Икроструктуркого исследования материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства ЛЪ 1. К 1 и 1/32 Заявлено 25, т 1.1970 ( 1452998/22-1)с присоединением заявки М Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРнор ите УДК 620.18.4(088.8) публиковано 07.1.1972, Бюллетень М 3 ата опубликования описания 24.И,1972 вторыобретения М. Г, Лозинский, А. И. Танацов. Кузищев титут магцицоведен явит ратрцую рабочу 1 о ках ар а, содержащую сжил гон, воздух и т. д,), Г тецспвцого кипения,с выравнивании темпера механизма нагружеция водят механическое ца зрачный слой жидко стекла осуществляют блюдение (фотографир ку полированной пове мощью металлографцч Известен способ мцкроструктурцого исследования ццзкотсмксратурцой металлографии материалов при низких температурах. Однако он не позволяет осуществлять прямое наблюдение за кипетикой изменения строения. 5 м а терн алов.Для лолучения прямых эксперимецтальц 7 х данных о кинетике изменения строения материалов при деформировании их помещают в среду сниженного газа и наблюдение за раз вивающимея на поверхности рельефом ведут непосредственно через прозрачц 7 й слой этого газа.Способ позволяет изучать особенности механизма деформации, фазовых и структурн 7 х 15 превращений в металлах и,сплавах при различных температурах, определяем 7 х в 7 бором хладагента (сжиженного газа).Исследуемый образец с приготовлецным ца цем металлографичеоким шлифом укрепляют 20 Гцтлифом вниз) в горизонтально расположенн 7 х захватах нагружающего устройства, позволяющего, например, проводить одноосное растяжение, и погружают в низкотемпесру типа сосуда Дьюецный газ (азот, аросле прекращения цнжиженного газа (прн тур образца, деталей и хладагента) произгруженце и через прого газа и схтотровые непосредственное наованце илп киносьемрхцости образца с по- еского микроскопа). мет изобретения ного исследования емпературах, отлиью получения пряанных о отинетике риалов при дефорв среду сжиженноразвивающпхося на дуг непосредственэтого газа,мцкростр в при,ни тем, что, римецтал строения , их ломе наблюден и рельеф розрачньп" уктур эких т с цел ЬН 7 Х Д мате щают ие за ом веслойСпосоо материало иигоиийся М 7 Х ЭКСП изменения миоовацш го газа и поверхное цо через пОСОБ МИКРОСТРУКТУРНОГО ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ
СмотретьЗаявка
1452998
М. Г. Лозинский, А. И. Тананов, В. К. Кузищев, Институт машиноведени
МПК / Метки
МПК: G01N 1/32
Метки: икроструктуркого, исследования
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-325538-ikrostrukturkogo-issledovaniya-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Икроструктуркого исследования материалов</a>
Предыдущий патент: Способ получения реплик с недекальциниройхнтгбтхтканей
Следующий патент: Прибор для определения прочности образе строительных материалов«uithlho-техшешцг
Случайный патент: Способ постройки здания