Способ дефектоскопии однотипных изделий

Номер патента: 1006993

Автор: Дятлов

ZIP архив

Текст

. СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИН 790 ЕТЕН Е ИЗО ТВ У 4799 318 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ РСНОМУ СИИЦЙТЕЛ(56) 1. Авторское свидетельство СССРкл, 6 01 й 5/02, 1973.2. Авторское свидетельство СССР йфкл. 6 01 й 27/82, 1968 (прототип).(54) (57) 1, СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИОДНОТИПНЫХ ИЗДЕЛИИ, заключающийся 80, 1006993 в том, что изделие помещают в ванну с жидкостью, воздействуют на жидкость полем для изменения ее кажущейся плотности до достижения в ней безразличного положения исправных иэделий, а изделия с дефектами определяют по их положению относительно дйаванны,отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа, на жидкость воздействуют электрическим полем и используют жидкость с изменяющейся в электрическом поле кажущейся плотностью.2,Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что в качестве жидкости используют электрореологическую суспензию,Составитель А, ЖигаревТехред О.Неце Корректор М, Демчик Редактор О, Поповка Заказ 2129(67 Тираж 871ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж.35, Раушская наб., д. 4/5 Подписное Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 1 10Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии и сортировки однотипных иэ. делий с дефектами в виде пустот или ино. родных включений.Известен способ дефектоскопии, заклю. чающийся в том, что в композиционную среду помещают контролируемое изделие и по величине его погружения определяют наличие дефектов 1 .Недостатком способа является низкая достоверность контроля вследствие сложности подбора композиционной среды с плот-. ностью, равной плотности контролируемого изделия.Наиболее близким по технической сущ. ности к изобретению является способ дефектоскопии однотипных изделий, заключающийся в том, что изделие помещают в ванну с жидкостью, воздействуют на жидкость полем для изменения ее кажущейся плотнос. ти до достижения в ней безразличного поло. жения исправных изделий, а изделия с дефектами определяют по их положению относительно дна ванны. В данном способе на жидкость воздействуют магнитным полем и используют жидкость с изменяющейся в магнитном поле кажущейся плотностью 21.,Недостатком известного способа является невозможность контроля ферромагнитных изделий.Цель изобретения- расширение функцио- нальных возможностей способа.Цель достигается тем, что согласно способу дефектоскопии однотипных изделий; заключающемуся в том, что изделие помещают в ванну с жидкостью, воздействуют на жидкость полем 06993 2для изменения ее кажущейся плотности до достижения в ней безразличного положения исправных изделий, а изделия с дефектами определяют по их положению относительно днаванны, на жидкость воздействуют электрическим полем и используют жидкость с изменяющейся в электрическом поле кажущейся плотностью.В качестве жидкости может быть исполь-зована электрореологическая суспензия.Способ реализуется следующим образом,В ванну, заполненную жидкостью с изменяющейся в электрическом поле кажущейсяплотностью, погружают контролируемые изделия. На жидкость воздействуют однороднымэлектрическим полем, Изменяя величину напряженности поля, добиваются, чтобы исправные изделия заняли в жидкости безразличноеположение. Иэделия, обладающие дефектами,при этом либо всплывут на поверхность жидкости,.либо опустятся на дно ванны в зависи,мости от вида дефекта. Направление силовыхлиний поля значения не имеет.Электрическое поле может быть выбранонеоднородным, При этом кажущаяся плотностьжидкости будет меняться неравномерно пообъему ванны при изменении напряженностиполя, и.йеисправные изделия расположатся наразных расстояниях от исправных изделий взависимости от размеров дефекта,Способ позволяет производить одновременно сортировку и дефектоскопию больших пар.тий изделий из ферритов, легко может бытьавтоматизирован и не требует перейаладки Э, оборудования при изменении вида контролируемых изделий,

Смотреть

Заявка

3311170, 26.06.1981

ДЯТЛОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопии, однотипных

Опубликовано: 23.03.1983

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1006993-sposob-defektoskopii-odnotipnykh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ дефектоскопии однотипных изделий</a>

Похожие патенты