Устройство для контроля качества термообработки

Номер патента: 1778667

Опубликовано: 30.11.1992

Авторы: Литвинов, Парков

МПК: G01N 27/80

Метки: качества, неразрушающего, термообработки

...параметров контроля НП 1 и Нп 2 от твердости деталей из стали 38 ХС; на фиг, 7 - результаты разделения контролируемых деталей с помощью данного устройства,Устройство содержит последовательно соединенные источник 1 намагничивающего поля, намагничивающий соленоид 2, резистор 3, а также последовательно соединенные измерительную катушку 4, интегродифференцирующее звено 5, компаратор 6 и блок 7 выборки и хранения, двухкоординатный пороговый блок 8, регистратор 9, и включенные между измерительной катушкой 4 и первым входом порогового блока последовательчо соединенные дополнительные интегродифференцирующее звено 10, компаратор 11 и блок 12 выборки и хранения.Устройство работает следующим образом.Источник 1 подает на соленоид 2...

Номер патента: 1392483

Опубликовано: 30.04.1988

Авторы: Батухтина, Горкунов, Татлыбаева

МПК: G01N 27/80

Метки: качества, термообработки

...выдержки, преимущественно в кони выдержки, т,е. перед охлдждением изделия, производят измерение намагниченности изделия и по нему определяют качество проведенного отпуска и годность изделия,Л р и м е р, Исследовались образцы стали ЗОХРА, имеющие форму цилиндрического стержня диаметром 8,2 мм и длиной 81,2 мм. Леред закалкой образцы выдерживались при различных температурах (от 630 до 920"С) в течение 15 мин в печи СУОЛ - 044,12 М У 42, Закалка производилась погружением изделий в масло комнатной температуры, Намагничивание изделий в процессе закалки осуществлялось с помощью соленоида, помещенного в закалочную ванну и создающего магнитное поле напряженностью 280 А/см. Измерение намагниченности производили с помощью феррозондового...

Номер патента: 1527562

Опубликовано: 07.12.1989

Авторы: Зырянова, Литвинов, Немков, Парков

МПК: G01N 27/80

Метки: качества, неразрушающего, термообработки

...1 подает на соленоид 2 линейно возрастающий ток 1 (фиг,За), в котором происходит перемагничивание контролируемой детали из состояния остаточной намагниченности. При этом в измерительной катушке 4 возникает сигнал Бн (фи".Зб), пропорциональный магнитной проницаемости контролируемой детали, расположенной в соленоиде 2 (не показана). Сигнал С поступает на вход интегро-дифференцирующего звена 6, которое дифференцирует весь измерительный сигнал 11 и, если передаточная характеристика ИДЭ имеет вид кривой 1 (фиг.2 б) илн дифференцирует только низкочастотную цасть сигнала Ц,если передаточная ха рактеристика ИДЭ имеет вид кривой 2 (фиг .2 б), Соответствующие выходные сигналы Б/й и Ь ИДЭ приведе 5 1 О 5 20 25 30 35 40 рение момента...

Номер патента: 72825

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Сахаров

МПК: G01N 27/72, G01R 33/12

Метки: качества, прибор, термообработки

...по изделиям, имеющим в изломе структуру металла, отвечающую техническим условиям,На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства прибора, на фиг. 2 - электрическая схема включения прибора.Прибор состоит из катушек: намагничивающей 1, имеюшей 1000 витков из проволоки диаметром 0,43 .1 ьи и размагничивающей 2, имею. щей 600 витков той же проволоки, трубки 3, по которой движется через магнитные поля катушек сердечник 4, компасного индикатора 5, вольтметра б и переключателя 7.Электрическая схема включения прибора состоиттрансформатора 9, реостата 10, компасного индикато11 на 5,5 вольт, купроксных выпрямителей 12, намагнички 1 и размагничивающей катушки 2. Катушки 1 и 2дятся под током.Испытуемый сердечник 4, пройдя магнитное поле...

Номер патента: 1103121

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Бараш, Коган

МПК: G01N 21/41

Метки: качества, пленок, термообработки, фоторезиста

...полимера, а следовательно, и точностьконтроля,Целью изобретения является повышение точности контроля,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу контролякачества термообработки пленок фоторезиста, включающему регистрацию ианализ спектра пропускания пленкойэлектромагнитного излучения, преимущественно инфракрасного, регистрируют интерференционную картину вспектре пропускания пленки фоторезиста, сравнивают ее с интерференционной картиной в спектре пропускания эталонного образца и по фазовомусдвигу и изменению интенсивностив интерференционных максимумах иминимумах определяют качество термообработки пленки фоторезиста.Регистрировать интерференционнуюкартину в спектре контролируемойпленкифоторезиста можно или в проходящем...