Устройство коррекции диаграммы направленности апертурной антенны

Номер патента: 1337954

Автор: Ямпольский

ZIP архив

Текст

(19) 111) 151) 4 Н 01 0 15/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ 2 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(54) УСТРОЙСТВО КОРРЕКЦИИ ДИАГРАММЫНАПРАВЛЕННОСТИ АПЕРТУРНОЙ АНТЕННЫ(57) Изобретение обеспечивает формирование ненулевого минимума поля между основным и первым боковым лепестками ДН в вертик. плоскости. Устр-.во содержит апертурную антенну 2 идиэл. линзу (ДЛ) 1, установленнуюв ее раскрыве. ДЛ 1 имеет толщину,определяемую соотношением С(х)Т,(Сов у(х/Ь) +1), где Ь - вертик,размер апертуры;= 2 9 Г /2 Ф Т1; Р - относительная глубинаминимума;- коэф., равный 610, Благодаря такому выполнению ДЛ1 падающая на нее плоская электромагнитная вопна, сформированная апертурной антенной 2, приобертает фазовуюмодуляцию вдоль координаты Х по закону (х) = 2 Р, Соя(х/Ь), В результате скорректированная ДН апертурнойантенны 2 в дальней зоне имеет ненулевой минимум поля между основным ипервым боковым лепестками, что повышает устойчивость работы системы сфсвязи. 1 ил,1337954 На выходе диэлектрической линзы 1электромагнитная волна приобретаетфаэовую модуляцию вдоль координаты хпо закону Изобретение относится к антеннойтехнике и может быть использовано в х сов-Ч (х) = 2 Р Формула изобретения Устройство коррекции диаграммынаправленности апертурной антенныработает следующим образом,На диэлектрическую линзу 1 падает плоская электромагнитная волна, формируемая апертурной антенной 2, Диэлектрическая линза 1 имеет толщинуопределяемую из соотношенияс(х) = 1,(соя- + 1),25 гдеЕ -35 Г мнн Со ст авит ель В, Хандамиро в Редактор А,Огар Техред В.Кадар Корректор А Тяско Заказ 4136/50 Тираж 625 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Производственно-полиграФическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 системах связи.Цель изобретения - формирование5ненулевого минимума поля между основным и первым боковым лепестками диаграммы направленности в вертикальнойплоскости,На чертеже представлена структурная схема устройства коррекции диаграммы направленности апертурной антенны.Устройство коррекции диаграммынаправленности апертурной антенны 15содержит диэлектрическую линзу 1, установленную в раскрыве апертурнойантенны 2,2 Р мн н /24диэлектрическая проницаемость материала диэлектрической линзырабочая длина волны;вертикальная координата вдоль апертуры;вертикальный размер аперуры; коэффициент, равный 6-10; относительная глубина миниму ма. в результате скорректированнаядиаграмма направленности апертурнойантенны 2 в дальней зоне имеет ненулевой минимум поля между основнымлепестком и первым боковым лепестком,что повышает устойчивость работы системы связи, использующих апертурныеантенны со скорректированной диаграммой направленности,Устройство коррекции диаграммы на-,правленности апертурной антенны, содержащее диэлектрическую линзу, установленную в раскрыве апертурной антенны, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что с целью формирования ненулевого минимумаполя междуосновным ипервым боковымлепестками диаграммынаправленности в вертикальной плоскости,толщина С диэлектрической линзы выбрана из соотношенияхг(х) = С,(Сов - + ),де -, = 2 Р 1 г",(Г);Е - диэлектрическая проницаемостьматериала;рабочая длина волных - вертикальная координата вдольапертуры;1. - вертикальный размер апертуры;коэффициент, равный 6-10;Г - относительная глубина минимума.

Смотреть

Заявка

3913357, 04.07.1985

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-7306

ЯМПОЛЬСКИЙ ВСЕВОЛОД ГРИГОРЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: H01Q 15/00

Метки: антенны, апертурной, диаграммы, коррекции, направленности

Опубликовано: 15.09.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1337954-ustrojjstvo-korrekcii-diagrammy-napravlennosti-aperturnojj-antenny.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство коррекции диаграммы направленности апертурной антенны</a>

Похожие патенты