Способ определения коэффициента отражения материала

(5 РЕТЕНИ СВИДЕТЕЛЬСТВУ АВТОРС СУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ И(56) Стариков В.Д. Методы измерения на СВЧ с применением измерительной линии, М,: Сов. радио, 1972, с. 86.Тишер Ф. Техника измерений на СВЧ, М.: ГИ Ф МЛ, 1963, с. 126.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ МАТЕРИАЛА (57) Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения - повышение точности измерений коэффициента Изобретение относится к технике измерений на СВЧ, может использоваться для измерения коэффициента отражения листовых материалов в свободном пространстве и регулярных волноводах,Цель изобретения - повышение точности измерений коэффициента отражения материала, коэффициент отражения которого близок к единице.На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства, реализующего способ определения коэффициента отражения материала,Устройство содержит генератор 1 СВЧ, сферическую передающую антенну 2, первый плоский образец 3 исследуемого материала, помещенный на половине фокусного расстояния передающей антенны 2, второй плоский образец 4 исследуемого материала,отражения (КО) материала, КО которого близок к единице. Для этого колебания СВЧ-генератора 1, пройдя первый интерферометр, образованный передающей антенной 2 и образцом 3, одновременно выполняющим роль коллимэтора, проходят по образцу 4, имея плоский фронт волны и многочисленные узкие полосы пропускания, Пройдя через второй интерферометр, образованный образцами 3 и 4, к приемной антенне 5 подойдет плоский фронт волны и спектр с большим свободным спектральным интервалом, т,е. с малым числом полос. Этот сигнал поступает на индикатор 6, где производится измерение ширины отфильтрованной интерферометрэми полосы пропускания системы, с помощью которой поформуле определяется КО. 1 ил,приемную антенну 5, индикатор б, например панорамный рефлектометр.Способ определения коэффициента отражения материала реализуется следую- О" щим о.бразом.Колебания генератора 1, пройдя первый Сл) интерферометр, образованный передаю- . (Я щей антенной 2 и образцом 3, одновремен- с но выполняющим роль коллиматора, ( проходят к образцу 4, имея плоский фронт волны и многочисленные узкие полосы пропускдния. Пройдя через второй интерферометр, образованный образцами 3 и 4. к приемной антенне 5 подойдет плоский фронт волны и спектр с большим свободным спектральным интервалом (расстоянием между полосами пропускания), т.е, с малым числом полос, например одной полосой в диапазоне частот рефлектометра.1663576 Этот сигнал поступит на индикатор 6, гдеГбудет произведено измерение ширины отфильтрованной интерферометрии полосы пропускания системы, по которой будет определен коэффициент отражения по форму.- ле тдЗ д2 збирательными ысокую точность сл 30 теСоставитель Р. КузнецоваРедактор Т, Клюкина Техред М.Моргентал Корректор О. Кундр Заказ 2265 Тираж 412 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035,.Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 оизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина де Я " Х 1,2 при Х 1 л1 - коэффициент отражения по мощности:дЛ = с г- -- ) - полоса пропускания;1 111 12б и 12- частоты на уровне трех децибелл слева и справа от максимума;б - расстояние между образцами;р= = /Я - коэффициент отражения материала по напряжению;А-длина волны;с - скорость света.Система обладает исвойствами, обеспечивая визмерений.Формула изобретения Способ определения коэффициента отражения материала, заключающийся в облучении плоского образца исследуемого материала плоской электромагнитной волной с помощью передающей антенны, о т лич а ю щи й с я тем, что, с целью повышения точности измерений коэффициента отражения материала, коэффициент отражения которого близок к единице, плоский образец исследуемого материала устанавливают на расстоянии, равном половине фокусного расстояния передающей антенны. перемещают плоский, образец исследуемого мате риала вдоль оптической оси передающей антенны до получения максимального отношения сигнал/шум и минимального числа полос пропускания, затем параллельно плоскому образцу исследуемого материала на 10 расстоянии от него, равном нескольким длинам волн, устанавливают дополнительный плоский образец исследуемого материала, перемещают его вдоль оптической оси передающей антенны до получения максималь. ного отношения сигнал/шум и . минимального числа полос пропускания, измеряют ширину полосы пропускания по уровню трех децибелл и определяют коэффициент отражения материала по формуле л(дфд (дА дл 4 где Я = Х 1,2, при Х 1,21 - коэффициент отражения по мощности;25 дА = С(- -- ) - полоса пропускания;1 11 1211, 12 - частоты на уровне трех децибелл ева и справа от максимума:ре = ЧВ - коэффициент отражения мариала по.напряжению:б - расстояние между образцами; 3, - длина волны;с - скорость света.