Всессмознаяniieuhg”u).: ; -ṕi

Номер патента: 1056047

Опубликовано: 23.11.1983

Авторы: Домашевский, Медведев

МПК: G01N 29/04

Метки: качества, ультразвукового, ферромагнитных

...возбуждают в изделии поверхностные акустические колебания, измеряют параметры прошедших через среду и изделие акустических сигналов и по параметрам последних судят о квчествеГ 2 1.Недостатком этого способа является низкая достоверность контроля качестна, обусловленная ограниченными возможностями изменения частоты вбзбуждаемых акустических колебаний, что в конечном итоге ведет к пропуску дефектов на определенной глубине залегания.Цель изобретения - повышение достоверности контроля.Эта цель достигается тем,что согласно способу ультразвукового контроля качества ферромагнитных изделий, заключающемуся в том, что наносят на поверхность изделия контактную среду возбуждают в изделии поверхностные акустические колебания, измеряют параметры...

Номер патента: 446827

Опубликовано: 15.10.1974

Авторы: Афанасьев, Гершенгорен, Гитис, Копанский, Перов, Сажин, Соломатин

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскоп, ультразвуковой, цилиндрических

...подключения искателейк индикатору дефектов 9 и ко вхо лац П каскалов совпадений 10-15.к74обеспечивает регистрацию дефекта ,выявленного любым искателем одного сечения.Следует также отметить, что настройка зоны контроля приведенной многоканальной системы осуществляется так же, как и для одноканальной системы и производится однократно для всех однотипных например, раздельно-совмещенныхискателей на выбранном для контроля диаметре прутка. ПРЕДМЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯ Ультразвуковой дефектоскоп для контроля цилиндрических изделий, содержащий акустический блок контроля, осуществляющий контроль в нескольких сечениях иэделия и 1 имеющий несколько групп искателей, расположенных в каждой группе по окружности, коммутирующее устройство, к которому...

Номер патента: 1165980

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Карелин, Станьков, Эйчин

МПК: G01N 29/04

Метки: волнами, плоскопараллельных, сдвиговыми, ультразвукового

...отраженные от ребер одной из кромок, не будут расположены по времени за эхосигналами, отраженными от ребер противоположной кромки, зоны контроля располагают между эхо-сигналами от ребер кромок, а наличие дефектов в каждой из кромок одновременно определяют по появлению эхо-сигналов в зонах контроля,На фиг. 1 показана схема расположения преобразователей при контроле; на фиг. 2 - расположение эхо-сигналов при контроле.На схеме изображены наклонные ультразвуковые преобразователи 1 и 2 и контролируемое изделие 3, представляющее собой лист с кромками 4 и 5, в которых находятся дефекты 6 и 7. В изделии 3 распространяются два пучка ультразвуковых колебаний: от преобразователя 1 - ограниченных лучами 8 и 9 в направлении кромки 4, от...

Номер патента: 1497561

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Гурвич, Марков

МПК: G01N 29/04

Метки: зеркально-теневого, равного, сечения, ультразвукового

...ослабление амплитуды принятых УЗ-колебаний (фиг,3). Измеряют крутизну изменения амплитудной огибающей принятых УЗ-колебаний, например, путем измерения временного интервала 6 между моментами совпадения амплитуды принятых УЗ-колебаний с заданными пороговыми уровнями Чпр, и Чпорд(фиг. 4) . Крутизна А = - , где Ч -ач амплитуда. принятых УЗ колебаний,- время, в случае наличия дефекта 4 в изделии 1 должна лежать в интервале значений (1).Так при контроле железнодорожных рельсов, уложенных в путь (КСО,5) с помощью преобразователей 2 и 3 с параметрами а = 12 мм. и= 30.интервал времени ЬС изменения амплитуды Ч принятых УЗ-колебаний от Ч . до 0 для скорости ч = 36 км/ч должен находиться в пределах О, 711, й1, 4 мс, а для скорости ч. = 90...

Номер патента: 1527573

Опубликовано: 07.12.1989

Авторы: Гурвич, Марков, Разорвин

МПК: G01N 29/04

Метки: ультразвукового

...формулеЬсн Дки = - (- - + )2 И, И где Р, - доплеровский сдвиг частоты1сигнала;Г - частота излучаемых колебаоний;Ч - скорость сканирования;с - скорость распространенияупругих колебаний в контролируемом изделии;Ы, - угол озвучивания элементарного участка дефекта, разделение частотного спектра эхосигнала на две узкие частотные полосЫ эквивалентно расщеплению диаграммы направленности 20 где преобразователя на два узких кваэилуча, располоя енных под углами - Ы,и К нк нормали (на чертеже квази- лучи заштрихованы). В процессе скани- Уи рования эти квазилучи последовательно 25 Ы озвучивают отражатель (дефект), расположенный внутри контролируемого изделия, При этом моменты нахожденият отдельно каждого квазилуча в одной и той же отражающей зоне...