Устройство для измерения диаметров субмикронных волокон
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
)4 С 01 В 11/1 ЕТЕНИ элементы 4 и 5, о импульс фототока, рмацию о диаметре бразуют его. несет ин торыйлокна 8. 2 ил.Юих. ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ ВТОРСКСМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(71) Всесоюзный заочный институт текстильной и легкой промьппленности (72) А.Н.Волгин и Л.К.Таточенко (53) 531.15.27(088.8)(5 б) Патент США Нф 4074938, кл. С 01 В 11/10, 1980.Авторское свидетельство СССР У 1017919, кл. С 01 В 11/10, 1981.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРОВ СУБМИКРОННЫХ ВОЛОКОН(57) Изобретение относится к измерительной технике и мо:кет быть использовано, и частности для измерения диаметров субмикронных волокон в процессе производства. Цель иэобретенияповыщение точности измерения эа счет увеличения крутизны зависимости между выходным сигналом и диаметром волокна. Источник 1 коллимированного излучения направляет луч на сканирующеезеркало 2, находящееся в Фокусе линзы З,которая Фокусирует его далее в об" ласти измерения в пятно с диаметром, заведомо большовы диаметра волокна 8, при этом луч сканирует в плоскости прямоугольных щелей фотоэлементов 4 и 5, установленных так, что их светочувствительные слои обращены навстречу и параллельно друг другу. Рассеянный волокном 8 свет попадает на Фо13220 Формула из обре тения аж 677 Подписное ВНИИПИ Заказ 2853/36 рован.-полигр, пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности для измерения диаметров субмикронных волокон в процессе производства. 5Цель изобретения - повышение точности измерения за счет увеличения крутизны зависимости между выходным сигналом и диаметром волокна.На фиг.1 изображена принципиальная 1 О схема устройства для измерения диаметров субмикронных волокон, на Фиг.2 - вид А на Фиг,1.Устройство содержит источник 1 коллимированного излучения и располо женные по коду излучения сканирующее зеркало 2, линзу 3 и фотоприемник, состоящий из двух фотоэлементов 4 и 5 с прямоугольной щелью. в центре каждого, установленных так, что их све О точувствительные слои обращены навстречу и,параллельно друг другу.Вращение сканирующего зеркала 2 производится двигателем 6. Направляющие 7 служат для перемещения. конт ролируемого волокна 8., которое находится между фотоэлементами 4 и 5,Предлагаемое устройство работает следующим образом.Источник 1 коллимированного излу- ЗО чения направляет луч на сканирующее зеркало 2, находящееся в Фокусе лин 87 2зы 3, которая Фокусирует его далее вобласти применения в пятно с диаметром, заведомо большим диаметра волокна 8, при этом луч света сканирует вплоскости щелей фотоэлементов 4 и 5.Рассеянный волокном 8 свет попадаетна фотоэлементы 4 и 5, они преобразуют его в импульс фототока, которыйнесет информацию о диаметре волокна8. При этом распределенные по плоскости фотоэлементы 4 и 5 захватываютпоток рассеянного волокном 8 света,распространяющийся как вперед, так иназад. Крутизна зависимости между выходным сигналом с Фотоприемника идиаметром волокна возрастает, что повышает точность измерения,Устройство для измерения диаметров субмикронных волокон, содержащее источник коллимированного излучения и расположенные по ходу излучения сканирующее зеркало, линзу и фотоприемник, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, фотоприемник выполнен в виде двух Фотоэлементов с прямоугольной щелью в центре каждого, установленных так, что их светочувствительные слои обращены друг к другу и параллельны,
СмотретьЗаявка
4042070, 23.01.1986
ВСЕСОЮЗНЫЙ ЗАОЧНЫЙ ИНСТИТУТ ТЕКСТИЛЬНОЙ И ЛЕГКОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
ВОЛГИН АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ, ТАТОЧЕНКО ЛЕВ КИРИЛЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/10
Метки: волокон, диаметров, субмикронных
Опубликовано: 07.07.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1322087-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-diametrov-submikronnykh-volokon.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения диаметров субмикронных волокон</a>
Предыдущий патент: Способ дистанционного измерения толщины нефтяной пленки на поверхности водоема
Следующий патент: Способ измерения радиуса кривизны поверхности оптической детали
Случайный патент: Шпиндельная головка круглопалочного станка