Способ анализа высокодисперсных систем

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК ЕНИЯ НИЕ АВТОРСКО ВИДЕТЕЛЬС ОЭ О СО ь ся следующим обГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(71) Центральный научно-исследовательский институт измерительной аппаратуры(54) СПОСОБ АНАЛИЗА ВЫСОКОДИСПЕРСНЫХ СИСТЕМ(57) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам иэмереИзобретение относится к измерительной технике, а именно к способам измерения дисперсного состава материалов с помощью микроскопических (оптических) методов, предназначается для анализа различных металлических порошков, измельченных материалов и промышленной пыли и может быть использовано научно-исследовательскими и заводскими лабораториями как метод контроля материалов и .технологических процессов их обработки.Цель изобретения - повышение точности измерений,Установлен критерий, использование которого позволяет при наличии телевизионного изображения образца исключить иэ анализа агломераты, влияющие на точность измерений. Физическая сущность данного критерия заключается в том, что из подсчета,Ы 1689814н)5 б 01 й 21/88 ния дисперсного состава материалов с помощью микроскопических (оптических) методов, Целью изобретен ия я вляетс.-: повышение точности измерения, Сущность способа заключается в подсчете числа частиц с различными размерами под микроскопом в предварительно подготовленном образце, получении телевизионного изображения образца, определении величины контактных перешейков у агломератов, стирании с изображения обьекта перешейков с размерами менее 0,2 ат эквивалентного диаметра меньшей иэ слипшихся в данный агломерат частицы. искл ючав реэульформацигих фак(уменьшечастиц) киэ аналиящие изпроцессеэанные чпере шеетановленет себяединое цми в егоняется нСпасразом. ются агломераты, образовавшиесятате хранения образца за счет деи, поверхностной диффузии и друторов, не приводящих к усадкению раСстояния между центрамиомплекса частиц. Таким образом,за исключаются агломераты, состочастиц, которые в технологическомведут себя как отдельные несвяастицы. В случае, если контактныйк между частицами превышает усное значение, агломерат проявляв технологическом процессе какелое и имеющийся между входящисостав частицами перешеек сохраа изображении,об осуществляет1689814 Ф о р мул а изобретен ия Способ анализа высокодисперсных систем, заключающийся в том, что по телевизионному изображению подготовленного образца осуществляют подсчет числа частиц с различными размерами, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности, предварительно измеряют на изображении величины контактных перешейков у агломератов й стирают с изображения образца перешейки с размерами менее 0,2 от эквивалентного диаметра меньшей из слипшихся в данный. агломерат частицы,Составитель А. Труханов Редактор ОлОрковецкая Техред М,Моргентал Корректор М. ШарошиЗаказ 3808 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, МоскваЖ, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент"г. Ужгород., ул.Гагарина, 101, Навеску порошка (пыли) помещают в соответствующую дисперсионную жидкость.Каплю такой суспензии переносят на предварительно протертое стекло, к ней добавляют каплю дисперсионной жидкости и 5ровным слоем распределяют стекляннойпалочкой по всей поверхности стекла,Для грубой пыли с частицами 20-60 мкм,имеющими большую плотность (3 гикмз), вкачестве дисперсионной используют быстро испаряемые жидкости. Навеску 0,1-0,2 гпереносят в ступку из химически стойкого,твердого материала агат, яшма), добавляют2 - 3 см жидкости и растирают легким назжатием пестика до полного испарения жидкости. Небольшое количество порошкапыли) переносят на предметное стекло, добавляют каплю дисперсионной жидкости ировчцм слоем распределяют суспенэию повсей поверхности стекла. 20Затем производят подсушивание пре.парата на воздухе до удаления дисперсионной жидкости. Предметное стеклопомещают на предметный столик мик роскопа типа МБИ - 1 для исследования в проходящем свете, сопряженного с помощьюоптической насадки с автоматической телевизионной установкой.Общее количество частицв поле зрения 30микроскопа не должно превышать 100 в соответствии с ТУ, В зависимости ат среднегоразмера частиц последовательной заменойобъекиов подбирают необходимое дляанализа увеличение прибора, Анализируют 35 изображение. При наличии агломератов частиц, соединенных контактным перешейком, составляющим менее 0,2 от эквивалентного диаметра меньшей из соединенных частиц, стирают изображение этого перешейка. Стирают также изображение грубых агломератов частиц, являющихся явным дефектом подготовки образца,Преобразуют телевизионные сигналы изображаемых частиц в логические сигналы - проектированные диаметры частиц. Измеряют геометрические параметры выбранных объектов и формируют сигналы на вцчислительное устройство, Измерения могут быть проведены, например, с помощью телевизионной установки типа "Схема", позволяющей наблюдать измеряемые объекты, их логические сигналы, а также результаты измерений на экране видеоконтрольнаго устройства,