Оптический микрометр
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 139083
Автор: Грейм
Текст
139083 Класс 42 с, 5,; СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРК АВТОРСКОМУ СВИЛЕ ВУ Подписная группа1 бб А. ГреймИЙ МИКРОМЕТР ТИ явлено 14 апреля 1960 г, за662986/25 в и открытий при Совете Мимитет по делам изобретенийтров СССР ликоваио в Бюллетене изобретений12 за 1961 Известны оптические микрометры, выполпа, содержащие оптический микрометр пешкал, Однако точность отсчета таких мирромВ описываемом оптичеоком микрометреотсчета в .плоскость изображвния шкал первидена дополнительная шкала в 11 оричного развезаний производится путем смещения изобрасительно вторых.На фиг. 1 изображена схема микрометра; на фиг, 2 - поле зрения. ненные в виде микроскорвичного развертывания етров недостаточна.для повышения точности чного развертывания ввертывания, и отсчет покажений,первых шкал отноОптический микрометр состоит из конденсатора 1, подвижной пласпинни 2, на которой нанесена основная шкала 3 первичного развертывания, неподвижной пластинки 4, на которой нанесены д 1 ополнительная шкала первичного развертывания, являющаяся оценочной для шкалы 3 и выполненная в виде штриха б, и основная шкала б вторичного развертывания, зеркала 7, поворачивающегося при вращении маховичка 8, сетки 9 с нанесенной на ней дополнительной шкалой вторичного развертывания, оценочной для шкалы б и выполненной в виде крестика 10, объектива 11 и окуляра 12, Дополнительная шкала-крестик 10 находится вплоскости изображения шкал 3 иб. Поле 13 зрения делится пополам и в нем создается двойное, изображение с различными увеличениями для шкалы 3 и шкал б и б,при помощи полулинзы 14,Основная шкала б и,дополнительная шкала-крестик 10 служат для увеличения масштаба отсчета шкал 3 и б первичного развертывания, благодаря чему оказываетоя возможным растянуть на всю длину шкалы б о 1 дно деление шкалы 3. Это основано на том, что при наклоне оптической системы микрометра, кроме переносного движения изображений шкал 3 и б, наблюдаемых под разным увеличением, происходит их относительный сдвиг, величина которого определяется разностью увеличения изображений, и наоборот. Поэтому, используя значительное переносное перемещение изображений шкал 3 и б, является возможным измерять по нему их малое относительное смещение. Следует отметить, что общий масштаб отсчета равен произведению масштабов первичного и вторичного развертываний.139083 Предмет изобретенияОптический микрометр, выполненный в виде отсчетного микроскопа, содержащий оптический микрометр первичного развертывания шкал, отличающийся тем, что, с целью повышения точности отсчета,;в плоскость изображения шкал первичного развертывания введена дополнительная шкала вторичного развертывания, и отсчет показаний производится путем смещения изображений первых шкал относительно втдрых. щсвегп 8,2 Лфиг 2 актор А. И. Дышельман ехред Т. П. Курилк ектор С. Цверина 70 С 108/и О650изобретений и открытв СССРсский пер., д. 2/6 одп. к печ. 17 Х 1.61 г.ак. 6212ЦБТИ и бъем 0,18 изд, л Цена 4 коп формат бумТираж и Комитете по делам при Совете Министр сква, Центр, М. Черк пография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Петровка, 14. Для устранения сдвига изображений шкал 3 и б необходимо сместить шкалу 3. Поэтому при проведении измерений после установки шкалы 8 на определяемый размер зеркало 7 поворачивается до тех пор пока штрих 5 не совместится с ближайшим к нему штрихом 15 шкалы 3, после чего производится отсчет.Описываемый микрометр позволяет производить совмещение изображений с высокой точностью, применяя нониальный или биссекториальный способы, исключить ошибки, связанные со смещением измерительного средства относительно:измеряемого объекта и с наличием механических,систем; устранить ряд других ошибок, производить .измерения путем снятия одного отсчета, снизить требования к точности изготовления шкал вторичного развертывания и иметь сравнительно небольшое увеличение оптической системы (порядка 20 - ЗО).
СмотретьЗаявка
662986, 14.04.1960
Грейм И. А
МПК / Метки
МПК: G01D 13/10, G02B 27/34
Метки: микрометр, оптический
Опубликовано: 01.01.1961
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-139083-opticheskijj-mikrometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Оптический микрометр</a>
Предыдущий патент: Автоколлимационная установка для контроля асферических поверхностей
Следующий патент: Геодезический нивелир-автомат на сельсинах
Случайный патент: Патрон к токарному станку для изготовления фасонных ножей к деревообрабатывающим станкам