Способ ультразвукового контроля структуры и состава материалов и изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 257835
Авторы: Всесоюзный, Конструкторский, Химченко
Текст
ОП ИСАНИВИЗОБРВТВ Н ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республикавт. свидетельства Ъ -Зависимое с,л 42 с, 46,О Заявлено 20,Х 11,1965 ( 1043860 25-28) с присоединением за и,х,о Комитет по делам МПК С 01 п С 011 т 3 ДК 620.1/9,16:620риоритет -изобретении и открытии при Совете Министров СССРО.Х 1,1969. Бю ания описан Опубликова Дата опубли лстепь Ло 31 т 30. Х 1.1970Авторизобретения В. Химченк сесоюзный научно-исследовательский и конструкторский инсти химического машиностроениявител СПОСОВ УЛЬТРАЗВУКОВОГО КОИТРО И СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ И И СТРУКТУРЫЛИЙ 2 стен способ льтр ры и состава мат ором сравнива 1 от ых сигналов, пол) зцах при различ амплитуд донных тех хке частотах Уже изроля стр к азвукового контериалов и издеотношение амчаемых на эта 1 ых ч а стот ах, с сигналов, полуна испытуемых лий, при кот плитуд дони лонных обра отношением чаемых при изделиях. едмет изобретени емый способ отличается о, с целью ускорения тношения амплитуд э. на двух частотах, выбра ение сравниваемых амп отклонении структурь изделия от эталонног нуля, а при недопустих нулю. от изве процесса осигналов нных так, 1 птуд при 1 атериала ооразца Частоту ультразвукагулируют на эталоннь мплитуду сигнало бразцах из того хк Предлагного тем, чконтроля, осравниваютчтобы отношдопустимомиспытусмогбыло большпении равно материала и тех хке размеров, что и контролитуемое изделие. 5 Спосоо ультразвукового контроля структуры и состава материалов и изделий, основанный на сравнсни; отношения амплитуд эхосигналов, получаемых на эталонных образцах при различны.; ультразвуковых частотах, генс рпруемых одним пьезоэлементом искательнойголовки. с отношением амплитуд эхо-сигналов, но,1 учаемых при тех хке частотах на испь 1 туемых изделиях, от.11 чающшся тем, что, с целью ускореш 1 я процесса контроля, сравнение отно.5 шений амплитуд эхо-сигналов ведут на двухчастотах, выбранных так, чтобы отношение сравнпваемы.; амплитуд при допустимом отклонении структуры (состава) материала испытуемого изделия от эталонного образца бы- -О ло оольше нуля, а при недопустимом отклонепи равно нулю.
СмотретьЗаявка
1043860
Н. В. Химченко, Всесоюзный научно исследовательский, конструкторский институт химического машиностроени
МПК / Метки
МПК: G01N 29/00, G01N 29/10
Метки: состава, структуры, ультразвукового
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-257835-sposob-ultrazvukovogo-kontrolya-struktury-i-sostava-materialov-i-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ ультразвукового контроля структуры и состава материалов и изделий</a>
Предыдущий патент: Устройство для ультразвуковой дефектоскопии изделий цилиндрической формы
Следующий патент: Датчик для ультразвукового контроля изделий
Случайный патент: Устройство для балластировки трубопровода