Способ исследования деформированного состояния заготовки

Номер патента: 186745

Авторы: Антоненков, Попков

ZIP архив

Текст

Союз Советскит Социалистических Респу 0 лииявле ением заявк с присо Пр иор и МПК 6 011Б 21 с 1УДК 620,113,4:621,7.044.2088.8) Комитет по деизм зобретений и открыт при Совете Миииотров СССРОпубликовано ОЗ,Х,1966 Дата опубликования о Бюллетень М 19 исаи и я З,Х.1966 Авторы зобретен опков нтоненков и Заявит ОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ДЕФОРМИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ ЗАГОТОВКИпределения остаточной де х этапах процесса штам ования на заготовке тен пособа рази монти особ исследования яния заготовки при воляет исследовать ри импульсной штам вырубают в процессе м, установленным в зо уемом этапе деформ зобретения редмет ния.Инструментом длслужить замкнутыйподвижно устанавлидеформирующегося я вырубки образца может или незамкнутый нож, неваемый на пути движения материала. При движеИзвестен с формации н нонки путем зодатчиков. Описываемый сп мированного состо вой штамповке поз мацию заготовки п Для этого образец нонки инструмента формации на требдефор- листо- дефорповке. штамне де- ировании материала на нож в процессе деформаципроисходит вырубка образца, По результатамобследования последнего судят о деформациматериала в месте установки ножа,Способ исследован стояния заготовки п путем определения 0 формации образцов,личающийся тем, чт деформации заготовк повке, образец выру повки инструментом 5 деформации на треб вания.ия деформированного сори листовой штамповке величины остаточной девзятых из заготовки, ото, с целью исследования и при импульсной штамбают в процессе штамустановленным в зоне уемом этапе деформиро

Смотреть

Заявка

860917

О. Д. Антоненков, Г. И. Попков

МПК / Метки

МПК: G01N 3/28, G01N 3/58

Метки: деформированного, заготовки, исследования, состояния

Опубликовано: 01.01.1966

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-186745-sposob-issledovaniya-deformirovannogo-sostoyaniya-zagotovki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования деформированного состояния заготовки</a>

Похожие патенты