Способ выявления дислокаций

Номер патента: 1764595

Опубликовано: 30.09.1992

Автор: Еськов

МПК: A01K 47/00

Метки: выявления, оптимальной, отклонения, период, постэмбрионального, пчел, развития, температуры

...достаточно для определения под бинокулярной лупой дискоидального смещения у переднего крыла.Полученные сведения сопоставляются с измерениями дискоидального смещения у пчел из обследуемой семьи,развивавшихся в инкубаторе при 34,5+5 С. Для инкубации используют расплод, который помещают в термостат сразу же после его запечатывае р. У пчел, развивавшихся в ри оптимальной температуре зарегистрировано одинаковое ьство особей (33,3;) с полоулевым и отрицательным смеидального смещения и те иод постэмбриональногоПонижение температуры в ального диапазона стража ельном смещении сремежкубитальной ячейки по о едней. Анализ смещения и инокулярной лупой на оце настезированных пчелах ется с измерениями диско щения у особей, развивавш Мщением, У...

Номер патента: 1282096

Опубликовано: 07.01.1987

Авторы: Дубровин, Жучин, Манукян, Славин, Янков

МПК: G05D 23/19

Метки: объектах, сходными, температуры, условиями

...регулятора 6нового значения напряжения задатчика 5 температуры объекта, котороекорректирует режим работы регулятора по взаимному соответствию видараспределения температуры окружающейсреды и места расположения контролируемого объекта, оснащенного датчиком 1 температуры объекта. Регулятор6 при этом изменяет уровень мощности, подаваемой в нагреватели объектов с тем, чтобы исключить перерегу 55 Предлагаемое устройство обеспечивает повышение надежности регулирования температуры в объектах со сходными условиями, поскольку имеет только один датчик температуры объекта,лирование температуры в объектах дпяслучаев расположения контролируемогообъекта вне зоны приоритетных относительных значений температуры окру жающей среды, Компараторы 3 и...

Номер патента: 476494

Опубликовано: 05.07.1975

Автор: Дряхленков

МПК: G01N 27/46

Метки: внутренних, выявления, дефектов, диэлектриков, нем, плотности, электрографический

...с плотностью диэлектрика.Следовательно, внутри электрета образуется скрытое электростатическое изображение распределения плотности. Это изображение де(54) ЭЛЕКТРОГРАФИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПЛОТНОСТ ДИЭЛЕКТРИКОВ И ВЫЯВЛЕНИЯ ВНУТРЕННИХ ДГФЕКТОВ В НЕМсдак гор Т. Орловска 11 лаказ 2736,1 Изть Лч 880 ярак 02 о.:иисги 1 с ЦгчИИПИ Госу;арствси 11 ого ко и 1 тсг;1 Сове-.а Миииг ги;и С(ХР ио делам изогзрс 1 сии 1 и огкр 1,1 ги Москва, Ж-:Й, Ра,;.,ка 1 гагз., и0ииограгиии, ир (.,и и 1111 а,лается видимым после напыления и; и,1;1 сгцц тоцкоразчель 1 сццого порошка крдс 51 тсл 51, которому предварцтсл 1 цо сообщается электрический заряд прОтивополоокцого знака, причеч количество прилипшего порошка тем больше, чем выше концентрация заряда на...

Номер патента: 1682831

Опубликовано: 07.10.1991

Авторы: Гайский, Клименко

МПК: G01K 15/00

Метки: градуировки, датчиков, коэффициентом, переменным, погонным, распределенных, температуры, чувствительности

...высокоточ ный прибор, например серийный цифровой вольтомметр типа Ш 387. В качестве процессора 9 целесообразно использование микроЭВМ, например типа "Электроникака", 40Рассмотрим сущность предлагаемого , способа градуиравки.Имеющаяся в известном способе процедура контроля, измерения и учета в вычислениях разности температур 01 - а 2 в 45 термостатах в предлагаемом способе упрощена путем использования образцового распреде,пеннаго однородного (немадулированнаго) датчика температуры, сдвигаемого одновременно с РМД в процессе формирования градуировочных профилей,Для сопротивления абразцавога распределенного однородного датчика (РОД) емпературы можно записать где ао = сопз 1 - известная погонная функция термочувствительности;гоо -...

Номер патента: 693181

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Герценштейн, Казачков, Казачкова, Каринский

МПК: G01N 21/46

Метки: коэффициентов, оптических, плотности, преломления

...насканисторе) первого импульса от нулевого- порядка не зависит ни от параметровисследуемого вещества, ни от особенностей ультразвуковой дифракционнэй решетки, а его амплитуда 0 определяется как оптической плотностью исследуемого вещества, так и влиянием ультразвуковой дифракционной решетки.Временное положение и амплитуда 0второго импульса от первого порядка дифракции зависит от оптических свойстввещества и параметров ультразвуковойдифракционной решетки.Следовательно, ца выходе устрэйстваможет быть зарегистрирована вмичина:рт,где 6 -коэффициент учитывающий час 81 4тэту ультразвуковых колебаний и параметры электронной схемы;- временной интервал междуположениями импульсов, соответствующихдифракционным пучкам нулевого и...