Способ определения логарифмического
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 319273
Автор: Балодис
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоцмдлмстимескихРеспублик Зависимое от авт. свидетельствааявлено 04,1.1970 ( 1391522/18-10 Кл. б 01 п 29 и заявкис присоединен11 рпоритет осудврственный номитеСовете Министров СССРпо делам изобретенийн открытий УДК 534.6.08(088,8) 7.1 Х.1973. Бюллетень3 публпкован бликования описания 31.1.1974 Авторизобретени. А. Бало нститут механики полимеров АН Латвийской ССР Заявите ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЛОГАРИФМИЧЕСКО ДЕКРЕМЕНТА ЗАТУХАНИЯ КОЛЕБАТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ2 ом измер полнитель Целесоо ной криво образца у пию к ее 6 при этоаПри использовании ча постыл реверсивного счет та может быть получено табло частотомера, отомера с возможзначение декременнепосредственно по 1 редмет обретепи го дестемы нсную резос знаю пони изчасто частоо разой всСпособ определени кремента затухания путем подстройки ее и выбранные на опр нансной кривой до и чения, отличающийся вышения точности и мсрения, преимущест тах, измеряют отнош ты к частотам до и п ности этих отношени личине. я логарифмическо колебательной си частоты на резона еделенном уровне после резонансны тем, что, с цель сокращения време венно при низких ения резонансной осле резонанса и п 3 судят об искомИзобретение относится к области акустических измерений и может быть использовано при опрсделении логарифмического декремента затухания колебательной системы, в частности образца материала. Возможно его при менение и в радиоизмерительной технике.Известные способы определения логарифмического декремента затухания колебательной системы путем подстройки сс частоты на резонансную и выбранные на определенном 1 уровне резонансной кривой до и после резонансные значения нс позволяют измерить с достаточной точностью декрсмснт, а также сократить время его измерения при низких частотах. 1Предлагаемый способ отличается тем, что, преимущественно при низких частотах, измеряют отношения резонансной частоты и частотам до и после резованса и по разности этих отношений судят об искомой величине. 2Способ осугцсствляют следуюгцим образом.,При измерении логарифмического дскремепта затухания образца материала образец возбуждают на его резонансной частоте 1,. Частоту дополнительного генератора устанавли вают равной о. Далее образец возбуждают на частотах , и е до и после резонанса, при которых амплитуда колебательной скорости образца уменьшается определенное число раз, и, например, электронно-счетным частотомс яют отношения - и - частот до.то УоЛ Лого генератора и образца,разно выбирать уровень резонанс, на котором амплитуда колебаний меньшается 1+1 раз по отношерезонансному значению, Декремснт получают по формуле:Х УЛ У 2
СмотретьЗаявка
1391522
А. А. Балодис Институт механики полимеров Латвийской ССР
МПК / Метки
МПК: G01N 29/00, G01N 29/20
Метки: логарифмического
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-319273-sposob-opredeleniya-logarifmicheskogo.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения логарифмического</a>
Предыдущий патент: Способ определения временного сдвига
Следующий патент: 319274
Случайный патент: Способ выплавки стали