166895

Номер патента: 991205

Опубликовано: 23.01.1983

Авторы: Бобров, Ноткин, Рыжков, Тыр

МПК: G01M 1/12

Метки: координат, массы, тел, центра

...платфорьи, опорныереакции и момент инерции и по измеренным параметрам судят о массе и коорф динатах центра массы тела, при установке теда на платформу меняют конФигурацию тела изменением положениякаждого нэ. звеньев или групп звеньевпри постоянстве положения остальных 25 звеньев и производят измерения параметров при каждом из положенйй звеньев.Суть способа определения массы икоординат центра массы многоэвенныхтел, звенья которых шарнирно связаны 30 между собой, заключается в следующем,991205 Формула изобретения Составитель Р. ГайнутдиноваТехред М.Коштура Корректор О, Билак Редактор НЛазаренко Заказ 111/56 Тираж 871 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и .открытий1 1 30 35 р Москва, Ж, Раушская на 6.,...

Номер патента: 1298558

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Бурыкин, Крылов, Рыжков, Свирин

МПК: G01M 1/12

Метки: координат, масс, массы, центра

...схем 8 сравнения, и блока10 индикации, входы которого связаны40с выходами дополнительных схем 8сравнения,Система измерения устройства,предназначенная для преобразованиясигналов измерительных преобразователей 2 усилий в выходную величину,пропорциональную измеряемым параметрам, содержит сумматор 11, осуществляющий сложение сигналов преобразователей 2, и может также содержатьблоки вычисления массы и координатцентра масс изделий.Устройство для определения массыи координат центра масс изделий работает следующим образом.На шарниры 5 плит 4 помещают контролируемое изделие 6, в результатечего на выходах измерительных преоб" раэователей 2 усилий появляется сигнал, пропорциональный воспринимаемым ими усилиям, который затеи преобразуется в...

Номер патента: 439303

Опубликовано: 15.08.1974

Авторы: Клешков, Нечаева, Павленко, Рафальсон, Цымберов, Шутов

МПК: B01D 59/44

Метки: масс, масс-спектрометр, разверткой, спектра, электростатической

...дискриминации ионов по массам,Конструкция источника ионов, работающего в не изменяющихся условиях для всех ионов, обеспечивает равные наиболее эффективные для данного источника ионов условия образования, вытягивания, формирования и ускорения ионов, а развертка масс-спектра осуществляется дополнительным специальным электродом, на который подается напряжение сканирования и расположенным в анализаторе за ускоряющим электродом источника ионов.Такая конструкция анализатора приводит к получению пучка ионов из источника одинаковой интенсивности и формы, независимо от массы исследуемого вещества, Полученный таким образом пучок ионов входит в область между ускоряющим электродом источника ионов и сканирующим электродом (электродом, определяющим...

Номер патента: 512419

Опубликовано: 30.04.1976

Авторы: Борнгардт, Ланин, Павленко, Разников, Тальрозе, Фридлянский, Шутов

МПК: G01N 27/62

Метки: высокого, масс-спектра, массы, пиков, разрешения

...автономной регистрации спектров на магнитной ленте, накопители 27, 28 на магнитной ленте, ЭВМ 29, блок 30 программного управления устройством.Устройство работает следующим образом.Анализируемое вещество вводится с помощью устройства 4 прямого ввода пробы в источник 5 ионов, ионизируется электронным ударом и в виде пучка ионов направляется в масс-анализатор 6, где происходит разложение пучка на компоненты с одинаковым отношением массы к заряду. Ионы регистрируются системой 7 регистрации ионных токов, а в массовое число определяется при этом датчиком 8 масс. Высокий вакуум в масс-анализаторе поддерживается вакуумной системой 3, управляемой от пульта 2 автоматического управления, через который по сигналу от блока 30 программного управления...

Номер патента: 1096508

Опубликовано: 07.06.1984

Авторы: Истомин, Лимонов, Масленников, Новоселов

МПК: G01M 1/12

Метки: координат, масс, массы, стенд, центра

...с одним из датчиков усилия.На фиг. 1 изображен стенд для 45 определенная массы и координат центра масс изделий; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг. 1.Стенд для определения массы и координат центра масс изделий содер жит основание 1, размещенные на нем опорную раму 2 для крепления изделия це показано) и датчики 3 усилия, установленный на основании 1 посредством оси 4 поворотный стол 5,на котором размещены датчики 3 усилия, поверочный механизм, выполненный в виде рычага 6 второго рода, опора которого содержит призму 7, закрепленную на рычаге б, и подушку 8, закрепленную на раме 2. Рычаг 6 взаимодействует с одним иэ датчиков 3 усилия посредством призмы 9, закрепленной н средней части рычага б, и подушки 10, Свободный конец рычага снабжен...