Способ испытания осесимметричной оболочки
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОЮЗ СОВЕТСКИХ ОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 5 1 М 700 ВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИ ОСУДАРСПО ДЕЛА ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ У СВИДЕТЕЛЬСТВ ВТОРС лочек на устоичивость при имп вом сжатии. Цель изобретения ние достоверности результатов счет сокращения длительнос сжатия. Способ заключается в симметричную оболочку одним навливают на основании, на сво устанавливают ударник в виде носят удар разогнанным бойк ральной части диска. Длительно нагружения ограничивают пут ния прогиба диска. Сокращение ти нагружающего импульса и строиться от помех, связанны нием прямого и отраженного им И. Кащенко ть деформи, с. 802. СР СЕСИМник(54) СПОСОБ ИСПЫТАНИЯМЕТРИЧНОЙ ОБОЛОЧКИ(57) Изобретение относится к тмических испытаний и может бзовано для исследования тонко ульсном осе - повыше- испытания за ти импульса том, что осеторцом устабодном торце диска и наом по центсть импульса ем ограниче- длительносозволяет отс наложепульса, 3 ил.1260705 Формула изобретения г,г Составитель А. Техред Н. Горват Тираж 778 И Государственного ком делам изобретений и о осква, Ж - 35, Раушска Патент, г. Ужгород, Быко Редактор Н. ГорватЗаказ 5216/37ВНИИПпо113035, МФилиал ППП КорректорПодписноеитета СССРткрытийя наб., д. 4/5ул. Проектная, 4. Черн Изобретение относится к технике динамических испытаний, а именно к способу испытания осесимметричной оболочки, и может быть использовано для исследования тонкостенных оболочек на устойчивость при импульсном осевом сжатии. Цель изобретения - повышение достоверности результатов испытания за счет сокращения длительности импульса сжатия.На фиг.1 показана схема испытания оболочки (исходное положение элементов перед нагружением); на фиг,2 - то же, момент нагружения; на фиг.З - то же, окончание нагружения.Способ осуществляют следующим образом.Осесимметричную оболочку 1 устанавливают одним из торцов на основании 2, устанавливают на другой торец оболочки 1 ударник в виде диска 3 и воздействуют на оболочку 1 импульсом сжатия путем импульсного нагружения центральной части диска 3. Импульсное нагружение центральной части диска 3 создают ударом предварительно разогнанного бойка 4, а длительность импульса ограничивают путем ограничения прогиба диска 3, например с помощью ограничительного цилиндра 5, Длительность нагружающего импульса определяе 1 ся временем прогиба диска 3 из исходного положения (фиг.1) до положения, в котором диск 3 упирается в ограничительный цилиндр 5 (фиг.З). На фиг. 3 показан случай, когда боек 4 пробивает диск 3. Сокращение длительности нагружающего импульса позволяет значительно снизить изгиб оболочки 1 в месте взаимодействия с диском 3 и отстроиться от помех, связанных с наложением прямого и отраженного импульса.1 О Способ испытания осесимметричной оболочки, по которому оболочку устанавливают одним из торцов на основание, устанавливают на свободный торец оболочки ударник в виде диска и воздействуют на оболочку импульсом сжатия путем импульсного нагружения центральной части диска, огра ничивая длительность импульса, отличаюи 4 ийся тем, что, с целью повышения достоверности результатов испытания за счет сокращения длительности импульса сжатия, импульсное нагружение центральной части диска создают ударом предварительно разогнанного бойка, а длительность импульса ограничивают путем ограничения прогиба диска.
СмотретьЗаявка
3773553, 23.07.1984
ДАУГАВПИЛССКОЕ ВЫСШЕЕ ВОЕННОЕ АВИАЦИОННОЕ ИНЖЕНЕРНОЕ УЧИЛИЩЕ ИМ. ЯНА ФАБРИЦИУСА
МУЗЫЧЕНКО ВЛАДИМИР ПЕТРОВИЧ, КАЩЕНКО СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01M 7/00
Метки: испытания, оболочки, осесимметричной
Опубликовано: 30.09.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1260705-sposob-ispytaniya-osesimmetrichnojj-obolochki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ испытания осесимметричной оболочки</a>
Предыдущий патент: Устройство для испытания полых изделий на герметичность
Следующий патент: Возбудитель ударной нагрузки к испытательному стенду
Случайный патент: Устройство для определения антигенов и специфических антител