Микроскоп для контроля соосности

Номер патента: 145776

Авторы: Григорьев, Решетнев

ZIP архив

Текст

Класс 42 Ь, 14 М 0 145776 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУПодписная группа Лг 0 171". И. А. Григорьев и С. Д. Решетнев МИКРОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ СООСНОСТИЗаявлено 4 апреля 1961 г. за Уе 726148/26-10 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРОпубликовано в Бюллетене изобретений .м 6 за 1962 г. Известные (например, из руководства по юстировке прибора ИАБ) микроскопы для контроля соосности, например соосности отверстий изделий типа карданного подвеса, обладают низкой чувствительностью, т. е. не обеспечивают получения необходимой точности.Предложенный микроскоп лишен указанного недостатка, Сущность изобретения заключается в том, что в микроскопе в качестве центрирующих элементов применены зеркальные шаровые поверхности, При этом обычный микроскоп заменен автоколимационным микроскопом.На чертеже схематично изображен предложенный микроскоп.Микроскоп состоит из осветителя 1, пластины 2 с перекрытием, полупрозрачной пластины 3, окуляр-микрометра 4 и объектива 5.Принцип измерения соосности отверстий изделия заключается в использовании отражательных своиств зеркальных сферических поверхностей и свойств специального микроскопа. Пластина 2 с перекрестием помещается в фокальной плоскости окуляр-микрометра 4. При освещении пластины 2 осветителем 1 перекрытие пластины видно в объективе в виде светящегося креста. С помощью специальной призменной насадки 6, помещаемой перед объективом 5, пучок лучей, выходящий из объектива микроскопа, преломляется под углом 90 и разделяется на два пучка, образуя угол 180 между собой. При этом оба пучка лежат на одной линии.На этой линии находятся два изображения светящегося креста, создаваемые объективом, В отверстия а контролируемого изделия 7 вставляются шарики 8, Перемещением изделия центр одного из шариков совмещают с первым изображением светящегося креста, что проверяется по совпадению автоколлимационного изображения этого креста с перекрестием окуляра. После этого перемещением изделия параллельно базовой плоскости совмещают центр шарика, установлен14577 б ного во втором отверстии, со вторым изображением креста. По расстоянию между автоколлимационным изображением креста и горизонтальной линией перекрестия окуляра измеряют расстояние между осями отверстий,Возможно и последовательное совмещение центров двух шариков с одним изображением креста, если поворачивать изделие с помощью делительной головки.Отличительной чертой предложенного микроскопа является повышение его чувствительности по сравнению с аналогичными известными микроскопами в два раза,Предмет изобретения б 7 Соегавитель А, П. Бидевки Редактор Л, М, Гридчии ед Т. П. Курилко Корректор С. Ю. Цверии Формат б Тираж елам изобретений и сква, Центр, М. Чеи 70 К 1081/1 е 60 ткрытии при Сов асский пер., д. 2 Типография ЦБТИ, Москва, Петровка, 14. Микроскоп для контроля соосности, например соосности отверстий. изделий типа карданного подвеса, отл и ч а ющи йся тем, что в нем, с целью повышения чувствительности, применены зеркальные шаровые поверхности, играющие роль центрирующих элементов, а обычными микроскоп заменен автоколлимационным микроскопом.

Смотреть

Заявка

725148, 04.04.1961

Григорьев И. А, Решетнев С. Д

МПК / Метки

МПК: G01B 11/26, G02B 21/36

Метки: микроскоп, соосности

Опубликовано: 01.01.1962

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-145776-mikroskop-dlya-kontrolya-soosnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Микроскоп для контроля соосности</a>

Похожие патенты