Способ определения уровня сыпучего материала

СОЮЗ СОВЕ ГСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУГЛИК 673852 9) н))с 6 01 Г 23/00 ГОСУ/АРСТВЕН)1 ЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Всесоюзный государственный научноисследовательский и проектный институт асбестовой промышленности(56) Авторское свидетельство СССРМ 667815, кл. С О 1 Г 23/22, 1975.Авторское свидетельство СССР )Ф 531035, кл. б 01 Р 23/00, 1973.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УРОВНЯ СЫПУЧЕГО МАТЕРИАЛА(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения уровня сыпучего материала,Целью изобретения является повышение точности измерения за счет исключения влияния свойств материала. Облучают поверхность 2 материала источником 1 излучения, Выделяют на поверхности 2 материала две зоны осмотра приемниками 3, 4 излучения и создают затененность б со стороны одной иэ зон таким образом, что граница зэтененности б или находится в пределах этой зоны, или совпадает с ее границей. Измеряют интенсивности излучения соответствующими приемниками 3, 4 при отсутствии материала и блоком 7 измерения выравнивают значения сигналов приемников, После появления материала его уровень определяют по соотношению значений сигналов приемников, которое пропорционально изменению площади ээтененности, 1 ил.1673852 Составитель Е, БибиковаРедактор А, Долинич Техред М.Моргентал Корректор О, Кравцова Заказ 2909 Тираж 405 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Изобретение относится к измерению уровня сыпучих материалов, например руд полезных ископаемых и т.д.Цель изобретения - повышение точности измерения за счет исключения влияния свойств материала.На четеже приведена схема устройства реализующего способ.Способ осуществляют следующим образом,Источником 1 излучения облучают поверхность 2 материала, на которой выделяют две зоны осмотраидвумя приемниками 3 и 4 излучения, Датчик 5 по отношению к источнику 1 излучения устанавливается таким образом, что со стороны зоны осмотраприемником 3 излучения создается затененность 6, граница А которой находится в пределах зоны осмотра , Измеряют интенсивности отраженного излучения приемниками 3 и 4 при отсутствии материала и блоком 7 измерения выравнивают сигналы приемников 3 и 4 путем их регулирования. После появления материала площадь затененности зоны осмотраувеличивается, т.е. граница А зэтененности смещается в сгорону зоны осмотра , В результате этого сигнал приемника 3 излучения уменьшается пропорционально увеличению площади затенен ности 6, следовательно, меняется соотношение сигналов приемников 3 и 4. Увеличение площади эатененности 6 зоны осмотрапропорционально увеличению уровня материала. Блок 7 измерения по изменению соотношения сигналов приемников 3 и 4 определяет уровень материала, Поскольку на изменение площади эатененности 6 эоны осмотране оказывают влияния свойства материала, то и результат определения уровня материала блоком 5 измерения не зависит от них.5 Кроме того, граница А затененности 6может совпадать с границей А эоны осмотрапри выравнивании сигналов приемников 3 и 4 излучения при отсутствии материала, При появлении материала гра ница А затененности 6 будет перемещатьсяв зону осмотратем дальше, чем больше уровень материала.Выравнивание сигналов приемников 3,4 излучения может производиться и при на личии материала с условием, что при егоотсутствии сохраняется затененность одной иэ эон осмотра В этом случае измерение уровня материала будет происходить от того значения уровня, на котором выравнива лись сигналы. Формула изобретенияСпособ определения уровня сыпучегоматериала, включающий облучение поверх 25 ности материала и регистрацию отраженногоиэлучения,отличающийся тем,что,с целью повышения точности измерения эасчет исключения влияния свойств исследуемого материала, на поверхности материала30 выделяют две зоны осмотра приемникамиизлучения, создают эатененность со стороны одной из зон, замеряют интенсивностиотраженных излучений от обеих эон при отсутствии материала и выравнивают эначе 35 ния измеренных сигналов, а при наличииматериала его уровень определяют по соотношению значений сигналов, пропорциональному площади эатененности,