Способ комплексирования измерения

ИСАНИ ЕН ПАТЕНТУ омитет Российской Федераци о патентам и товарным знака(54) СПОСОБ КОМПЛЕКСИРОВАНИЯ ИЗМЕРЕНИЯ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано дпя контроля многокомплексных веществ непосредственно в транспортных технологических потоках например, для контроля качества углей, руд и продуктов их переработки. С целью повышения точности определения среднего значения путем снижения влияния флуктуаций у возмущающих факторов обьекта контроля в способе комплексирования измерений, включающем многократное измерение каждой из входных величин х, х .х с использованием пре 1 2" " иобразователей информацйи и определение среднего значения контролируемого параметра П, из и-входных величин формируют Ь таких парных сочетаний х, и хв каждом из которых эллилсрас сеи 1 )(51) 5 001021 02 вания входных величин при постоянном значении контролируемого параметра наклонен под углом э = (0,7 - 1,3) 90 к касательной к зависимости х=1(х.) при изменении контролируемого параметра,для каждого из р значений П готовят по ц проб с постоянным значением П и со случайными значениями возмущающих факторов, в каждой пробе измеряют значения пар входных величин и для каж - дого из Ь значений П находят средние значения и параметры эллипсов рассеивания Ь пар входных величин, после чего измеряют входные величины для пробы с неизвестным значением контролируемого параметра, определяют по два ближайших расстояния от пар измеренных входных величин до соответствующих средних значений пар входных величин, определяют относительно значения каждой из и двоек ближайших расстояний в единицах эллипсов рассеивания, по и относительным значениям пар расстояний определяют и значений контролируемого параметра, а среднее значение П определяют по этим Ь значениям контролируемого параметра. 8 ил.Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле многокомпонентных веществ непосредственно в транспортных технологических потоках, например, для контроля качества углей, руд и продуктов их переработки.Известен способ комплексирования измерений, включающий многократное измерение каждой из оходных величин с использованием преобразователей информации, число которых больше числа входных датчиков, определение среднего значения результата измерений и исключение из.результата оычисленных значений, отличающихся от среднего на величину, бо,гьшую допустимой, в котором для повышения точности измерений и уменьшения количества требуемой аппаратуры к каждому входному датчику подключают поочеред,но каждый из преобразователей, на преобразователи, не подключенные к датчикам, пода 1 от эталонные или нулевые сигналы, а при появлении на выходе преобразователя результата, отличающегося от среднего значения на величину, большую допустимой, этот преобразователь исключают иэ процесса подключения к входным датчикам,Недостатком известного способа является низкая точность измерений, связанная с быстрым изменением сигнала с датчика при его выходе из строя.Известен способ комплексирооания измерений, оключа 1 ощий многократное измерение каждой из входных величин с использоваНЙел преобразооателей информации, число которых больше числа входных датчиков, определение среднего значения резул ьтата измерения и искл юче-. ние из результата вычисленных значений, отличающихся от среднего на величину, большую допустимой, о котором к каждому датчику подключают поочередно каждый из преобразователей, на преобразователи, не подключенные к датчикам, подают эталонные или нулевые сигналы, а при появлении на вь 1 хОде преобразователя результата, отличающегося от среднего значения на величину, большую допустимой, этот преобразователь исключают из процесса подключения к входным датчикам, одновременно с процессом измерений сигналы с выхода каждого датчика дифференцируют, результаты дифференцирования сравнивают с априорно установленной максимальной скоростью изменения входной величины и о случае превышения сигналом этого уровня соответствующий датчик исключают из процесса измерений, а получен 5 10 ные с него результаты не учитывают при определении среднего значения.Недостатком известного способа является низкая точность определения среднего значения иэ-за сильных влияний флуктуаций многих возмущающих факторов объекта контроля.Целью изобретения является повышение точности определения среднего значения путем снижения олияния флуктуаций возмуща 1 ощих факторов обьекта контроля,На фиг.1 показана проекция зависимости значений контролируемого параметра П 15 от входных величин Х 1 и Х 2 на плоскостьвходных величин Х 1 ОХ 2, где точкам Оз, 02 и 01 соответствуют увеличивающиеся значения контролируемого параметра Пз, П 2 и П 1, где проекция является линейно возрастаю щей зависимостью Х 2 =- а + ЬХ 1, там жепоказаны эллипсы рассеиоания входных величин Х 1 и Х 2 при постоянных значениях П; на фиг.2 - проекция зависимости значений контролируемого параметра П от второй па ры входных величин Хз и Х 4 на плоскостьХЗОХ 1, где Х 4 - с ехр(оХз); на фиг.З - проекция градуировочной зависимости П от третьей пары входных величин Х 5 и Хв, где Хв = а - ЬХ 5 является линейно падающей З 0 зависимостью; на фиг.4 - проекция зависимости П от четвертой пары входных величин Хт и Хв на плоскость Х 70 Хв, где Хв = с ехр (-ОХ 7) является падающей экспоненциальной зависимостью; на фиг,5 - геометриче- Зская интерпретация определения угла длялинейной растущей зависимости между входными величинами, аналогичной показанной на фиг,1; на фиг.б.- определение угла наклона большой оси эллипса рассеи вания пары входных величин при П = сопз 1для случая экспоненциальной падающейзависимости Хв = с ехр (-бХ 7), показанной на фиг.4; на фиг.7 - аналогичная приведенной на фиг,1 зависимость Х 2 = а+ ЬХ 1 и границы случайной погрешности этой зависимости пунктирные линии по обе стороны от сплошной растущей линейной зависимости, образованные рассеиванием входных величин Х 1 и Х 2 при П = сопят, когда эллипсы рассе иоания входных величин большими осями ф наклонены под нулевым углом к зависимости, то есть, когда большие оси эллипсов рассеивания входных величин совпадают с прямой Х 2 = а+ ЬХ 1; на фиг,8 - аналогичная 55 фиг,7 зависимость, для которой эллипсырассеивания входных величин Х 1 и Х 2 образуют те же по величине границы случайной погрешности, показанные пунктирными линиями по обе стороны от сплошной прямой, но когда эллипсы рассеивания пары вход 20049025 10 20 рассеивания при П = сопи также наклоненпод тем же углом у - (0,7 - 1,3) 90 О к каса 30 35 40 ных величин наклонены к линейной зависимости под прямым углом90 О.Способ комплексирования измерений реализуется следующей последовательностью операций.Из и-входных величин Х 1, Х 2 Хп формируют пару входных величин, например Х 1 и Х 2, таких, для которых эллипс их рассеивания при постоянном значении контролируемого параметра П = сопя наклонен под углом у = (0,7 - .1,3) 90 к касательной к зависимости Х 2 = 1(Х 1).Из той же совокупности п-входных величин формируют вторую пару входных величин, например . Хз и Х 4, длякоторых эллипс рассеивания . при постоянном значении П = сопя также наклонен под тем же углом у= (0,7 - 1,3) 90 к касательной к зависимости Х 4 = т(Хз) при изменениях контролируемого параметра П.Из той же совокупности и-входных величин формируют третью пару входных величин, например Хб и Хб, для которых эллипс. тельной к зависимости Хе = Х(ХБ) при изменениях П.Из той.же совокупности входных величин формирутот четвертую пару, например величин Х 7 и Хв, для которых эллипс рассеивания при П = сопзе также наклонен под тем же углом у = (0,7-1,3) 90 к зависимости Хб - ЯХ 7) при изменениях П.Всего формируют Ь сочетаний из и- входных величин по две; то есть чтобы в каждой сформированной паре одна пара отличалась от любой. другой хотя бы одной величиной. Для приведенных на чертеже зависимостей в конкретном рассматриваемом примере формируются четыре сочетания .входных величин по две,Задают р значений контролируемого параметра П 1, П 2.Пр, Для рассматриваемого случая и фиг.1 - 4 этих значений три. Каждому значению П на фиг,1-4 соответствуют заданные значения контролируемого параметра. Точке 01 соответствует значение П 1, точке 02 соответствует значение П 2 и точке Оз соответствует значение Пз, причем П 1 ОП 2 ОПз Фиг,7 и 8 иллюстрируют пример б значений П; где они также соответствуют условию П 1 П 2 ОПЗОП 4 ПБОПб, Значения контролируемого параметра П должны по возможности равномерно заполнять весь диапазон изменений П так, что П 1 ОПвах, а Пз ПапДля каждого из р значений контролируемого параметра готовят по ц проб с постоянным значением П: для первой пары 45 50 55 входных величин эти ц проб готовят так, чтобы в них случайным образом изменялись значения одного (или одновременно нескольких) наиболее сильных возмущающих факторов объекта контроля; для второй пары входных величин готовят ц проб так, чтобы в них случайным образом изменялись значения второго (или одновременно нескольких еще с ним) возмущающего фактора объекта контроля и так далее и для последней пары выходных величин ц проб готовят так, чтобы в них случайно изменялись значения последнего (или одновременно нескольких последних) возмущающего фактора объекта контроля. Для каждого из р значений П и для каждой из р пар входных величин отбирают(готовят) по ц проб и поэтому общее количество приготовленных проб равно (цЬр).В каждой пробе измеряют значения пар входных величин, Всего измеряют 2 рцЬ входных величин для цЬр отобранных проб.Для каждого из р значений П и для каждой из Ь пар входных величин рассчитывают средние значения пар входных величин (всего р значений средних пар входных величин) и определяют параметры (коэффициенты) эллипсов рассеивания каждой из пар.входных величин для каждого значения контролируемого параметра П (всего для каждого эллипса рассеивания пары входных величин рассчитывают 5 значений коэффициентов и всего рассчитыва,от коэффициенты для Ьр эллипсов, по одному эллипсу для каждой из пар для каждого из значений параметра П).Измеряют все входные величины в пробе с неизвестным значением контролируемого параметра.Определяют по два наименьших расстояния от каждой пары измеренных входных величин до соответствующих средних значений соответствующих парных сочетаний входных величин. Всего определяют 2 Ь пар наименьших расстояний,Определяют относительные значения всех 2 Ь пар наименьших расстояний. Для этого каждое из расстояний делят на размер эллипса рассеивания пары входных величин, причем размер эллипса берут от центра до точки с координатами пары измеренных величин,По каждой паре наименьших относительных расстояний определяют значение контролируемого параметраВсего определяют Ь значений,По рассчитанным значениям контролируемого параметра определяют среднее значение контролируемого параметра П с2004902 102030 45 50 учетом погрешностей определения каждого из Ь эцдчеций контролируемого параметра,Обоснования и особенности каждой из операций способа комплексирования измерений заключаются в следующем.Первой серией операций по комплексировдггию измерений является формирование из и-входцых величин Х 1,Х 2 ХП таких парных сочетаний Х и Х, в каждом иэ которых эллипс рассеивания пары входных ве-, личин при постоянном значении контролируемого пдраметра П = сопз наклонен под углом у=(0,7-1,3) 90 к касательной к зависимости Х - 1(Х) при изменении котролируемого параметра. Обоснование этой серии операций заключается в следующЬм,Из анализа приведенных на фиг.7 и 8 зависимостей следует, что при совпадении проекции градуировочцой характеристики П = 1(Х 1, Х 2) ца плоскость Х 1 РХ 2, то есть зависимости Х 2 = а + ЬХ 1, с большой осью эллипса рассеивания пары входных величин Х 1 и У 2, что имеет место в показанном нд фиг.7 случае, близкие значения.контролируемого параметра П 1, .П 2, Пз, П 4, П 5 и Пб, когорым соответствуют точки соответственно О 1, 02, Озв 04, 05 и Об, отличаются друг от друга с достоверцостыа це более 0,6 для показанных ца фиг.7 единичных эллипсов рассеивания пдр входных величин, когда рассеивание входных величин по соответствуощглгл осям равны средним квддратическим отклонениям этих величин.Из ацалиэа приведенных на фиг,8 зависимостей Х 2 = а + гзХ 1 для различных значений контролируемого параметра П 1 П 2 ПЗП 4 П 5 Пб, которым соответствуют точки 01, 02, Оз, 04, 05 и Об и показанных единичных эллипсов рассеиваггия Е 1, Е 2, Ез, Е 4. Еб и Еб следует, что соседние эллипсы цдчцут снаружи касаться другдругд, если их увеличить в соответствующее число раз. Тдк, для внешнего касания эллипсов Е 1 и Е 2 их нужно увеличить по всем направлениям в К 12 = 1,765 раз, Е 2 и Ез - в К 2 з = 2 раза, Ез гл Е 4 - в Кзл .= 2,31 раза, Е 4 и Е 5 в К 45 = 2,73 роза и Е 5 и Еб - в К 45 =- 3,33 раза, Вероятность выхода случайной точки (Х 1, Х 2) за пределы эллипса рассеивания входньгх величин при К-кратном увеличении размеров эллипса по сравнению с едицичныгл эллипсом при К - 1 определяется по формуле Р = ехр (-К /2) (1). Для нормального одновременного распределения верогятность выхода зд пределы двухсигмового отклонения рдвна 0,05, д вероятность выхода точки Х 1, Х 2) за пределы эллипса рассеивания в 0,05 обеспечивается при К 2 - 1,2248. Поэтому вероятности отличения друг от друга значеций П равны соответственно: П 1 от П 2 не хуже 0,79; П 2 от Пз це хуже 0,86; Пз от П 4 не хуже 0,93; П 4 от П 5 це хуже 0,975 и П 5 от Пб не хуже 0,996. Видно, что. для показанного ца фиг.8 случая вероятность совершения ошибки Рош = 1 - Р при отличении друг от друга соседних значений П па сравнению с показанным на фиг.7 случаем уменьшается от 3 раэ для отличеция П 1 от П 2 до 100 раэ для отличения П 5 от Пб по иэмереццыгл входным величинам Х 1 и Х 2.Этот анализ фиг.7. и 8 показывает, что полоса случайных погрешностей по сторонам проекции градуировочной характеристики еще це определяет величину случайной погрешности расчета контролируемого параметра по результату измерения двух входных величин, так как при одинаковых полосах цд фиг,7 и 8 погрешности получаются далекими друг от друга. Это важное явлегие не было раньше известно в метрологии и поэтоглу не могло учитываться при расчетах случайной погрешности или при формировании сочетаний пар входных величин для определения по ним значений контролируеглого параметра.Иэ анализа зависимостей по фиг.7 и 8 следует, что оптимальной стратегией разработчика метода комплексирования и измерений является формирование такой совокупности сочетания пары входных велицин Х 1 и Х 2, которые бы обеспечивали близкий к 90 угол у между большой осью эллипса рассеивания входных величин при П = сопз 1 и при изменяющихся значениях наиболее сильного возмущающего фактора объекта контроля и касательной к зависимости Х 2 = 1(Х 1). Эта, позволит увеличить то значение К, при котором неизменные по размерам эллипсы начнут снаружи касаться друг друга, Абсолютное эцачецие коэффициента корреляции между некоррелированными с П остатками входных величин Х 1 и Х 2г должно быть по возможности большим, так как с ростом г при прочих равных условиях сначала К медленно увеличивается от 1 при г" 0,5 до 2 при г = 0,875, далее до 3 при г" 0,945, и затегл быстро увеличивается до 10 при г = 0,995 и до 100 при г = 0,99995. Чтобы определить 121 и г 121, поступа ют следующим образом. Из контролируемо го продукта отбирают пробы и в каждойпробе измеряют значения первого сочетания входных величин по две Х 1 и Х 2 и значение контролируемого параметра, По этимданным, например, по методу наименьших квадратов, определяют вид градуировочной характеристики П "1(Х 1, Хг) и коэффициенты ее уравнения. После этого для нескольких например, для шести, как это показано на фиг.7 и 8) значений П, по возможности равномерно заполняющих весь диапазон измерения П, готовят по О проб 10) с постоянным значением контролируемого , параметра Пг= сопя и с произвольно изменяющимися значениями первого и возможно еще нескольких наиболее сильного возмущающего фактора и в каждой пробе измеряют значения входных величин Х 1 Н Хггь По результатам измерений каждой иэ двух входных величин определяют средние значения при П 1 = сопзт Х 11Х 111, Х 21Х, Х 21 (2) 1=1 1=1средние квадратические отклонения случайной погрешности 11= (-1)(Х 111 - Х 11)2(3)16 О 1 = ( - 1) , (Х 211 - 721) коэффициент корреляции между входнымивеличинами Х 11 и Хгг Г 121 =, (Х 111 Х 11) (Х 211 - Х 1. (Ь 11021) = Кггг(оггогг)(4) По этим же данным для уравнения эллипса рассеивания пары входных величин при П 12 соп 82,а 121 Х 1 + 2 Ь.121 Х 1 Хг+ С 1 г 1 Хг +2+ 2 огггХ 1+21 гггХг+ ггггопределяют его коэффициенты 0121 = У 21 К 1 гг - %1 0311121 =%1 К 121 - У 21 411бггг = Хггагг+ Хггогг - 2 Хгг ХггКггг,Сггг =ЖПо этим же данным определяют угол наклона большой оси эллипса рассеивания остатков входных величин к оси абсцисс(а на фиг,5)Ц 2: аггг = 2 гггг(тггс 61 фг - 41)Р) 10Теперь определяют угол наклона проекции градуировочной характеристики Хг =.Тогда, согласно фиг.5 и 6 определяютугол между касательной к проекции, градуировочной характеристики .и большой осью 20 эллипса рассеивания остатков входных величин Х 1 и Хг(9)Здесь знак абсолютной величины учитывает, что при падающей зависимости Хг = г(Х 1) ф 90, а а 90, то есть, что ЗО ,Если входные величины выбраны правильно, то Обеспечивается выполнение условияуггг = (0,7-1,3 ) 90 О. " (10)Если же условие (10) не выполняется, товыбирают другое сочетание входных величин, чтобы обеспечить согласно (10) болееблизкий.к 90 О угол между большой осьюэллипса рассеивания и касательно к проекции градуировочной характеристики,.Аналогично описанному выбирают вто 45 рое сочетание. пары входных величин Хз иХ 4, например, для .показанной на фиг,2проекции градуировочнай характеристики . Х 4 " с ехр (бХз). Отличие заключаетсятолько в.том, что ц проб отбирают при из 0 менениях второго (или группы других) возмущающего фактора при Пг = сопя.Аналогично Описанному выбирают.третье сочетание входных величин Х 5 и Х 8,например, для показанной на фиг.З проек 55 ции градуировочной характеристики Х 6 ==а - ЬХ 5. Отличие заключается только в том,что о проб отбирают при изменениях третьего (или группы третьих) возмущающегофактора при П 1= сопзт, 2004902Аналогично описанному выбирают четвертое сочетание пары входных величин Х 7и Хв, например, дпя показанной ца фиг.4проекции градуировочной характеристикиХв = с ехр (-с 3 Х 7), Отличие заключаетсл лишьв том, что с проб отбирают при измененияхчетвертого или группы четвертых возмущающего фактора при П 1 = со)э 1,Процесс выбора пар входных величинпрекращают о том случае, когда осе значимые оозмуща)ощие факторы учтены выбором сочетаний входных величин по две,Из результатов процесса выбора парных сочетаний входных величин длл каждойпары входных величин запоминают средниезначения пар входных величин длл несколький значений контролируемого параметра(например, дпя шести, как показано нафиг,7 и 8), коэффицие(1 ты уравнений эллипсов рассеивания входных Величин такжедлянескольких значений контролируемого параметра, Таким образом, о результате отбора необходимых сочетаний оходныхвеличин по дое произошла и градуировкаспособа комплексирования измерений.Теперь измеря)от все отобранные парывхОдных величин Х 1 А и Х 2 А, Хзп и Х 40, Х 5 н иХбн, ХТ 1 и Хв 1, которыми определяются соответственно: координаты точки А ца фиг.1,координаты точки О ца фиг,2, координатыточки Н ца фиг,3 и координаты точки 1 наФиг.4,По результату измерения входных величин Х 1 л и Х 2 д ОГ ределя)от расстояния отточки А до центров всех эллипсов рассеивания Остатка 3 ВхОДных Величин Х 1 и Х 2, тоесть расстояния Ао 1, Ао 2, Аоз, Ао 4, Ао 5 и Ао 5для показанного на фиг,7 и 8 случая или дляпервых трех расстояний о показанном нафиг.1 случае. Для расстояний Ао 1 и Ас)г ближайших к точке А центров эллипсов (фиг,1)формулы име 1 от видО 1 = А 01 = (Х 1 А - Х 11)+ (Х 2 А Х 21)б 2 Л 02 = (1 д - Х 12) + (Х 2 А - Х 22)(11)Па двум ближайшим расстояниям определлют их относительные значенил, выраженные саотоетственцо о единицах размероо эллипсов ВО 1 и С 02. Для этого сначала определяют координаты точек В и С пересечения прямых А 01 и АОг соатоетственно с эллипсами Е 1 и Е 2. Аналогичноуравнецию (5) запишем ураонение эллипса Ега 122 Х 1 +2 э 122 Х 1 Х 2+С 122 Х 2 +г+ 2 с 122 Х 1+ 2122 Х 2 + Т 122 = 0 (12) Запишем уравнения прямых А 01 и А 02, как уравнения прямых, проходящих через точки А и 01 и А и 02 соответственно с известными координатами А(Х 1 д, Х 2 д), 01(Х 11, Х 21) И 02(Х 12, Х 22)5 (Хг-Хгд)(Х 21-Хгд) = (Х 1-Х 1 д)(Х 11 Х 1 д) (13)(Хг-Хгд)(хгг-Хгд) = (Х 1-Х 1 АХХ 12- Х 1 А) (14)Решая совместно уравнения (5) и (13),находят координаты точки В.10 Аналогично, решая совместно уравненил (12) ц (14) относительно Х 1 и Х 2,.находяткоординаты то ки С,Затем определяют относительные значения расстояний А 01 и А 02.15с) 10 = с 1 сб, с 20 = сгс) с (15)где расстоянил св = 01 В и сс = 02 С определяются по координатам точек В и С и 20 точек 01 и 02.Сумма относительных расстояний с 1 О ис 20 характеризует разность значений контролируемого параметра Ь П = П 1-П 2. Тогда значение неизвестного параметра Пд, соот оетствующее совокупности входных величин Х 1 л и Х 2 А, определяется по формуламПд = П 1- Л Пс 10(с 10+с 20)30 Пд = Пг+ Ь Пс 20(с 1 О+ с 20) (1 б)Значения Пд и Пд определены с цеодинаковыми погрешностями. Более точным является то значение, которое определено 35 по меньшему относительному расстоянию,Поэтому уточненное значение контролируемого параметра определяют по значениям Пд и ПА, взятым с весами(коэффициентами важности), пропорциональными обрат ным отцосительнь)м расстояниям от точки АДо центров эллипсов Е 1 и ЕгПд(ПАс 20+ГАсс 10)(с 10+(120) 1 == (П 1 с 20+П 2 с 10)(с 10+с 20) (17)Объясняется это тем, что при переносесоответствующего эллипса о точку Л ближний к точке А эллипс Е 1 будет меньше де формироваться, чем более дальний эллипсЕ 2 (из фиг.1 видно, что при переносе из точки 01 эллипс Е 1 переносом в точку 02 деформируетсл в эллипс Е 2).Аналогично по результату Хзс), Х 4 э из мерения входных величин Хз и Хз определяют соответствующее точке О значение контролируемого параметра По.Аналогично по результату Х 5 н, Хбн входных величин Х 5 и Х 6 определяют соответст13 2004902 14 вующее точке Н (фиг,3) значение контролируемого параметра Пн.Аналогично по результату измерения Х 71, Хв 1 входных величин Х 7 и Ха определяют соответствующее значение контролируемо го параметра П.Заведомо, например, с помощью образцовых средств измерений определяют погрешности получения значений контролируемого параметра с помощью всех пар 10 входных величин. В рассматриваемом примере определения значений контролируемого параметра по четьрем парам входных величин эти погрешности соответственно равны А для пары величин Х 1 и Х 2, О для 15 пары входных величин Хз и Х 4, Н для парь, входных величин Хв и Х 6, 1 для пары входных величин Х 7 и Хз, Поэтому по четырем уточненным результатам Пд, По, Пн и П 1 с учетом погрешностей получения этих ре зультатов определяют истинное значение контролируемого параметра по формуле(од + од 2 + о + Ж ) 30 чайными значениями возмущающих факто ров, в каждой пробе измеряют значенияпар входных величин и для каждого из Р значенийнаходят средние значения и параметры эллипсов рассеивания й пар входных величин, после этого измеряют 40 входные величины для пробы с неизвестным значением контролируемого параметра, определяют по два ближайших расстояния от пар измеренных входных величии да соответствующих средних значений Ь пар входных величин, определяют относительные значения каждой из И двоек ближайших расстояний в единицах эллипсов рассеивания, по т относительным значениям пар расстояний определяку Ь значений контролируемого параметра, а среднее значение ,определяют па этим И значениям контролируемого параметра,П = (Пдо+ П,о,+ П.с + По)(18)Способ комплексирования измерений особенно перспективен для применения в многомерных спектральнь 1 х приборах. Способ позволяет превратить гамма-спектраметр в универсальный прибор одновреФормула изобретенияСПОСОБ КОМПЛЕКСИРОВАНИЯ ИЗМЕРЕНИЯ, включающий многократное измерецие каждой из входных величин (Х 1, Х 2,Хл) с использованием преобразователей информации и определение среднего значения контролируемого параметра ); отличающийся тем, что из п входных величин формируют Ь таких их парных сочетаний Х и Х 1, в каждом из которых эллипс рассеивания входных величин при постоянном значении контролируемого параметра наклонен под углом у = (0,7+1,3) 90 к касательной к зависимости Х = 1(Х) при изменении контролируемого параметра, для,каждого из значений контролируемого параметраготовят по а проб с постоянным значениеми со слуменного контроля содержаний нескольких компонентов в различных материалах. При этом из совокупности и-входных величин (интенсивностей потоков излучения в разных участках спектра) выбрать в-входных величин с образованием из них 0,5 в(пт) парных сочетаний для контроля по ним первого контролируемого параметра, входных величин с образованием из них 0,5 р (р) парных сочетаний для контроля па ним второго параметра, входных величин с образованием из них 0,5 (-1) парных сочетаний для контроля по ним третьего параметра, ивхсгдных величин с образованием из них 0,5 п(п) парных сочетаний для контроля по ним четвертого параметра и т.д, При этом почти всегда собладается неравенство гп+рЬ+)п, то есть многие входные величины используются для контроля нескольких параметров, Так, например, из совокупности и = 10 входных величин было выбрано по 6 входных величин с образованием иэ них па 12-15 совокупностей по две величины для контроля четырех показателей качества угля, Погрешность контроля при этом уменьшилась более чем в 8 раз по сравнению с известными способами контроля качества угля.(56) Авторское свидетельство СССР М 726427, кл, 6 01 О 21/02, 1979.Авторское свидетельство СССР Ь 1278582, кл. О 01 О 21(02, 1985.