЛЬ 1 Х ЭЛЕМЕНТОВ ВДАХ И РУДАХ ОСОБ ОПРЕ емого способа , необходимую одггисная группа Лг Известен рентгено-радиометрический способ лабораторного анализа руд ц минералов с целью определения содержания в пих тяжелых элементов, который заключается в том, что с помощью первичного ядерного излучения возбуждают атомы анализируемых элементов, а затем регистрируют характеристическое . излучение возбуждаемых атомов. При осуществлении способа проводят двукратные измерения пробы с разными фильтрами, Выделение характеристического излучения определяемого элемента осуществляют с помощью фильтров Росса, Учет вещественного состава пробы и фона рассеянного излучения производят по результатам аналогичных измерений эталонной пробы с содержанием определяемого элемента близким к нулю.Содержание анализируемого элемента в исследуемой пробе определгнот по сравнению с известным содержанием этого же элемента в другой, эталонной пробе,Известный способ требует специального приготовления проб и практически непригоден при исследованиях в условиях естественного залегания, так как не позволяет исключать рассеянное излучение и учитывать изменение вещественного состава и плотности исследуемой среды,Основное отличие предлагасостоит в том, что информацию для определения содержания искомого элемента, получают посредством одновременного измерения интенсивностей в двух участках спектра вторичного излучения, выбираемых 5 по разные стороны от К-края анализируемого элемента. Первьш участок выбирается в области, соответствующей характеристическому излучению элемента, поэтому интенсивность излучения в этом участке определяется 10 суммой интецсивностеи характеристическогои рассеянного излучений. Во втором участке спектра измеряют ицтецсивцость рассеянного излучения.Благодаря близости коэффициентов погло щения в выбираемых областях эцерггш и однотипности зависимости интенсивностей характеристического и однократно рассеянного цзлучешьй от вещественного состава ц плотности среды, включающей искомый эле мент, отношение интенсивностей, которое выбирается в качестве основного параметра для количественного определения содержания элемента, це зависит от состава среды ц линейно зависит от содержания анализируемого 25 элемента. Это подтверждено опытным проведением измерений в скважине ца месторождении со свинцово-бариевым орудценцем. Эти же измерения показали Возможность одцовремешюго определения свшша ц бария при 30 совместном их присутствии в рудах. Завг;171482 Предмет изобретения Составитель Ю. В. РощинРедактор И. Г. Карпас Техред А. А. Камышникова Корректор О. И. Попова Заказ 1261/16 Тираж 1575 Формат бум. 60 К 90 Че Объем 0,13 изд, л. Цена 5 кон. ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр. Сапунова, 2 симость величин отношения спектральных интенсивностей от содержания свинца и бария оказалась линейной в широком диапазоне изменения концентраций этих элементов.Предлагаемый способ может быть использован при каротаже скважин, при опробовании стенок горных выработок, а также при экспресс-анализах продуктов обогащения и переработки руд в процессе эксплуатации месторождений. 1. Способ определения тяжелых элементов в породах и рудах по характеристическому рентгеновскому излучению этих элементов, возбуждаемых под воздействием гамма-излучения источника, отличающийся тем, что, с целью сокращения количества измерений и упрощения методики их проведения в условиях естественного залегания пород и руд, производят одновременное измерение интенсивностей вторичного излучения в двух участках спектра, расположенных по разные стороны 5 от К-края поглощения искомого элемента,2. Способ по п, 1, отличающийся тем, что,с целью уменьшения влияния вещественного состава исследуемой среды на результаты определений, содержание искомого элемента на ходят по величине отношения интенсивностейв двух указанных участках спектра вторичного излучения. 3. Способ по пп. 1 и 2, отличающийся тем, 15 что, с целью одновременного определения нескольких элементов, производят одновременное измерение интенсивностей вторичного излучения в участках спектра, расположенных по разные стороны от К-краев поглощения 20 каждого из элементов.
СмотретьЗаявка
826202
ВСССО В. А. Мейер, В. С. Нахабцев
МПК / Метки
МПК: G01N 23/22, G01V 5/12
Метки: 171482
Опубликовано: 01.01.1965
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-171482-171482.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">171482</a>
Предыдущий патент: 171481
Следующий патент: Неконтактный искатель металлических предметов
Случайный патент: Устройство для подачи шлаковых и экзотермических смесей в кристаллизатор