Устройство для контроля поверхностей детали

Номер патента: 1601511

Авторы: Болдырев, Некрич, Олейников, Шумилин

ZIP архив

Текст

,БО У) С 01 В 11 Л ИТЕТРЬГИЯМ Е ИЗО СВИДЕТЕЛ РЕТЕНИЯ ПИС АВТОРСКО ю 39 Т.Г.НекричЫумили н др. Оптико-эле ые устройства. с. 136. ОНТРОЛЯ ПОВЕРХ змериприлеменосится к пользует лических ГОСУДАРСТВЕКНЫЙ КОПО ИЗОБРЯТЕИИЯЧ И ОПРИ ГКНТ СССР(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯНОСТЕЙ ДЕТАЛИ(57) Изобретение отнтельной технике и исизготовлении кристал тов. Целью изобретения является расширение номенклатуры контролируемыхповерхностей. Направляют излучениеот источника 1 через поляризатор 2,щелевую диафрагму 7 и положительнуюлинзу 6 на торцы детали 5, между поверхностями которой происходит многократное отражение излучения, На выходе из деталиулучшение проходитдвухщелевую диафрагму 8 и анализатор3 и попадает на Фотодетектор 4, приэтом в зависимости от качества отработки поверхностей детали 5 изменяется интенсивность прошедшего черездеталь 5 излучения. 1 ил.1601511 симости от качества обработки поверхностей детали 5 изменяется интенсивность прошедшего через деталь 5 излучения. В случае контроля полированных кристаллических элементов излучение выходит из детали 5, но посредством системы из двух плоских зеркал 9 и 10, предназначенных для установки вдоль контролируемой детали 5, паоаллельно общим по обе стороны от нее, отражается в деталь 5. Последующий контроль производится как и в первом случае. Формула и з о б р е т е н и я Составитель Н,ЗахаренкоТехред Л,Сердюкова Корректор С.Шевкун Редактор Л.Зайцева Заказ 3266 Тираж 1 М ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина,101 Изобретений относится к измерительной технике и используется прииЗготовлении кристаллических элементов.5Цель изобретения - расширение номенклатуры контролируемых поверхностей.На чертеже представлена схемаустройства для контроля поверхностейдетали.Устройство содержит источникизлучения и последовательно установленные по ходу излучения от источникЭполяризатор 2, анализатор 3 иФотодетектор Й, контролируемую деталь 5, положительную линзу 6, предназначенную для установки междукФнтролируемой деталью 5 и поляризатОром 2, щелевую диафрагму 7, распОложенную между линзой 6 и поляризатором 2, двухщелевую диафрагму 8,предназначенную для установки междукОнтролируемой деталью 5 и поляризатором 2, а также систему из двухплоских зеркал 9 и 10, предназначенных для установки вдоль контролируемой детали 5, параллельных образующим по обе стороны от нее.Устройство работает следующимобразом,Предварительно полируют торцы деталей 5 - кристаллических элементов,Направляют излучение от источника 1через поляризатор 2, щелевую диафрагмУ 7 и положительную линзу 6 на торцы детали 5, между поверхностями которой происходит многократное отражение излучения. На выходе из детали5 излучение проходит двухщелевуюдиафрагму 8 и анализатор 3 и попадает 0на Фотодетектор 1, при этом в зави 1. Устройство для контроля поверхностей детали, содержащее источник излучения и последовательно установленные по ходу излучения от источника поляризатор, анализатор и Фотодетектор, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения номенклатуры контролируемых поверхностей, оно снабжено положительной линзой, предназначенной для установки между контролируемой деталью и поляризатором, щелевой диафрагмой, расположенной между линзой и поляризатором, кольцевой диафрагмой, предназначенной для установки между контролируемой деталью и поляризатором.2. Устройство по и. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что оно снабжено системой из двух плоских зеркал, предназначенных для установки вдоль контролируемой детали, параллельно образующим по обе стороны от нее.

Смотреть

Заявка

4004111, 09.01.1986

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8941

ОЛЕЙНИКОВ АНАТОЛИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, НЕКРИЧ ТАТЬЯНА ГРИГОРЬЕВНА, БОЛДЫРЕВ АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ, ШУМИЛИН ВИТАЛИЙ ПЕТРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/02

Метки: детали, поверхностей

Опубликовано: 23.10.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1601511-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-poverkhnostejj-detali.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля поверхностей детали</a>

Похожие патенты