Устройство для измерения профиля и положения пучка заряженных частиц
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАНИ ЕИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТИЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик(15) Дата опубликования описания 25,05 осудврственныи комит Совета Министров ССС оо делам изобретений и открытий) УСТРОЙСТ электродам камеры уст ный электрод, который пучка параллельн новлен дополните должен иметь по циалу измеритель нциал, близкий к поте го электрода, наприм рак уск нулевои.Предлагаемое усполучать недискретную ойство позволяинформацию о ке. 10 формул етени Устройство для изме офиля и поожения пучка заряженных астиц, сод с аспол жашее ионизационную камеру р ожен 15 ными параллельно один д мерительным и высоковольтным э и, отругому из лектр одам с целью личаюше зрешения, н в виде улучшения прос измерительныйО нити, установл мещения в плоскости, перпендикулярнои направлению пучка, причем за нитью в направлении пучка параллельно упомянутымэлектродам установлен дополнительный ектр Предлагаемое устроиство предназначено для определения пространственных хатеристик пучков заряженных частиц оторителей.Известно применение для этой цели ионизационной камеры, содержащей высоковольтный и измерительный электроды, плоскости которых параллельны одна другой и перпендикулярны исследуемому пучку, причем измерительный электрод представляет собой набор параллельных полос (ламелей), Сигналы с ламелей с помощью электронного коммутатора позволяют получить профиль пучка на экране осциллографа в виде гистограммы.Однако в известной камере пространственное разрешение, определяемое шириной ламелей, низко.Целью изобретения является улучшение пространственного разрешения устройства,Эта цель достигается тем, что измерительный электрод выполнен в виде нити, установленной с возможностью перемешения в плоскости, перпендикулярной направлений пучка, причем за нитью в направлении еся тем,что, анственного раектрод выполнеой с возможностью пере
СмотретьЗаявка
1804702, 04.07.1972
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8851
АРТЕМОВ В. И, ПЕЕВ Ф. А, РЕПРИНЦЕВ Л. В
МПК / Метки
МПК: G01T 1/18
Метки: заряженных, положения, профиля, пучка, частиц
Опубликовано: 25.02.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-479417-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-profilya-i-polozheniya-puchka-zaryazhennykh-chastic.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения профиля и положения пучка заряженных частиц</a>
Предыдущий патент: Способ лечения кожных раков
Следующий патент: Способ разложения аммиака
Случайный патент: Способ получения удобрения