Устройство для определения коэффициентов корреляции между признаками

Номер патента: 1068783

Опубликовано: 23.01.1984

Авторы: Дыхнилкин, Конашенок, Погорелый, Романова, Шибаров

МПК: G01N 21/55

Метки: зеркального, коэффициента, оптической, отражения, поверхности

...9 и 10, установленные перпендикулярно один другому и под угломо45 к оптической оси каналов, образующие уголковый отражатель, установочная плоскость держателя 11 образ.ца установлена перпендикулярно оптической оси каналов, фотометрические шары 12 и 13, в которые помещены фотоприемники 14 и 15 образующие фотоприемный блок, фотодиоды 16 и 17, установленные непосредственно за 10 диском модулятора 8 напротив лампочек18 и 19 и прорезей в диске соответственно А и В .(С), быстродействующий электронный ключ 20, усилитель 21,аналого-циФровой преобразователь 22,ЭВМ 23, считыватель 24, индикатор(показывающий прибор) 25, элементы16-19 образуют эптроннйе пары.Устройство работает следующим образом. 20Поток излучения от осветителя 1проходит через...

Номер патента: 1054762

Опубликовано: 15.11.1983

Авторы: Ляпунов, Майоров

МПК: G01N 29/00

Метки: звука, коэффициента, отражения, поверхности

...объекта.Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности и достигаемому результату является способ иэмерения коэффициента отражения звука от поверхности, заключающийсяв том, что устанавливают звуковойприемник между исследуемой поверхностью и звуковым излучателем, излучают звуковую волну, Фиксируютотраженную от поверхности звуковуюволну при компенсации на звуковомприемнике сигнала, соответствующего сигналу падающей звуковой волны,измеряют амплитуду и Фазу отраженнойзвуковой волны и по ним определяюткоэффициент отражения звука 2 Д .Недостатками известного способаявляется ограниченная область применения - измерения можно проводить 40только в акустических трубах с плоским фронтом распространения акустических волн. Кроме того, при...

Номер патента: 1601564

Опубликовано: 23.10.1990

Автор: Ковальский

МПК: G01N 21/55

Метки: вогнутых, коэффициента, отражения, поверхностей, сферических

...зеркала 7. Центр кривизны контролируемой сферы 12 лежит на прямой, проходящей через фокус объектива 6 и точку пересечения оптической оси объектива 10 с зеркалом 7,Основание 8 выполнено с возможностью поворота на угол у=180 - 2 а и фиксации в указанном и повернутом на угол положениях. Ось 9 поворота лежит на биссектрисе угла 2 а на расстоянии в от фокуса дополнительного объектива 10, определяемом по формуле где а = 2 К 1 да;К- радиус кривизны контролируемойсферической поверхности.Устройство работает следующим образом.Конденсор 2 строит изображение источника 1 излучения в плоскости диафрагмы 3, Параллельный пучок лучей на выходе коллимирующего объектива 4, ограниченный апертурной диафрагмой 5 до тре 25 30 35 40 45 50 55 буемого...

Номер патента: 336493

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Еремин, Шибаев

МПК: G01B 3/22, G01B 5/24

Метки: взаимного, врашении, детали, ошибки, поверхности, положения

...измерить суммарную ошибку взаимного положения поверхности детали,На чертеже изображено предлагаемое устройство, общий вид.Оно содержит индикатор 1 со штоком 2, два измерительных наконечника т и 4, закрепленных на концах траверсы 5. Траверса жестко закреплена на штоке индикатора.Устройство работает следующим образом.Оба измерительных наконечника 8 и 4 переместятся вместе с траверсой и штоком относительно неподвижного корпуса индикатора на величину, равную величине биения, если при вращении поверхность детали б имеет только радиальное биение.Разность между наибольшим и наименьшим показаниями индикатора определит ве личину радиального биения поверхности относительно базы, Если при вращении ось измеряемой поверхности перекошена относи,...

Номер патента: 682806

Опубликовано: 30.08.1979

Авторы: Востриков, Куснер

МПК: G01N 25/14

Метки: времения, жизни, захвата, коэффициента, молекул, поверхности

...с изменяемой температурой 2,Однако известный способ разо вия сложен для использования. Целью изобретения является измерений. 5 Это достигается тем, что од с изменением температуры п производят измерение плотности камере торможения молекуляр внутри которой помещается и 10 поверхность, а время жизни поверхности т и коэффициент находят по следующим формул682806(Т) =Яп)и (Т) - 1(а,Оо лученные указанным способом на генераторе молекулярного пучка ИТФ СО АН СССР с помощью устройства для измерения времени жизни и коэффициента захвата молекул на поверхности, 5Кривые 1, 2, 3 соответствуют измерениям с соответственно увеличенной интенсивностью падающего молекулярного пучка, Кривая 4 получена при изменении С и т, когда падающий пучок был...