Способ магнитной дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 119) (111 14 С О 1 Н 27/8 ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЬПИЙ ВСЕСОЩщюю ИЗОБРЕТЕН ПИС ИДЕТЕЛЬСТВ К АВТОРСКОМ(71) Саратовский филиал Специального конструкторского бюро Всесоюзного, научно-производственного обьединения Союзгазавтоматика" (72) Н.НБакурский и В.Н.Мортиков (53) 620.179.14(088.8)(56) Авторское свидетельство СССР В 842252, кл. С 01 К 33/02, 1979.Авторское свидетельство СССР У 697905, кл. С 01 1 27/82, 1979. НОЙ ДЕФЕКТОтом, чточенного изочувствительлуч светаатор и по(54)(57) СПОСОБ МАГНИ СКОПИИ,заключающийся на поверхности намагн делия размещают магни ную линзу, направляют на линзу через поляри распределению яркости поляризованно"го света определяют наличие дефектов, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повьппения надежностии упрощения процесса контроля, используют магниточувствительную линзу в виде стеклянной пластины,покрытой с одной стороны оптическипрозрачной обладающей магнитооптическими свойствами ферромагнитнойпленкой,а с другой стороны - отра-.жающим свет зеркальным немагнитнымсоставом, размещают линзу параллельно поверхности контролируемого изделия, направляют луч света налинзу перпендикулярно контролируемой поверхности, а распределениеяркости поляризованного света напластине в зависимости от магнитногополя рассеяния наблюдают со стороны источника света.Составитель А.Бодров Редактор А,Шандор Техред А,Ач Корректор Е,Сирохман, Заказ 7310/47 Тираж 896 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к неразрушающим методам дефектоскопии, а именно магнитным методам, и может быть использовано для контроля магистральных трубопроводов на наличие дефектов поверхйости в различных отраслях машиностроения.Цель изобретения - повышение надежности способа и упрощение процесса контроля.На чертеже представлено устройство для осуществления способа.Устройство содержит магниточувствительную линзу в виде плоскопараллельной стеклянной пластины 1 с зеркальным неферромагнитным покрытием 2 и прозрачным ферромагнитным обладающим магнитооптическими свойствами покрытием 3. Над линзой размещают поляризатор 4, формирующий плоскополяризованный луч 5 света.Магниточувствительная линза размещается над поверхностью контролируешого изделия 6.Способ осуществляется следующим образом.Луч 5 света от искусственного или естественного источника пропус" кают через поляризатор 4 перпендикулярно исследуемой поверхности изделия 6, оптически прозрачное ферромагнитное покрытие 3 и стеклянную пластину 1.Пройдя через поляризатор 4, луч света поляризуется и попадает на 193566 2ферромагнитное покрытие, 3. Оно вращает плоскость поляризации лучана угол 9 , пропорциональный толщине 7 ферромагнитного покрытия3, величине Ннапряженности магнитного поля, перпендикулярного плоскости линзы6-с 2 Н,где С - коэффициент, зависящий от 10 свойства ферромагнетика.Пройдя через стеклянную. пластину1, поляризованный луч с измененнымна О углом поляризации отражаетсябез изменения угла поляризации от 15 зеркального покрытия 2 и вторичнопроходит через стеклянную пластину1 и магнитооптическое ферромагнитноепокрытие 3. В качестве магнитооптической пленки могут быть использова ны соединения типа желеэоиттриевыхгранатов, обладающих ярко выраженнымэффектом Фарадея.При прохождении отраженного лучачерез ферромагнитное покрытие 3 25 происходит поворот его угла поляризации в ту же сторону и на тот жеугол 9Таким образом, угол поляризациилуча при его вхождении в поляризатор 4 будет 2 8 . Поляризатор 4 вэтом случае будет выполнять рольанализатора и наблюдатель увидит картину распределения поля яркостив соотзетствии с распределениемполя рассеяния дефектов в иэделии 6.35
СмотретьЗаявка
3709766, 11.03.1984
САРАТОВСКИЙ ФИЛИАЛ СПЕЦИАЛЬНОГО КОНСТРУКТОРСКОГО БЮРО ВСЕСОЮЗНОГО НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОГО ОБЪЕДИНЕНИЯ "СОЮЗГАЗАВТОМАТИКА"
БАКУРСКИЙ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ, МОРТИКОВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/84
Метки: дефектоскопии, магнитной
Опубликовано: 23.11.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1193566-sposob-magnitnojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ магнитной дефектоскопии</a>
Предыдущий патент: Способ контроля качества ферромагнитных изделий
Следующий патент: Накладной электромагнитный преобразователь
Случайный патент: Способ определения термоэлектрической