Способ определения деформаций в паяном шве

Номер патента: 963687

Опубликовано: 07.10.1982

Авторы: Книпер, Трухов

МПК: B22C 1/22

Метки: деформации, образца, смесей

...извлечения образца его повторно устанавливают в оснастку, замеряют расстояние, на которое выступает образец из оснастки, и по тангенсу угла формовочного уклона оснастки определяют деформацию,Способ поясняется фиг. 1 и 2 и осуществляется следующим образом.Смесь надувают в коническую полость нагреваемого ящика 1 с углом формовочного уклона не более 2, так как в реальной оснастке углы больше 2 практически не встречаются, После отверждения образца 2 в ящике при фиксируемой температуре в течение необходимого технологического времени, с помощью индикатора 3 измеряется положение верхней плоскости образца в оснастке. Затем образец 2 фиксируемым усилием выталкивается из ящика 1 до полного прекращения контакта с полостью ящика (усилие...

Номер патента: 1154463

Опубликовано: 07.05.1985

Автор: Дьяконов

МПК: E21C 39/00

Метки: грунта, деформаций, образцов, радиальных

...деформаций образцов грунта при осевом нагружении, содержащее два жестких дугообразных элемента, соединенных между собой посредством шарниров. Дугообразные элементы имеют по одной точке касания25 с образцом, с одной стороны соединены пружиной, а с другой - измерителем перемещения 21 30Недостатком известного устройстваявляется низкая точность измерения,обусловленная тем, что наличие толькодвух точек касания не позволяет учестьпри измерениях диаметра искажений фор"мы, например эллиптических, сечения35образца. Кроме того, возможно смещение точек касания в плоскости измеряемого сечения и наклон устройствапри воздействии на образец цикличес 46кой нагрузки,Цель изобретения - повышение точности,Указанная цель достигается тем,что...

Номер патента: 1314252

Опубликовано: 30.05.1987

Авторы: Герасименко, Ильяшевич, Калайджян, Малков, Рогожкин

МПК: G01N 3/06

Метки: деформации, испытательной, машине, образца, регистрации

...рейки 1,перемещается от продольной оси зажима 5. Цанга 8 под действием пружины7 зажимает рейку 1,и регистратор 4вместе с реечной передачей оказывается вновь подключенным, 2 ил,закреплен на активном захвате испытательной машины. Усилие закрепления цангой 8 зубчатой рейкой 1 регулируется с помощью втулки 11 накидной гайкой 12Образец 13 устанавливают в захваты испытательной машины,Устройство работает следующим образом.Под действием приложенной к образцу 13 нагрузки образец деформирует. - ся, Расстояние между активным и пассивным захватами увеличивается, При перемещении активного захвата испытательной машины перемещается зубчатая рейка 1, вращая при этом зубчатое колесо 2, поворот зубчатого колеса передается регистратору 4...

Номер патента: 1703956

Опубликовано: 07.01.1992

Авторы: Душницкий, Синявский

МПК: G01B 5/30

Метки: деформаций, образца, синявского

...при установке измерительной опоры в исходное положение в измерительном блоке или при использовании устройства для измерения ускорения, измерительная опора снабжена демпфером 15, Изменением длины плеча измерительной опоры от шарнира до нижнего свободного конца можно изменять масштаб увеличения измеряемых деформаций, что целесообразно для более полного использования диапазона измерительного блока при определении деформаций в образцах с разными упругими характеристи 170395610 15 20 25 30 35 40 45 50 55 ками, Кроме того, эта же цель может достигаться эа счет изменения измерительной базы,Измерительный блок преобразует механические перемещения измерительной опоры с установленной на ней маской в электрические сигналы, фиксируемые...

Номер патента: 1776976

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Ковалев, Морозов, Санников, Терентьев

МПК: G01B 5/30, G01B 7/16

Метки: деформации, образца

...В процессе деформации на замеренную работу выхода электрона (как в прототипе) влияет энергия положительных ионов примесных атомов, которые окружают участки с большими плотностями дислокаций, и электронов проводимости, концентрация которых изменяется в условиях термодинамического неравновесия, поэтому замерить чистую работу выхода электрона в процессе деформации нельзя, Измерение же полного поверхностного потенциала исключает влияние указанных факторов на результат замера. Также позволяет повысить точность определения деформации образца за счет снижения фона измерения, определяемого изменениями параметров окружающей атмосферы, путем стабилизации среды в зазоре между исследуемым и эталонным образцами при его...