Устройство для исследования и регистрациг-

Номер патента: 1116307

Опубликовано: 30.09.1984

Авторы: Гуревич, Заруцкий, Приклонский

МПК: G01B 9/025

Метки: волокнистых, голографический, композиционных

...способа используют голографический интерферометр с лазером непрерывно го действия тина ЛГ-Э 8, Предпочтительно оптическую схему строить так, чтобы направления освещения и наблюдения совпадали или составляли малый угол (О) с нормалью к недеформированной поверхности контролируемого материала. Используют нагружающее устройство, обеспечивающееидентичные граничные условия. Нагрузку по величине выбирают с помощью 55 эталонного образца так, чтобы вызванные ею деформации лежали в упругой зоне. Последовательность операций при использовании способа следующая.Регистрируют голограмму исходного состояния эталонного композиционного материала, после чего деформируют его так, чтобы на деформированной поверхности появилось не менее одной...

Номер патента: 528440

Опубликовано: 15.09.1976

Авторы: Одесский, Садыков, Фикс-Марголин

МПК: G01B 5/30

Метки: деформаций, записи, металлоружущих, прибор, станков, суммарных

...с углом наклонасоответствующим направлению моделируемых сил резания, Рабочая поверхность пояска 4 является цилиндром. Кулачок 3 и поясок 4 крепятся к оправке 1 с возможностью перемещения для регулировки эксцентриситета относительно оси оправки, например, на трех радиально расположенных винтах, не показанных на чертеже.Прибор снабжен упругим элементом 5 с роликом 6 на свободном конце, устанавливаемым в суппорт 7 вместо резца. Записывающий механизм прибора имеет перо,8, которое через толкатель 9 связано с пояском 4 на оправке 1, а также дисковую диаграмму 10, которая связана с оправкой 1 через механическую передачу вращательного движения, обеспечивающую их синхронное вращение, например, через тросиковую и червячную.Прибор для...

Номер патента: 101820

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Фиксмарголин

МПК: B23B 25/06

Метки: деформаций, жесткости, металлорежущих, прибор, станков, суммарной, суммарных

...(3), несущего ролик , корпуса дпнамометра (5) и индикаторов (6) и (7).Пружина с роликом и эксцентрик конструктивно выполнены так, что дают трпсоставляющих Р: Ру и Р усилия резания в заранее выбранном соотношении.Оправка (1) с эксцсптрддками (2), распо 0971 в Министерство машиноотроеддия ложенддьщп в выбранных местах нагружения, укрепляется в центрах станка в рабочем органе, осуществляющем главное двддженпе (в патроне, в шпинделе). Пружина (3) и измерительные индикаторы (6) и (7), встроенные в корпус динамоыетра (5), крепятся в резцедержавке (на столе) станка.Прпоор работает следующим образом.Ролик (4) пружины (3) подводится к эксцентрику (2) до касания в токе меньшего радиуса, а затсы, поворачивая шпиндель с оправкой, дают нагрузку...

Номер патента: 541106

Опубликовано: 30.12.1976

Авторы: Прокопенко, Рипка

МПК: G01N 3/307

Метки: грунтовых, деформациях, динамических, исследования, образцов, ударных, характеристик

...крепится к стойке 22. Массивная опорная плита 23 жестко соединена с основанием 24 ударно-регистрирующего устройства посредством кронштейна 25. Она служит для крепления тензометрического фланца 26 с тензометрическим одометром 27 и образцом испытуемого материала. Тензометрический фланец 26 при помощи диафрагменного датчика (аналогичного датчику штампа ударника 18) измеряет напряжение деформации под образцом и скорость ее изменения, а одометр 27 - напряжение бокового распора. Игольчатый шток 28 с тарельчатым упором 29 и электродатчиком перемещений 30 смещен относительно оси образца, не нарушает его структуру и служит для регистрации деформаций. Электрические сигналы тензодатчиков подаются на усилитель 31 и фиксируются при помощи...

Номер патента: 1516759

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Горохов, Дульцева, Житков, Никулина, Овчинникова

МПК: G01B 7/16

Метки: деформаций, образцов, поверхностных

...при неподвижном зонде 5 точки равного потенциала наизолинии находят передвижением зонда6 вдоль силовой линии да тех пор, пока отсчет по гальванометру 8 не станет равным нулю, далее перемещаютопорный зонд 5 вдоль одного из непод-ключенных к источнику 4 электродовв новую краевую точку и повторяютсканирование поля зондом 6, при подключении к источнику второй пары электродов уже зонд 6 становится опорным,а зонд 5 - сканирующим.На фиг. 1 пунктиром показана исход.ная ортогональная сетка изолиний, получающаяся до нагружения образца,при однородном электропроводном покрытии по результатам таких измеренийраспределения электрического потенциала при последовательном подключениипротиволежащих пар электродов 2 кисточнику 4При нагружении...