Способ контроля качества линз и объективов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1337653
Автор: Гусев
Текст
) И 1) 1)4 С 01 В 9/02 РЕТЕНИЯ ПИСА инм ение относится к нтпр ва линзия являти путем виг ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ЛИНЗ ИОБЪЕКТИВОВ(57) Изобретко рольно-измерительнои технике назначено для контроля качес и объективов. Целью изобрете ется повышение чувствительно устранения влияния величины исследуемого объекта на частоту интерференционных полос. Фиксируют нарегистрирующей среде спекл-структурупрошедшего через объект излучения.После смещения объекта в его плоскости, параллельной плоскости регистрирующей среды, на величину а регистрирующую среду смещают на величину Ь,определенную из соотношения Ь=а 1/Г,где Г - фокусное расстояние исследуемого объекта; 1 - расстояние от объекта до регистрирующей средь 1, выбравнаправление смещения регистрирующейсреды в зависимости от фокусирующихсвойств объекта, фиксируют на регистрирующей среде спекл-структуру,фильтрацией в Фурье-плоскости спеклинтерферограммы получают интерференционную картину, по которой судят окачестве исследуемого объекта,формула изобретения Составитель В,БахтинРеддктор Н.Горват Техред И.Ходанич Корректор Л.Бескид Заказ 4117/35 Тираж 676 ПодписноеВВНИП 1 Государственного комитета СССРпо делдм изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5 Произв п.твенно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4 1113Изобретение относится к измерительной технике и предназначено дляконтроля качества линз и объективов,Целью изобретения является повышение чувствительности путем устранения влияния величины сдвига контролируемого объекта на чистоту ицтерференционных полос.Способ осуществляют следующим образом.Освещают объект пучком когерентного рассеянного излучения и спеклструктуру прошедшего через объектизлучения фиксируют на регистрируемойсрегге, Смещают исследуемый объект него плоскости, параллельной плоскости регистрирующей среды, цд величинуа, После этого смещают регистрирующую среду нд величину Ь, определяемуюсоотношенисмЬ=а г,где Т - величина Фокусного расстояния исследуемого объекта;1 - расстояние от исследуемогообъекта до регистрирующейсреды.Направление смещения выбирают взависимости от Фокусирующих свойствобъекта для объектов с отрицательнымзнаком направление смещения регистрирующей среды одинаково с направлением смещения объекта, а для объектовс положительным знаком напранлециясмещений противоположны. После этогоповторно Фиксируют на регистрирующейсреде спекл-структуру прошедшего через объект излучения. Восстанавливаютзапись путем фильтрации спекл-интер 76) 1Ферогрдммы ) Фурье-ц оскцгтц ц цовучают нцтерферецццонную картину, покоторой судят о качестве исследуемого объекта,5 Способ контроля качества линз иобъективон, заключающийся н том, чтоосвещают исследуемый объект когерентным рассеянным излучением, фиксируютна регистрирующей среде спекл-структуру, смещают исследуемый объект в15 его плоскости параллельно плоскостирегистрирующей среды, повторно фиксируют на регистрирующую среду спеклструктуру и получают интерференционцую картину, по которой судят о качеО стве объекта, о т л и ч а ю щ и й -с я тем, что, с целью повьппения чувствительности контроля, перед повторным фиксированием спекл-структурысмещают регистрирующую среду в ее5 плоскости на величину Ъ, удовлетворяющую условиюЬ=а /Г,где а - величина смещения исследуемого объекта,ЭО Г - величина его фокусного расстояния,1 - расстояние от исследуемогообъекта до регистрирующейсреды,35направление смещения выбирают в зависимости от фокусирующих свойств объекта, а интерференционную картинуполучают путем фильтрации спекл-инерферограммы в Фурье-плоскости.
СмотретьЗаявка
4020871, 12.02.1986
СИБИРСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. В. Д. КУЗНЕЦОВА ПРИ ТОМСКОМ ГОСУДАРСТВЕННОМ УНИВЕРСИТЕТЕ ИМ. В. В. КУЙБЫШЕВА
ГУСЕВ ВЛАДИМИР ГЕОРГИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/021
Метки: качества, линз, объективов
Опубликовано: 15.09.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1337653-sposob-kontrolya-kachestva-linz-i-obektivov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества линз и объективов</a>
Предыдущий патент: Оптический микроволноводный интерферометр
Следующий патент: Способ измерения профиля выпуклых оптических поверхностей вращения
Случайный патент: Уплотняющее устройство для уплот-нения вала