Способ количественного определения окислов серы

Номер патента: 1518746

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Грибенюк, Орлов

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, вещества, количественного, рентгеноспектрального

...платины Ь для проб наУрентгеновском спектрометре РИфирмы "Филипс". Измерения на этом спектрометре позволяют автоматически учитывать фон. С помощью ЭВМ, встроенной в спектрометр, рассчитывают коэффициенты уравнения (1).Для приведенного примера уравнение (1) имеет видСсз= 0 + Оэ 00012 ТсКонцентрацию платины в анализируемом материале рассчитывают по формуле (2) . 3. отходы ДНП5. Ре О где 11 - вес синтетической пробы, г;Я - вес добавки анализируемогоДмматериала;1 - интенсивность линии элемен.Д 5та в синтетической пробе сдобавкой анализируемого материала.Синтетические пробы без добавок: анализируемого материала используются 10 в дальнейшем при анализе других материалов на содержание того же элемента. Поэтому для каждого нового материала...

Номер патента: 1539626

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Балоян, Вечер, Гусев, Далидович, Канторович, Кусей, Махнач

МПК: G01N 25/02

Метки: анализа, веществ, количественного, термического

...(площадь под термической кривой), При отсутствии фазовых и химических превращений скорость теплопоглощения является теплоемкостью испытуемого образца. Используя результаты измерений,скорость теплопоглощения испытуемогообразца с 1 рассчитывают по формуле меренных разностей температур и скоростей их изменения;(А В ) - ( и+Е)-й компонент произведения матриц А и В с компонентами: Формула изобретения Способ количественного термического анализа веществ, включающий монотонное изменение температуры блока нагрева, находящегося в тепловом контакте с тремя держателями образцов, один из которых испытуемый, а два других - эталоны с известными значениями теплоемкости, регистрацию разностей температур держателей с испытуемым образцом и первым...

Номер патента: 1497528

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Артемов, Брагин, Латыш, Хуршудян, Цикаридзе, Чепенко

МПК: G01N 21/72

Метки: анализа, атомно-абсорбционного, вещества

...пламени. Эмисси- онное излучение радикалов С наблю 2 дается на полосах Свана, расположенных в области 500-517 нм. Таким обра зомустанавливая максимум излучения на полосе Свана путем изменения объ. - емов. расхода окислителя / 0 / и горючего газа /С/ можно легко установить стехиометрическое пламя, При 45 этом измерительная система 5 регистрирует сигнал Ч . Стехиометрическомуспламени соответствует 01/С = 1, (в объем 01 входит и естественная диффузия кислорода). Изменение отнощения 0/С 1 С 1 (восстановительное пламя) или СД/ОД ( (окислительное пламя) вызывает уменьшение эмиссионФ ного излучения радикалов Спропорционально избытку или дефициту окислителя, В этих случаях регистрируемые сигналы Ч и Ч будут меньше сигонала Ч характерного...

Номер патента: 593082

Опубликовано: 15.02.1978

Автор: Северин

МПК: G01J 3/40

Метки: анализа, вещества, колличественного, спектрографического

...обусловленных данной о линией.Сущность изобретения поясняется примером.Предварительно определяют время полно.го выгорания пробы и устанавливают количество шгов п перемещения фотоматериала,:; также длительность временного интервала, соответствующего одному шагу.Зате; экспонируют ацализируемьй спектрца фотоа 5 атериал до полного выгорацця пробы и в процессе экспозиции по истечении каждого временного интервала дискретно перемещают фотоматериал относительно спектра так, что экспонирование в каждом врезенисее интервале производят на новый участок фотоматериала. На тот жс фотоматериал через девятцступенчатый ослабптель экспон пруот спектр железа для построения характеристической кривой. Измеряют почсрненця анализируемой линии во всех спектрах,...

Номер патента: 1436038

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Фролов, Чижик

МПК: G01N 24/08

Метки: анализа, вещества, количественного

...всекциях 3 и 4.Одновременно с вторым радиоимпульсом И 2 вырабатывается импульс неоднородного магнитного поля Н 1 с помощьюкатушки 8. Всли градиент магнитногополя достаточно велик, сигналы ЯМРат образца, расположенного в областинеоднородного магнитного поля, наблюдать невозможна, так как постояннаявремени затухания этого сигнала Тмажет быть сделана весьма малой придостаточном градиенте поля сигнала свободной индукции (ССИ)от эталонного и исследуемого образцов, а после второго радиоимпульса И 2- сигнал только от образца 3 датчика ЯМР, где градиент магнитного поля, создаваемого катушкой 8, практически отсутствуетПоскольку начальная амплитуда ССИ является мерой количества ядер в образце, по соотношению амплитуд сигналов от эталона и образца...