Контрольный образец для магнитной дефектоскопии

Номер патента: 1388777

Авторы: Давыдков, Новиков, Шарова

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 19) И Н 2 50 4 Фиг. 1 ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ(56) Авторское свидетельство СССРУ 1201671, кл.С 01 В 7/06, 1985.Авторское свидетельство СССРИ 1 741136, кл.С 01 В 27/82, 1980.(54) КОНТРОЛЪНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может бытьиспользовано для магнитографической дефектоскопии качества изделий изферромагнитных материалов. Цельюизобретения является расширение функциональных возможностей контрольныхобразцов. Цель достигается тем, чтоконтрольный образец выполнен из планок 1 переменного сечения, соединен"ных сварным швом 2 также переменного сечения с монотонно изменяющимся радиусом кривизны Й. С обратнойстороны планок выполнен искусственный дефект 3 переменного сечения.Оценку качества сварного шва ведутпутем сравнения сигнала, полученногос контрольного образца, и изделия,в том месте, где толщина образца иизделия одинаковы. 1 з.п. ф-лы,2 ил.1388777 Составитель А.БодровТехредА.Кравчук Корректор Н,Король актер Э.Слиган Заказ 1574/ 5 Тираж 847ВНИИПИ Государственного копо.делам изобретений и о 13035, Москва, 3-35, Раушска Подписноетета СССРрытийнаб д. 4/5 Проектная оиэводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть исполь; зовано для контроля и настройки аппаратуры магнитной и магнитографической дефектоскопии.Целью изобретения является расширение функциональных. возможностей за счет расширения диапазона имитируемых толщин изделий и размеров имитируемых дефектов.На фиг, схематически изображен контрольный образец, общий вид; на фиг.2 " то же, сечение в плоскости симметрииаКонтрольный образец содержит планки 1, соединенные сварным швом 2, и искусственный дефект 3. Разность между радиусом кривизны валика усиления сварного шва и толщины и планки в сечениях, нормальных к оси шва, изменяется монотонно и линейно связана соотношением К= К6 где К - коэффициент пропорциональности, зависящий от толщины контролируемого металла. Искусственный дефект 3 Ь 6 также монотонно изменяется в соответствии с изменением толщины планки и радиуса кривизны сварного шва, Причем большему значению радиуса кривизны сварного шва соответствует и большее значение сечения планки и искусственного дефекта.При контроле качества сварного 5шва сигнал, обусловленный дефектом,снятый с контрольного образца в месте, где толщина образца и изделияодинаковая, сравнивают с сигналом,полученным с изделия. В результатесравнения определяют качество сварного шва. Формула и э о б р е т е н и я 151. Контрольный образец для магнитной дефектоскопии, содержащий планки, соединенные сварным швом переменного сечения с монотонно изменяющейся величиной разности радиуса криви эны и высоты усиления шва, и деФектв корне шва по его длине, о т л и -ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюрасширения функциональных воэможностей, планки выполнены переменного 25 сечения с монотонно изменяющейсявеличиной сечения, пропорциональнойрадиусу кривизны шва.2. Образец по и.1, о т л и ч а -ю щ и й с я тем, что дефект вы полнен переменного сечения, изменяющегося пропорционально изменениютолщины планок.

Смотреть

Заявка

4153101, 17.10.1986

МОГИЛЕВСКИЙ МАШИНОСТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ

ШАРОВА АЛЕКСАНДРА МИХАЙЛОВНА, ДАВЫДКОВ АЛЕКСЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, НОВИКОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/85

Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец

Опубликовано: 15.04.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1388777-kontrolnyjj-obrazec-dlya-magnitnojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Контрольный образец для магнитной дефектоскопии</a>

Похожие патенты