Резонансный способ дефектоскопии многослойных изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
/О 5 ао САНИЕ ИЗОБРЕТЕН 1 179/25-28гЦель издбретения - повышение информативности эа счет определения площади дефектов, Максимальную амплитуду колебаний изделия регистрируют на резонансной частоте, определяют ширину резонансной кривой на уровне амплитуды, равной половине ее максимальной величины, вычисляют декремент затухания колебаний изделия, определяют площадь дефекта по формуле, представляющей зависимость площади дефекта от параметров затухания колебаний, массогабаритных показателей и физико"механических показателей изделия, сравнивают полученные значения площади дефекта с допустимыми для данного типа иэделия и оценивают годность изделия. ол Изобретение о шающему контролю пользовано при о соединений издел слоев.Целью нзобрет шение информатив деления площади ру носится к нери может быть наружении деф й в виде упр их ния является павы ости за счет опре едопустимого дефе ЬС (4 Г 4 ш Лворую тиос итеефекта ая площадь оединении лоев;лощадь дефектинении слоев; соеГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТпО изОБРетениям и ОТНРцтиямПРИ ГКНТ СССР КОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(56) Авторское свидетельство СССР У 271863, кл. О 01 Б 29/04, 1970.Ермолов И.Н. Теория и практика ультразвукового контроля. - М,: Машиностроение 1981, с. 11.(54) РЕЗОНАНСНЫЙ СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ МНОГОСЛОЙНЫХ ИЗДЕЛИЙ(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано при обнаружении дефектов соединений многослойных изделий. В контролируемом изделии, состоящем из слоев, возбуждают акустические колебания переменной частоты дозннкновения резонанса, Регистрит резонансную кривую акустических колебаний, измеряют резонансную частоту, максимальную амплитуду на частоте р. Определяют ширину йГ резонансной кривой на уровне амплитуды колебания, равной половине максимальной амплитуды, как разность получерезонанса, Пчисляют декрбаний изделиполученного дколебаний, аи физико-мехриала слоевплощадь дефекродных слоевформуле ных частот до и послеполученным данным вымент 8 затухания коле-.Используя значения екремента Р затуханиятакже массогабаритных нических свойств мате"эделия, относительнуюта в соединении неодно"изделия определяют поЬС (4 Г 1+ К)1 -, ,.,4 шсВЕР ф где Р = лр р Ц Л 1р: ь Г - площадь соединенияслоев;Ь - толщина нижнего слоя -подложки;С - коэФфициент вязкогосопротивления нижнегослоя - пдложи;Е - модуль упругости материала нижнего слоя -подложки;ш - масса верхнего слоя;Г Юд = --- декремент затухания.б Г колебаний в изделии;- резонансная частота 15колебаний изделия; ДГ = - Г - ширина резонанснойкривой иа уровне амплитуды, равной половинеее максимальной величины при резонансе.Полученное значение площади дефекта в изделии сравнивают с допустимым, принятым для данного типа изделия, и судят о годности изделия.Способ осуществляют следующим образом.В контролируемом иэделии, состоящем из склеенных верхнего слоя и нижнего слоя - подложки, возбуждают и ЗО принимают акустические колебания переменной частоты с помощью установки, в состав которой входят стенд для размещения образца изделия и крепления возбудителя и приемника З 5 колебаний, измерительный блок, включающий генератор низкочастотных ко" лебаний, усилитель и электронно-лучевой индикатор. Испытуемый образец иэделия устанавливается на опоры 4 О стенда с зазором по отношению к преобразователям, Изгибные колебания образца возбуждаются возбудителем, питающимся от генератора, с помощью применика колебания преобразуются в 45 электрические и после усиления подаются на электронно-лучевой индикатор.В процессе определения резонансной частоты устанавливается частота генератора, при которой амплитуда колебаний образца, контролируемая поизображению на экране электронно-лучевого индикатора, имеет максимальное значение.55При колебаниях образца с максимальной амплитудой снимается значение резонансной частоты колебаний.Устанавливаются частоты Г и Г соответственно до и после резонанса,при которых амплитуда колебаний достигнет величины, равной половинемаксимальной амплитуды в момент резонанса. С использованием значения полученных частот производится вычисление декрамента У затухания колебанйй образца изделия, а затем поприведенной расчетной Формуле определяется относительная площадь недопустимого дефекта,Формула изоб ретеиия Резонансный способ дефектоскопии многослойных нзделкЪ, заключающийся в том, что в изделии возбуждают акустические колебания переменной частоты, измеряют максимальную амплитуду и частоту Г резонансных колебаний, с учетом которых определяют наличие дефектов многослойного изделия, о т " л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения информативности за счет определения площади недопустимого дефекта, дополнительно регистрируют резонансную кривую колебаний изделий, измеряют ширину д резонансной кривой на уровне амплитуцы колебаний, равной половине максимальной амплитуды, и определяют относительную площадь деФекта в соецинении слоев относительная площадьдефекта в соединениислоев;площадь дефекта в соединении слоев;площадь соединенияслоев;толщина нижнего слояподложки;коэффициент вязкогооопротивлення нижнего слоя - подложки; декремент затухания колебаний и изделий; масса верхнего слоя; модуль упругости материала нижнего слоя - подложки,
СмотретьЗаявка
4407179, 11.04.1988
СЕВЕРО-ЗАПАДНЫЙ ЗАОЧНЫЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ПОТАПОВ АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ, КУРЧАВОВА ТАТЬЯНА ПАВЛОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскопии, многослойных, резонансный
Опубликовано: 07.02.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1541500-rezonansnyjj-sposob-defektoskopii-mnogoslojjnykh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Резонансный способ дефектоскопии многослойных изделий</a>
Предыдущий патент: Вихретоковый преобразователь с аэродинамической опорой
Следующий патент: Способ ультразвукового контроля изделий
Случайный патент: Устройство для взвешивания движущихся объектов