Способ измерения слабых магнитных полей
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 139006
Авторы: Коноваленко, Косяков, Меркурьев, Сердюк
Текст
КлассЯ е, 12139006 ссс ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУодгггггкил аргггггга Лв Аэ А. С. Сердюк, В. А. Коноваленко, А. А. Косяков и Е. Н. Меркурьев СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СЛАБЫХ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙявлено 26 октября 960 г. за Мя 683444/24 в Комитет по делам изобрегений и открыгпй при Совете Министров СС( Р публиковано и Бюллетене изобретенийъ Ла г 2 за 1961 г. ения редмет и слабых магнитных полей, основанный для электронов, перемещающихся однородного магнитного поля, отли повышения чувствительности измерен гх электронов используют вещество, и Способ измерения ненни эффекта Холл при наличии внешнег с я тем, что, с целью стве источника быстр р-лучи. на приме- в вакууме ающийй, в каче- лучающее Известны способы измерения слабых магнитных полей, основанные на применении эффекта Холла для электронов, перемещающихся в вакууме при наличии внешнего однородного магнитного поля, Однако такие способы недостаточно чувствительны.В описываемом способе для повышения чувствительности измерений в качестве источника быстрых электронов используют вещество, излучающее р-лучи.На схематическом чертеже изображено устройство для измерения слабых магнитных полей.Способ измерения слабых магнитных полей состоит в том, что в контейнер 1, соприкасающийся со стенкой 2 вакуумной колбы 3, помещают вещество 4, излучающее р-лучи и являющееся источником быстрых электронов, При взаимодействии электронного потока в вакууме с внешним магнитным полем на электродах 5 и б, находящих"я внутри колбы 3, возникает э. д. с, Холла,После того, как напряженность электрического поля, возникшего внутри колбы 3, определена расчетным путем по известным соогношениям получают величину измеряемого слабого магнитного поля.Описываемый способ позволяет упростить конструкцию измерительных устрой:тв и повысить их чувствительность, а также значительно увеличить точность определения напряженности сверхслабых магнитных полей.Формат Тира ЦБТИ при Комитете по д при Совете Москва, Центр, М. Ч Типография ЦБТИ Комитета п при Совете Министров С
СмотретьЗаявка
683444, 26.10.1960
Коноваленко В. А, Косяков А. А, Меркурьев Е. Н, Сердюк А. С
МПК / Метки
МПК: G01R 33/06
Метки: магнитных, полей, слабых
Опубликовано: 01.01.1961
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-139006-sposob-izmereniya-slabykh-magnitnykh-polejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения слабых магнитных полей</a>
Предыдущий патент: Автомат для разбраковки ферритовых плат
Следующий патент: Способ обнаружения участка с однофазным замыканием на землю в распределительных сетях высокого напряжения с изолированной нейтралью
Случайный патент: Устройство для испытаний реле на срок службы