Способ магнитной дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 119) (111 14 С О 1 Н 27/8 ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЬПИЙ ВСЕСОЩщюю ИЗОБРЕТЕН ПИС ИДЕТЕЛЬСТВ К АВТОРСКОМ(71) Саратовский филиал Специального конструкторского бюро Всесоюзного, научно-производственного обьединения Союзгазавтоматика" (72) Н.НБакурский и В.Н.Мортиков (53) 620.179.14(088.8)(56) Авторское свидетельство СССР В 842252, кл. С 01 К 33/02, 1979.Авторское свидетельство СССР У 697905, кл. С 01 1 27/82, 1979. НОЙ ДЕФЕКТОтом, чточенного изочувствительлуч светаатор и по(54)(57) СПОСОБ МАГНИ СКОПИИ,заключающийся на поверхности намагн делия размещают магни ную линзу, направляют на линзу через поляри распределению яркости поляризованно"го света определяют наличие дефектов, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повьппения надежностии упрощения процесса контроля, используют магниточувствительную линзу в виде стеклянной пластины,покрытой с одной стороны оптическипрозрачной обладающей магнитооптическими свойствами ферромагнитнойпленкой,а с другой стороны - отра-.жающим свет зеркальным немагнитнымсоставом, размещают линзу параллельно поверхности контролируемого изделия, направляют луч света налинзу перпендикулярно контролируемой поверхности, а распределениеяркости поляризованного света напластине в зависимости от магнитногополя рассеяния наблюдают со стороны источника света.Составитель А.Бодров Редактор А,Шандор Техред А,Ач Корректор Е,Сирохман, Заказ 7310/47 Тираж 896 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к неразрушающим методам дефектоскопии, а именно магнитным методам, и может быть использовано для контроля магистральных трубопроводов на наличие дефектов поверхйости в различных отраслях машиностроения.Цель изобретения - повышение надежности способа и упрощение процесса контроля.На чертеже представлено устройство для осуществления способа.Устройство содержит магниточувствительную линзу в виде плоскопараллельной стеклянной пластины 1 с зеркальным неферромагнитным покрытием 2 и прозрачным ферромагнитным обладающим магнитооптическими свойствами покрытием 3. Над линзой размещают поляризатор 4, формирующий плоскополяризованный луч 5 света.Магниточувствительная линза размещается над поверхностью контролируешого изделия 6.Способ осуществляется следующим образом.Луч 5 света от искусственного или естественного источника пропус" кают через поляризатор 4 перпендикулярно исследуемой поверхности изделия 6, оптически прозрачное ферромагнитное покрытие 3 и стеклянную пластину 1.Пройдя через поляризатор 4, луч света поляризуется и попадает на 193566 2ферромагнитное покрытие, 3. Оно вращает плоскость поляризации лучана угол 9 , пропорциональный толщине 7 ферромагнитного покрытия3, величине Ннапряженности магнитного поля, перпендикулярного плоскости линзы6-с 2 Н,где С - коэффициент, зависящий от 10 свойства ферромагнетика.Пройдя через стеклянную. пластину1, поляризованный луч с измененнымна О углом поляризации отражаетсябез изменения угла поляризации от 15 зеркального покрытия 2 и вторичнопроходит через стеклянную пластину1 и магнитооптическое ферромагнитноепокрытие 3. В качестве магнитооптической пленки могут быть использова ны соединения типа желеэоиттриевыхгранатов, обладающих ярко выраженнымэффектом Фарадея.При прохождении отраженного лучачерез ферромагнитное покрытие 3 25 происходит поворот его угла поляризации в ту же сторону и на тот жеугол 9Таким образом, угол поляризациилуча при его вхождении в поляризатор 4 будет 2 8 . Поляризатор 4 вэтом случае будет выполнять рольанализатора и наблюдатель увидит картину распределения поля яркостив соотзетствии с распределениемполя рассеяния дефектов в иэделии 6.35
СмотретьЗаявка
3709766, 11.03.1984
САРАТОВСКИЙ ФИЛИАЛ СПЕЦИАЛЬНОГО КОНСТРУКТОРСКОГО БЮРО ВСЕСОЮЗНОГО НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОГО ОБЪЕДИНЕНИЯ "СОЮЗГАЗАВТОМАТИКА"
БАКУРСКИЙ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ, МОРТИКОВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/84
Метки: дефектоскопии, магнитной
Опубликовано: 23.11.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1193566-sposob-magnitnojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ магнитной дефектоскопии</a>
Состав для очистки твердых поверхностей от покрытий
Номер патента: 1636434
Опубликовано: 23.03.1991
Авторы: Лоди, Метленко, Пытина, Титов
МПК: C09D 9/02
Метки: поверхностей, покрытий, состав, твердых
...щелочной среды. 5Толщина клеевого слоя на поверхности поливинилхлоридной декоративной отделочной пленки ПДСОсоставляет 0,03 см. После удаления пленки с поверхности пластика толщина остаточного клеевого слоя на его поверхности составляет 0,01-0,03 см.Для удаления слоя акрилатного клея состав наносят ровным слоем на поверхность, покрытую клеем (слой толщиной 1-3 мм), выдерживают 20-30 с и очищают с поверхности металлическим или пластиковым шпателем, При полном удалении клея поверхность промывают водой, В случае неполного уда ления клея промывку водой не проводят, а наносят состав повторно и удаляют клей как описано. Поверхность считают чистой, если на ней не осталось следа клея и она глянцевая.Расход предлагаемого состава составляет...
Способ обработки поверхности под покрытия
Номер патента: 1779697
Опубликовано: 07.12.1992
МПК: C23C 4/02
Метки: поверхности, покрытия
...следующим образом.На детали 1 (фиг.1) преимущественнометодом накатки выполняют рифленую поверхность в виде сотовых ячеек 2, Ячейкивыполняют по форме в виде правильной пирамиды с числом сторон в основании неболее 6 (т.е. 3-6, предпочтительно 4), Прибольшем числе сторон увеличивается вероятность поверхности не подвергшейся обработке, за счет перемычек междуячейками.Различная величина перемычек увеличивает вероятность нестабильности остаточных напряжений в поверхностном слоеподложки. В результате в процессе старения происходит перераспределение напряжений в материале подложки, что приводитк преждевременному отслаиванию покрытия,По изобретению вершину 3 пирамидывнедряют в основу детали 1, но при этомустраняют неравновесность системы...
Способ измерения толщины немагнитного покрытия на ферромагнитном основании
Номер патента: 1798617
Опубликовано: 28.02.1993
Авторы: Демин, Миронов, Устинов, Фетисов
МПК: G01B 7/06
Метки: немагнитного, основании, покрытия, толщины, ферромагнитном
...сверху магнитной пленки. На магнитной пленке создается домен цилиндрической формы, которь 1 й наблюдают в поляризованном свете через блок визуализации 5. Измеряют диаметр домена, кОторый 2(57) Изобретение относится к средствам контроля толщины покрытий и может быть использовано в неразрушающем контроле ферромагнитных материалов для измерения толщины упрочненного слоя, Цель изобретения - повышение точности измерений. Поставленная цель достигается тем, что магнитная пленка с управляемой доменной структурой, размещенная на контролируемой поверхности, снабжена кольцеобразным магнитом, расположенным параллельно плоскости магнитной пленки. В поляризованном свете наблюдают изменение диаметра цилиндрического домена и , измеряют его, при...
Способ измерения толщины покрытий на ферромагнитной основе
Номер патента: 569841
Опубликовано: 25.08.1977
МПК: G01B 7/06
Метки: основе, покрытий, толщины, ферромагнитной
...компенсируют с,помощью дополнитель.ного источника ЗДС, а в качестве отношения сигналов используют отношение вторыхгармоник сигналов преобразователей. 20Но фиг. 1 схематически показано размещение преобразователей и проводника стоком над поверхностью изделия с покрытием; на фиг. 2 дана структурная схемаустройства для реализации предлагаеМого у,способа. Над контролируемым изделием 1 размещен на расстоянии источник 2 электро магнитного полн, выполненный в виде линейного проводника.Ток протекая по проводнику, создает поле цилиндрической формы. измерения градиента нормальной составлявшей электромагнитного поля.Высота х, размещения преобраэов 9 телей определяется конструкцией корпуса, в котором размещены оба преобразоввтеля, Координата хз...
Магнитный способ измерения толщины немагнитных покрытий на ферромагнитных изделиях
Номер патента: 638839
Опубликовано: 25.12.1978
Авторы: Абайдулин, Берсенев, Макеев
МПК: G01B 7/06
Метки: изделиях, магнитный, немагнитных, покрытий, толщины, ферромагнитных
...по техческоЙ суцностни достигаемом". результатч.Однако известный способ не обеспечивает необходимой точости измерения и неудобен в эксплуатации, так как требует доно.интел ьн ы х рс особле й дл я Омпенсации влияния материала основы.тв Для повышения удобства н точности измерения путем упрощения компенсации влияния материала основы перед началом измерения между сердечником толшиномера и поверхностью изделия размещают прокладку из ферромагнитноо материала, площадь кот 5торой в 2 - 3 раза превышает площадьпоперечного сечения сердечника, а толщина равна 0,1 - 3 мм, и устанавливают стрелку толшиномера на нуль.Способ осуществляется следующим обра638839 Формула езобретенил Составитель И. Кесоян Редактор Т. Шатова Техред О. Луговая...
Предыдущий патент: Способ контроля качества ферромагнитных изделий
Следующий патент: Накладной электромагнитный преобразователь
Случайный патент: Способ определения термоэлектрической