Способ настройки ультразвукового дефектоскопа

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНРЕСПУБЛИН 43 С 01 И 29/О ж, НЛ.Васю ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЪТИИ ВТОРСЯОМУ СИИ(46) 30.08.86, Бюл, 1 Ф 32 (7 1) Всесоюзный ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский и конструкторско-технологи ческий институт трубной промьппленности(54) СПОСОБ НАСТРОЙКИ УЛЬТРАЗВУКОВГО ДЕФЕКТОСКОПА(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий с помощьюультразвука и может быть использовано при контроле особотонкостенныхтруб, имеющих, в частности, малыйвнутренний диаметр. Цель изобретения - упрощение настройки ультразвукового дефектоскопа при контроле тонкостенных труб с малым внутренним.диаметром. При настройке ультразвукового дефектоскопа по испытательному образцу с нормированным иненормированньм отражателями в качестве ненормированного отражателяиспользуют структурные неоднородности материала испытательного образца величина, эхо-сигналов от которых равна величине эхо-сигналаот недопустимого дефекта.1254373дефектам контролируемого изделия.При этом материал испытательногообразца должен иметь недопустимыйбалл зерна, т.е. величина структурных неоднородностей (зерен) материала образца должна бь:ть такой, чтобывелтшна эхо-сигналов от них была В зоне пьезоэлектрического преобразователя, подсоединенного к ультразвуковому дефектоскопу, помещают испытательный образец цз материала с недопустимым баллом зерна и с выполненным в нем наружным нормированным отражателем. Возбуждают в образце нормальные симметричные волны Б и сканируют цспытательньпло.образец до получения на экране дефектоскопа максимальной амплитуды эхо-сигнала от нормированного отражателя. При этом .максимальный сигнал можно получить при углах ввода ультразвуковых колебаний в образец равных 19-21 . Именно при этих углаховвода в образце возбуждается пормаль- наЯ сцмметРичиаЯ волна го . Затем определяют чувствительность ультразвукового дефектоскопа к наружным дефектам по максимальной амплитуде эхосигналаполученного от нормированного отражателя. После этого, це изменяя чувствительности дефектоскопа, отводят из зоны контроля иаружньп 1 нормированный отражатель, возбухсдают в испытательном образце нормальные антцсимметрцчные волны сс и сканируют образец путем изменения угла ввода ультразвуковых колебанийОв диапазоне 30-45 до получения максимальной величины эхо-сцгналов от структурных неоднородностей (зерен) материала образца, Затем по полученным данным производят настройку дефектоскопа. При установленной чувствительности к наружным дефектам автоматцчески обеспечивается необходимая чувствительность к внутренним Изобретение относится к неразрувающему контролю изделий с помощью ультразвука ц может быть использовано при контроле особотонкостенных труб, имеющих, в частности мальсй внутренний диаметр,Цель изобретения - упрощение настройки ультразвукового дефектоскопа при контроле тонкостенных труб с малым внутренним диаметром.Способ настройки ультразвукового дефектоскопа осуществляется следующим образом. равна величине эхо-сигнала от недопустимого внутреннего дефекта. При10 настройке используются эхо-сцгнвлыотраженные от зерен материала образца, попавших в растр луча ультразвуковых колебаний и, как правило, используется максимальное отражение15 от нескольких зерен материала испытательного образца,Таким образом, данньп 1 способ посравнению с иэвестными значительноупрощает процесс настройки дефекто 20 скопа вследствие исключения трудоемкого и дорогостоящего процесса изготовления испытательных образцов с дефектамц на внутренней поверхности труби, следовательно, облегчает контроль5 труб малого диаметра, включан капцллярные трубы,формула изобретения ЗО Способ настройки ультразвуковогодефектоскопа по испытательному образцу с нормированным и ненормированным отражателямц, заключающийся в том, что возбуждают в образце симметричные нормальные голны Ь, сканируют образец до получения максимальной амплитуды эхо-сцгнала от нормированного отражателя, затем, не меняя чувствительности, возбуждают антисцмметричные нормальные волны а , сканируют образец до получения максимальной амплитуды эхосигнала от ненормированного отражателя и по полученным параметрам производят настройку дефектоскопа, о т л ц ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения настройки, в ка,честве ненормированного отражателя используют структурные неоднородности материала испытательного образца, величина эхо-сигналов от которых равна величине эхо-сигнала от недопустимого дефекта.