Способ измерения толщины листовых материалов

Номер патента: 144995

Авторы: Верещагин, Эстерзон

ZIP архив

Текст

Ло 144995 Класс 42 Ь, 11ссср ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Подписная группа Лв 164 Ю. Я. Эстерзон и Л. А. ВерещагинСПОСОБ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВЫХ МАТЕРИАЛОВЗаявлено 4 ноября 1959 г. за Ме 643068/25 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРОпубликовано в Бюллетене изобретений М 4 за 1962 г.Известны способы для измерения толщины листовых материалов, в которых применяется летучий микрометр (см например авт, св.112988 по кл. 42 Ь, 11).Недостатком этих способов является низкая точность измерений, так как в них на результат измерений влияют износ валков, температурная и упругая деформации, а также имеет место запаздывание в измерении.Предложенный способ лишен указанного недостатка. Сущность изобретения заключается в том, что в способе сигналы летучего микрометра и датчика раствора валков автоматически сравниваются, причем сигнал датчика задерживается в блоке задержки на время перемещения к летучему микрометру измеряемого участка. Благодаря этому сигнал на выходе суммирующего элемента является пропорциональным толщине ленты в момент прокатки.На чертеже изображена схема для осуществления указанного способа.Устройство состоит из измерителя 1, определяющего толщину ленты косвенным способом, летучего микрометра 2, блока 3 задержки, суммирующих элементов 4 и 5, блока б, определяющего время запаздывания измерения летучим микрометром в зависимости от сигнала датчика 7 скорости.Работа устройства происходит следующим образом. Сигнал измерителя, равный сумме действительного значения толщины участка ленты 8, находящегося в данный момент между валками 9, и значения погрешности измерения косвенным способом, поступает в блок 3 задержки.Время задержки равно времени, за которое измеряемый участок ленты переместится на расстоя;:пе а и будет измерен летучим микрометром. На суммирующий элемент 8 (элемент сравнения) поступают сигналы, пропорциональные результатам измерения одного и того же участка ленты косвенным и непосредственным способами. Разность этих сигналов, равная значению погрешности измерення косвенным способом, вычитается в суммирующем элементе 5 из сигнала измерителя 1,144995 Благодаря тому, что сигнал летучего микрометра пропорционален действительной толщине ленты а погрешность измерения косвенным способом является величиной медленно меняющейся, сигнал на выходе суммирующего элемента 5 пропорционален значению толщины ленты в момент прокатки.Время задержки, зависяшее от скорости прокатки и расстояния а, на котором установлен летучий микрометр 2, определяется в блоке б по данным датчика 7 скорости и вводится в блок 3 задержки.Отличительной чертой предложенного способа является то, что в нем результат косвенного измерения толщины ленты непрерывно и автоматически корректируется на величину разности между результатом измерения летучим микрометром и результатом измерения этого же участка ленты косвенным способом. Составитель А. П, Бидевкин Техред А. А, Кудрявицкая Корректо едактор Н, С. КутафинПоди. к печак 1224 мат Тир ТИ при Комитете по д при Совете М Москва, Центр, М.от 2/6 ЦБТ Комитета по делам изобретений и открытинистров СССР, Москва, Петровка. 14. ипографпр пете Предмет изобретенияСпособ для измерения толщины листовых материалов с применением летучего микрометра, отл и ч а ющи й с я тем, что, с целью увеличения точности измерений, сигнал летучего микрометра и сигнал датчика раствора валков, задерживаемый в блоке задержки на время перемещения измеряемого участка к летучему микрометру, автоматически сравниваются, благодаря чему сигнал на выходе суммируюпего элемента пропорционален толщине ленты в момент прокатки.

Смотреть

Заявка

643068, 04.11.1959

Верещагин Л. А, Эстерзон Ю. Я

МПК / Метки

МПК: G01B 3/18, G01B 5/06, G01D 5/14

Метки: листовых, толщины

Опубликовано: 01.01.1962

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-144995-sposob-izmereniya-tolshhiny-listovykh-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины листовых материалов</a>

Похожие патенты