154061

Номер патента: 85536

Опубликовано: 01.01.1950

Автор: Качкачева

МПК: G03B 27/72, G03B 33/00

Метки: излучения, плотностей, прибор, светофильтров, спектра

...В ЗЯВИСИМОСТИ ОТ ЦВЕТЯ УСТЯНЯВЛИВЯЕТСЯ ЯДИТИВНЫЙ ФИЛЬТР, ДОИОЛНЯ 10 ЩИЙ ИСПЫТУЕМЫЙ фИЛЫР, И РУЧКОЙ ПОТСНЦИОМЕТРЯ 7 УСТЯНЯВ,ВЯЕТСЯ СТРЕЛКЯ Га;ЬВЯИОМЕТРс 1 Ия произвольном деле ии. Отмстив показание гяльваиометра и убрав фильтр, вдвцгают ио направляющим 12 стандартную линейку 1) с фИ.ЬТ 1)с)И 4 Рс 1 ЗЛИЧНЫХ ПЛОТНОСТЕЙ ДО ТСХ ПОР, ПОКЯ СТРСЛКЯ ГЯ;ЬВЯ- номстря нс достигнет отмеченного положения. Прочитанная ня линейке плотность будет в точности соответствовать испытуемой.Определение плотности серых фильтров производится таким же образом, как и предыдущих, только без пр:,мснсния адитивных фильтров.Определение средней Г,Еоти)сти негативной планки Гр)Езводитс 5 В)ССТС С ПРЕДЕЕЯЗНЯЕИНЪМИ ДЛ 51 ИСс 13 ТИ СУОТ)ЯКТИВНЫМИ фи:1 ЬТРЯМИ ПУТЕМ...

Номер патента: 1278611

Опубликовано: 23.12.1986

Авторы: Бондаренко, Верховцева, Доронин

МПК: G01J 3/10

Метки: вакуумной, газов, излучения, инертных, области, спектров, ультрафиолетовой

...спектраинертного газа на которомтребуется увеличение интенПо истечении из сопла гаэ струи возбуждается электронным пучком с энергией 1 кзВ и плотностью тока " 0,2 А/смНа фиг. 2 в качестве примера для резонансных линий излучения сверхзвуковой струи аргона 1 104,8 и 106,7 нм (кривые 15 и 16), а такжемаксимума интенсивностипервого континуума" 1107,5 нм (кривая 17) представлены зависимости интенсивности 1, нормированной на плотность газа на входе в сопло 1 оот температурыогаза Т, при давлении Р =0,.98 Па,оа также средние размеры кластеров, присутствующих в струе при Ра =0,98 Па и разных температурах Т (кривая 18), Зти данные получены из 10 двумерных расчетов струйного течения газа с гомогенной конденсацией, выполненных по программе,...

Номер патента: 1052953

Опубликовано: 07.11.1983

Авторы: Астахов, Борискин, Брюханов, Гуляев, Еременко, Лялько, Манегин, Тупик

МПК: G01N 21/70

Метки: анализа, деформации, излучения, металлов, разрушении, регистрации, спектров, сплавов

...относится к устройствам сПектрального анализа, а конкрет-,.нее к устройствам регистрации спекров электромагнитного излучения (ЭМИвозникающих вследствие деФормацииразрушения и релаксации остаточныхмеханических напряжений при механи 1ческих испытаниях металлов исплавов, и Может быть использованов металловедении при Физических исисследованиях свойств металлов и сплвов, изучение параметров деформациии разрушения, при изучении люминесценции поверхностных состояний металлов,: Известно устройство для спектрального анализа ЭМИ, содержащее спектрограф и фоторегистрирующую системуи позноляет регистрировать суммарныйспектр длительного и интенсивногопроцесса ЭМИ, не разделяя во временивсе стади излучения 1).Наиболее близким к...

Номер патента: 1396899

Опубликовано: 27.01.1999

Авторы: Быковский, Иванов, Лисунов, Сенатский, Склизков

МПК: H01S 3/10

Метки: излучения, лазера, спектра, шириной

Способ управления шириной спектра излучения лазера на стеклах или смешанных кристаллах, активированных ионами редкоземельных элементов, включающий импульсное возбуждение активной среды и задержку генерации на 10 - 400 мкс, отличающийся тем, что, с целью увеличения быстродействия и расширения диапазона управления спектром, активную среду возбуждают импульсами излучения с длительностью, много меньшей временной постоянной спектральной миграции энергии возбуждения в среде, и шириной спектра, меньшей однородной ширины линии люминесценции.

Номер патента: 1534415

Опубликовано: 07.01.1990

Автор: Ивлев

МПК: G02B 5/20

Метки: излучения, спектра, углового, фильтр, фильтрации

...проекции нормалей к слоям й, и й на нижнее основание 9 составляют прямой угол.Способ осуществллетсл следующим образом.Подлежащее Фильтрации излучение 1 (фиг.1), характеризуацеесл расходимостью д 8, направляют на фильтр углового спектра. Угол паденил излучения на переднюю поверхность туннельного слол ч выбирают равным или близким со стороны больших значений к углу55 полного внутреннего отражения, равному Ю = д 1 свж Ь /и) .В связи с тем, цто поле в туннельной пленке затуха ЗА/л) 1 ББ Я характерному длл неоднородных воля,его просачивание будет заметным лишьпри значениях углов падения, близкихк углу полного внутреннего отражения,где Ь - толщина слоя //;- угол падения; п- показатель преломленияслоя; п - показатель преломления материала...