Способ ультразвуковой дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 991 А й 29/04 ЛЬСТВУ хповжо" Ю ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИ ОПИСАНИ АВТОРСКОМУ. 83. Бюл, М 41Кеслер, В. А. Иенцов,ев и И. Ф. Шадринно-технологический институтажпроект"179. 16 (088. 8)вич А, К Ермолов И.Н.вой контроль сварных швов.икр, 1972, с. 35 (прототипПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОЙОПИИ, заключающийся в том, что через промежуточную среду в изделие наклонно вводят ультразвуковые волны от преобразователя и принимают эхосигналы, по которым судят о дефектности изделия, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что с целью повышения чувствительности, формируют в промежуточной среде нормально к отраженной от поверх ности изделия волне рефлектор, а частот следования импульсов ультразвуковь волн устанавливают равной частоте торения многократных отражений ме рефлектором и преобразователем,1 10529Изобретение относигся к неразрушаю щему контролю изделий и может быть Использовано для ультразвукового кощ роля сварных соединений.Известен способ ультразвуковой де фектоскопии, заключающийся в том, что через промежуточную среду в изделие наклонно вводят ультразвуковые волны от преобразователя ипринимают эхосигнвлы, по которым судят о дефектности изде лия 1 3.Недостатком известного способа является низкая. чувствительность, обуоловленнвя тем, что в изделие вводится малая доля ультразвуковой энергии, в 15 ее основная часть отражается ог границы раздела и рассеивается в промежуточной среде.Иель изобретения - увеличение чувст. вительности. 20Поставленная цель достигается тем, что согласно. способуультразвуковой дефектоскопии, заключающемуся в том, что через промежуточную среду в иэделие наклонно вводят ультразвуковые 25 волны от преобразователя и принимают эхосигналы, по которым судят о дефектности изделия, формируют в промежуточной среде нормально к отраженной от поверхности изделия волне рефлектор, а . 30 частоту следования импульсов ультразвуко. вых волн устанавливают равной частоте -повторения многократных отражений между рефлектором и преобразователем,Нв чертеже представлена схема ревли эации способа ультразвуковой дефектоскопии.Схема содержит последовательно соединенные синхронизатор 1 генератор 2, преобразователь 3, установленный наклон40 но к поверхности изделия 4 с дефектом 5, рефлектор 6, последовательно соединен ные с преобразователем 3 усилитель 7 и индикатор 8.Способ осуществляется следующимобразом.Под действием электрических импульсов генератора 2, запускаемого им-пульсами синхронизатора 1, преобразователь 3 излучает импульсы ультразву 50ковой волны, одна часть энергии которой проходит в изделие 4, а друтая часть многократно отражается от поверхностей преобразователя 3, поверхностиизделия 4 и рефпекторв 6.Прошедший и иэделие 4 импульс ультраэвуковой волны, отразившись от дефекта 5, вновь попадает на преобразователь 3. Часть энергии этого импульсарасходуется в преобразователе 3 дляпреобразования ее в электрический сигнал,который поступает нв вход усилителя 7.Большая же часть энергии этого импульсамногокоатно отражается от преобразователя 3, поверхности изделия 4 и рефлектора 6,При этом импульс ультразвуковой волны, отразившись от рефлектора 6, достигает поверхности преобразователя 3 исинфазно с электрическим импульсомгенератора 2 воздействует на преобраэватель 3, который вновь излучает импульс ультразвуковой волнь 1 с повышенной амплитудой. Синфаэность упомянутых импульсов достигается выборомчастоты следования импульсов синхронизатора 1, раиной частоте повторенияимпульсов, многократно отраженных отпреобразователя 3 и рефлектора 6.Вследствие синфазности импульсовотраженных от дефекта 5 в определенном такте с импульсами, многократноотраженными от поверхностей преобразователя 3 и рефлектора 6 в последующихтактах, происходит сложение амплитудэтих импульсов.С выхода усилителя 7 электрическиевидеоимпульсы поступают на электроннолучевой индикатор 8.Для достижения наибольшей чувстви-тельности способа целесообразно, чтобыпромежуточная среда имела минимальноезатухание ультразвуковой волны на рабо-,чих частотах, а также малое значениеее скорости для того, чтобы при приемлемых размерах обеспечивать контрольизделий нужной толщины.Всем этим условиям отвечает, например, промежуточная среда в виде водяной призмы.1 Чувствительность дефектоскопии поизобретению по сравнению с прототипомувеличивается примерно на 15 дБ. ВНИИПИ Заказ 8862/41 Т,ирвж 873, Подписное Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4
СмотретьЗаявка
3000454, 04.11.1980
ПРОЕКТНО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ "ЭНЕРГОМОНТАЖПРОЕКТ"
КЕСЛЕР НАУМ АРОНОВИЧ, МЕНЦОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ, КАЗИНЦЕВ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЩЕДРИН ИГОРЬ ФЕДОРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскопии, ультразвуковой
Опубликовано: 07.11.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1052991-sposob-ultrazvukovojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ ультразвуковой дефектоскопии</a>
Предыдущий патент: Акустическое устройство для контроля качества изделий
Следующий патент: Ультразвуковое устройство для контроля изделий (его варианты)
Случайный патент: Коррелометр