Способ измерения толщины слоев
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1580150
Авторы: Аграновский, Брандорф, Кизилов, Ямпольский
Текст
(51)5 6 01 В ПИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(71) Львовский лесотехнический институт (72) Б. А. Аграновский, В. Г. Брандорф, Ю. Н. Кизилов и Ж. А. Ямпольский (53) 531.717.11(088.8)(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий. Целью изобретения является упрощение, повышение точности измерения и производительности контроля. Способ реализуется следующим образом. Путем объединения линейных проводников 21, 22 с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают ток силой 3 . Регистрируют величину Н напряженности поля преобразователем 3 и, зная его геометрические параметры, определяют толщину контролируемого слоя. Для последовательного измерения толщины каждого из слоев изделия образуют электрический контур поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных проводников 22 и определяют контролируемую величину описанным способом.1 ил1580150 Формула изобретения Из (1) находим величину 1 г Составитель А. ЧерныхРедактор С. Патрушева Техред А. Кравчук Корректор М. ПожоЗаказ 2002 Тираж 505 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям прн ГКНТ СССР113035, Москва, Ж - 35,. Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 101 Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий.Цель изобретения - упрощение способа,повышение точности измерения и производительности контроля путем сокращения числа одновременно работающих контуров ииспользования минимального количествавспомогательного оборудования.На чертеже изображено устройство,иллюстрирующее предлагаемый способ.Устройство содержит и-слойное изделие столщинами слоев Т 1 Т Т.Между слоями и на поверхности изделий расположены линейные проводники 212,На поверхности установлен индуктивныйпреобразователь 3 поля и источник 4 тока.Конструктивный размер преобразователя 3обозначен 11, расстояния от него до линейных проводников 21 - 2 п обозначены соответственно 12,"., 1 и+1, амплитуда силы токав контуре -1,Способ реализуется следующим образом.Образуют электрический контур путемобъединения проводников 2 и 22, в которыйвключают источник 4 тока с силой тока 1.Затем регистрируют величину Н напряженности поля в месте расположения преобразователя 3 поля.Эта величина определяется уравнением 12 - (2)Э - лн ЬИз уравнения (2), зная конструктивный размер преобразователя 3, который определен заранее, находим значение 12. Из очевидного равенства определяем толщину слояТ 1 =12 11 (3) Затем образуют контур из проводни.ков 22 и 2 з, аналогично определяют толщину Тг.Для последовательного измерения толщины каждого из слоев многослойного изделия нумеруют проводники последовательно от наиболее близкого к преобразователю 3 и описанным способом определяют толщины оставшихся слоев.Предлагаемый способ измерения толщины слоев позволяет повысить точность измерения за счет отсутствия требования обеспечения синфазности токов в образуемых контурах, расширить область применения в случае, когда неизвестна заранее суммарная толщина объекта, повысить производительность контроля за счет отсутствия операции изменения тока и регистрации его измененного значения в одном из контуров пары, операции априорного определения суммарной толщины объек О та другим способом. Способ измерения толщины слоев многослойных изделий, заключающийся в том, что при изготовлении изделия между его слоями и на обеих поверхностях размещают линейные проводники так, что они находятся в одной плоскости, формируют из двух линейных проводников электрический ЗО контур, пропускают по нему переменныйток и с помощью индуктивного преобразователя, размещенного на поверхности контролируемого изделия, регистрируют значения амплитуд тока и напряженности магнитного поля, которые используют для опЗ 5 ределения толщины слоев изделия, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа, повышения точности измерения и производительности контроля, электрический контур образуют поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных проводников.
СмотретьЗаявка
4413100, 15.02.1988
ЛЬВОВСКИЙ ЛЕСОТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
АГРАНОВСКИЙ БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ, БРАНДОРФ ВИКТОР ГРИГОРЬЕВИЧ, КИЗИЛОВ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, ЯМПОЛЬСКИЙ ЖОЗЕФ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/06
Опубликовано: 23.07.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1580150-sposob-izmereniya-tolshhiny-sloev.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины слоев</a>
Предыдущий патент: Магнитный способ определения толщины покрытий на металлических изделиях и устройство для его осуществления
Следующий патент: Способ обнаружения дефектов и определения прочности соединения слоев в двухслойных изделиях
Случайный патент: Способ транспортирования жгутов в отделочной текстильной машине и устройство для его осуществления