Способ измерения разности фаз между двумя напряжениями

Номер патента: 127332

Автор: Голуб

ZIP архив

Текст

В. С. Го СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗНОСТИ ФАЗНАПРЯЖЕН ИЯМИ У ДВУМ аявлено 1 апреля 1959 г. за Уз 623940/24 в Комитет по ле открытий при Совете Министров СССР изобретений зобретени 1 ъ,6 7 Опубликовано в Боллете 960 г. Предлагаемый способ измерения разОсти фаз между двумя напр 1- жениями, подооно извсстн 11 з ОсцГОгрефческз способам, закл 10 ча- ЕГСЯ В ТОМ, т 1 ТО 1 Я ВХОД и 1 ТОДНОГО ОСЦ 1 ГЛОГРЯфа ПОДЯ 10 Т ИЗМЕРЯЕМЫЕ НЯ- пряжения через полупроводниковые диоды и искомую разность определяют по огибающей наложенных друг на друга полупериодов напряжений. Способ может применяться только при отсутствии разделительной емкости на Входе осциллографа. Особенностью способа является наличие третьего полупроводникового диода, шунтирующего вход осциллографа. Предлагаемый способ позволяет исключить влияние обратных сопротивлений полупроводниковых диодов, через которые подают измеряемые напряжения.Сущность предлагаемого способа поясняется чертежом, на котором изображена схема устройства для определения разности фаз между дв,. - мя напряжениями.Ня вход катодного осциллографа, у которого отсутствует разделительная емкость на входе, через кристаллические диоды Д и Д подают переменные напряжения Уи О разность фаз которых требуется измерить. В результате детектирования на экране осциллографа получаегся изображение огибающей наложенных друг на друга полупернодов обоих переменных напряжений, по которой определяетсяькальная разность фаз.Схема, показанная на чертеже, служит для исследования фазосдвигающего устройства Ф, получающего питание от источника И переменного напряжения Уи дающего на выходе напряжсше Г;,.Применение третьего диода Дз, вызывается тем, что конечная ве:и- чина обратных сопротивлений кристаллических диодов Д и Дв допускает просачивание искажающего напряжения отрицательных полупериодов, а наличие диода Дз обеспечивает шунтирование отрицательных напряж - ний на входе осциллографа, не влияя на форму напряжения положтель ных полупериодов.Юо 127332 Предмет изобретения Способ измерения разности фаз между двумя напряжениями, состоящий в том, что на вход катодного осциллографа, не имеющего входной разделительной емкости, подают измеряемые напряжения через полупроводниковые диоды и искомую разность определяют по огибающей наложенных друг на друга полупериодов напряжений, о т л и ч а ющийся тем, что, с целью исключения влияния обратных сопротивлений полупроводниковых диодов, вход катодного осциллографа шунтируют третьим полупроводниковым диодом, вк,поченным встречно первым двум. Е М о иелам изобретений и открытий нри Совете Министрв ССПарнес Коми актор Внформациопио-издательскпп отделбъем 0,17 п. л. 31 к. 2802 л прак 000и и открытий прп Гопетровка, 14. 1 иистров ГГГ.Р погпафия Комитета по делам пзобрете Москва, Г 1

Смотреть

Заявка

623940, 01.04.1959

Голуб В. С

МПК / Метки

МПК: G01R 25/00

Метки: двумя, между, напряжениями, разности, фаз

Опубликовано: 01.01.1960

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-127332-sposob-izmereniya-raznosti-faz-mezhdu-dvumya-napryazheniyami.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения разности фаз между двумя напряжениями</a>

Похожие патенты