Способ измерения диэлектрической проницаемости

(51)5 С 01 К 27/26 НОМИТЕТОТНРЫТИЯМ ТЕ 21) 4 22) 0 46) 1 71) П 511.1/24-2102,8804.90, Бюл,зенский пол 14ехнический ин иту Ротенбер А, Гантман и А.В1.317.3(088.8)териалы диэлектр372-77.рское свидет9, кл. С О 1(57) Изобретенкниям электричесбыть использоваэлектрической гловЦелью изобшение точности ережет относится к ед илк) сложно СПИСАНИЕ ИЗОБ Н Д ВТОРСИОМУ СВйДЕТЕЛЬОТ ких величин и моно для определения дироницаемости материаретения является повыи упрощение процесса Изобретение относится к измерениямэлектрических величин и может бытьиспользовано вприборостроении дляконтроля диэлектрической проницаемости материала деталей малых размерови сложной Формы.Целью изобретения является повышение точности и угрощение процесса измерения диэлектрической проницаемостиобразцов малых размеров и (нои ФормыоНа чертеже представлена установка,реализующая способ,Установка содержит электроднуюсистему 1 (на чертеже изображена двухэлектродная плоскоконденсаторная из,измерения диэлектрической проницаемос1 ти образцов малых размеров и (иги)сложной Формы, Сгособ заключается втом, что объект измерения помещаютмежду электродами измерительной конденсаторной ячейки, заполняют промежу.ток между электродами и образцом диэлектрической дисперсной средой спроницаемостью, заведомо большей проницаемости объекта измерения, уменьшают диэлектрическую проницаемостьдисперсной среды до равенства ее сдиэлектрической проницаемостью объекта измерения, Цель достигается за счетвведения дисперсной диэлектрическойсреды, обеспечения плавной регулировки диэлектрической проницаемости дисперсной средь; и Фиксации равенствадиэлектрической проницаемости дисперсной среды и объекта измерения, 1 ил. мерительная ячейка), помещенную в бункер 2, в которьй засыпается (до 0,80,9 от объема бункера) дксперсная диэлектрическая среда 3,Способ о уществляется сл ующимобразом,Предварительно в рабочий объем измерительной ячейки (между электродами) помещают объект 4 измерения. Диэлектрическая проницаемость дисперсной среды Г с берется заведомо боль"шей, чем диэлектрическая проницаемость объекта измерения. Бункерустановлен на столе 5 вибростенда,Прн воздействии вибрации плотностьдисперс Й среды изменяется: чем1557534 Составитель В. СтукаяВеселовская ТехредЛ,Сердюкова Коррек Редак ирняк За 7 16 Тираж 550 Под Государственного комитета по изобретениям и 113035, Москва, Ж, Раушская наб сно крытиям при ГКНТ СССРд. 4/5 тельскнй комбинат "Патент", г.ужгород, ул, Гагарина,иэводственнобольше амплитуда колебаний, тем меньше плотность дисперсной среды. Частоту вибрации подбирают эмпирически для каждой конкретной дисперсной сре 5 ды из требования создания равномернойЯ плотности в объеме измерительной ячейки,Таким образом, при плавном увеличении амплитуды вибрации плавно 10 уменьшается плотность диснерсной среды, а следовательно, плавно уменьшается ее диэлектрическая проницаемость, Для Фиксации момента выравнивания значенийи Я ы на том же 15 столе вибростенда установлен точно такой же второй бункер 6 аналогичной электродной системой 7 и таков же дисперсной средой, но без объекта измерения, момент выравнивания Е, 2 О и Я ц д)иксируют по равенству емкостей двух конденсаторных ячеек: с образцом и без образца. Равенство емкостей ячеек означает, что Е сравнялась с Я. 25 Размер частиц дисперсной среды берется много меньшим объекта измерения, чем обеспечивается макрооднородность диэлектрической проницаемос ти дисперсной среды, а также надежное заполнение дисперсной средой возможных полостей, отверстий, углубленийи т,п, в объектах измерения сложнойформы. Формула изобретения Способ измерения диэлектрической проницаемости, заключающийся в помещении контролируемого образца между электродами измерительной конденса" торной ячейки и измерении полученной емкости, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерения диэлектрической проницаемости образцов малых размеров и или) сложной формы, промежуток между электродами и контролируемым образцом и объем образцовой аналогичной ячейки заполняют диэлектрической дисперсной средой с проницаемостью, заведомо большей проницаемости контролируемого образца, плавно уменьшают диэлектрическую проницаемость дисперсной среды до равенства значений емкости измеритель" ной и образцовой ячеек и исходя из величины емкости образцовой ячейки определяют диэлектрическую проницае- мость