Способ определения коэффициента затухания ультразвука в слое вещества

(3 а И 29/О 0 МИТЕТ ОООРЙИ 015 УЬЩФ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ОО ДЕЛАМ ИЗОБРЕ ИЕ ИЗОБРЕТЕН П фициент эатухапределяют из соот импулъс ния уль ношения а ко разв ухафм,д" ц ) овдго Кра йстве нный-111 Ультразвукоельство Стан(прототип),гд веществаф тухания эта й имульсауамплитуд вободно овного льтразв траженного отоверхности ослонного слояного импульса. О ИОАНд двтодднану сдицдтвддтвм(71) Донской ордена Труного Знамени селъскохозинститут(54)(57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ЗАТУХАНИЯ УЛЬТРАЗВУКА В СЛОЕВЕЩЕСТВА, захлючакщийся в том, чторазмещают на его поверхности слойэталонной среды, вводят ультразву-ковойимпульс со стороны слоя ве"щества, измеряют амплитуду отраженного от свободной поверхности эталонного слоя ультразвукового импульса и учитывают амплитуду поопределении коэффициента затухания ультразвука, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью. расширениятехнологических возможностей,перед вводом ультразвукового импульса размещают между точкой ввода ультразвукового импульса и слоем вещества дополнительный слой эталонной среды, измеряют амплитудуотраженных от границ слоя веществас эталонными слоями ультразвуковых е- е 4 е,- Ц х) т, .4 Ф эффициент затухания ультразвука в слоекоэффициент залонной среды 1толцина слоя веществаутолядна дополнительногослоя эталонной средыутолщина основного слояэталонной средыамплитуда отраженного отграницы слоя веществе сдополнительно слоем эталонной среды ультразвукового импульса;амплитуда отраженного отграницы слоя вещества сосновным слоем эталонносреди улътраэвукового-бХцъ я измерениюободной поНОГО СЛОЯвеществазвуковыхбходимостьества и,нологиСоставитель Р.Восканяедактор М.Товтин Техред К.Мыцьотор О.Би Подписио аказ 2751/54 Тираж 871 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д.Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. роектная, 4 Изобретение относится к ультра-звуковому контролю и может бытьиспользовано для измерения коэффициента затухания ультразвука в биологических материалах,Известен способ определения коэфФициента затухания ультразвука вслое вещества, заключакщийся в том,что размещают на его поверхностислой эталонной среды, вводят ультразвуковой импульс со стороны слоявещества, измеряют амплитуду отраженного от свободной поверхностиэталонного слоя ультразвукового им"пульса н учитывают амплитуду приопределении коэффициента затуханияультразвука 1.Однако этот способ характеризуется недостаточно широкими техно-.логическими возможностями, обусловленными невозможностью определення с его помощью коэффициента зату"хания ультразвука в слое не жидкоговещества.Целью изобретения является расширение технологических возможностей.Цель достигается тем, что в способе определения коэФФициента затухания ультразвука в слое веществаперед вводом ультразвукового импульса размещают между точкой вводаультразвукового импульса и слоемвещества дополнительный слой эталоннойсреды, измеряют амплитуды отраженных от границ слоя веществас эталонньии слоями ультразвуковыхимпульсов, а коэффициент затуханияультразвука определяют из соотнешения к. -ЯМа н(0мЯЯ)ежр 44 д м - феи ц 2,:где- коэффициент эатуха 1 ияультразвука в слое веществарс - коэфФициент затухания лонной средин 6 - толщина слоя веществаИ " толщина дополнительногослоя эталонной средыВ- толщина основного слоя 5 эталонной среды0 - амплитуда отраженного отграницы слоя вещества сдополнительньи слоем эталонной среды ультразвукового импульсау0 - амплитуда отраженного Отграницы слоя вещества с основньи слоем эталонной среды ультразвукового импульса 10 - амплитуда отраженного отсвободной поверхности основного эталонного слояультразвукового импульса.Сущность способа определения коэф. Фициента затухания ультразвука вслое вещества заключается в следующем.Размещают слой вещества между основньв и дополнительньв слоями эта донной среди, вводят ультразвуковойимпульс со стороны дополнительногослоя эталонной среды, измеряют амплитуды отраженного от свободной поверх"ности основного эталонного слоя, от раженных от границ слоя вещества сэталонньии слоями ультразвуковых импульсов, а коэффициент затуханйяультразвука в слое вещества определяют из соотношения Таким образом, благодар амплитуд отраженного от св верхности основного эталон отраженных от границ слоя с эталонньии слоями ультра импульсов, исключается нео изменения толяины слоя вещ тем;самьв, расширяются тех ческие возможности.