Оптическое устройство для измерения линейных размеров
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1024702
Автор: Лоди
Текст
1 10247Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и можетбыть использовано, в частности,приизмерении малых линейных размеровв машиностроении, например, при измерении ширины тонких лент, диаметрапроволок, нитей, волокон и т.д.Известно оптическое устройстводля измерения малых линейных размеров,,содержащее лазер, коллиматор и регистрирующий узел ЦНедостатком этого устройства является низкая точность измерения.Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности является цоптическое устройство для измерениямалых линейных размеров, содержащеепоследовательно расположенные лаэер,коллиматор и регистрирующий узел,пространственный фильтр. Пространст-. 20венный ильтр имеет ряд прямоугольныхщелей и расположен в фокальной плоскости линзы, в которой сформированадифракционная картина от измеряемогообъекта,. в результате чего отфильтро:вывают дифракционные максимумы высшихпорядков 2Недостатком известного устройстваявляется также низкая точность измерения. иэ-эа некачественной дифракционЗ 0ной картины.Цель изобретения - повышение точ-.ности измерения.Поставленная цель достигаетсятем, что в оптическом устройстве дляизмерения малых линейных размеров,содержащем последовательно расположенные лазер, коллиматор, регистрирующий узел и пространственный фильтр,последний установлей в фокальнойплоскости коялиматора и выполненв виде экрана с точечным отверстием,отношение диаметра точечного отверс"тия к полуширине пучка лазера выбра-но 2,3-2,5, настраиваемого в процессе измерения на моду с наибольшейинтенсивностью,На чертеже изображена оптическаясхема устройства для измерения малых линейных размеров,02 ОЩгде 3 - длина волны лазера,%1 - полуширина падающего лазерйого пучка,- окусное расстояние линзыЧтобы световой пучок, прошедшийчерез пространственный фильтр,4,имел равномерную освещенность, необходимо иметь интенсивность света влюбой точке отверстия фильтра одинаковой,Предлагаемое устройство позволяетполучить качественную устойчивую дифракционную картину, нечувствительнуюк вибрациям, что приводит к повыше-,нию точности измерения, а также позволяет использовать многомодовые ла",веры,Л Лобзоваарь Корректор О. Билакю Заказ 4376/35 Тираж 602 ВНИИПИ Государственного по делам изобретений 113035, Москва, 3-35, РПодписноекомитета СССРи открытийаушская наб д. 4/5: Е ВИ т а в Е е аФилиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,СоставительРедактор 8. Лазаренко Техред Л.Пек Устройство содержит последовательно расположенные на одной оптической оси лазер, коллиматор в видедвух линз 2 и 3, в Фокальной плоскости которых установлен пространственный фильтр 4, линзу 5 и регистрирующий узел не показан);Устройство работает следующимобразом,Световой луч от лазера 1 падаетна линзы 2 и 3. коллиматора,В Фокальную плоскость линз 2 и 3введен пространственный ильтр 4,через который проходят только. низкочастотные компоненты, соответствующие гауссовому распределению пучка,Плоская волна после коллиматорадефрагирует на измеряемом"объекте;6 и наблюдается в фокальной плоскости линзы 5.Пространственный Фильтр 4 выполнен в виде экрана с точечным отверстием,.настроенным на моду снаибольшей интенсивностью лазерного луча.Размер отверстия выбирается больше,полуширины лазерного пучка послеФильтрации в 2,3-2,5 раза.Полуширина лазерного пучка послефильтрации определяется по формуле
СмотретьЗаявка
3374165, 04.01.1982
МОСКОВСКИЙ СТАНКОИНСТРУМЕНТАЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ
ЛОДИ МАРГАРИТА НИКИТИЧНА
МПК / Метки
МПК: G01B 11/02
Метки: линейных, оптическое, размеров
Опубликовано: 23.06.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1024702-opticheskoe-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-linejjnykh-razmerov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Оптическое устройство для измерения линейных размеров</a>
Предыдущий патент: Способ измерения перемещений
Следующий патент: Способ контроля толщины и показателя преломления диэлектрической пленки на диэлектрической подложке
Случайный патент: Способ запуска штанговой глубинно-насосной установки