Способ определения термоэлектрической эффективности полупроводников

Номер патента: 186538

Автор: Лискер

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ Союз Советских Социалистических Республик(088,8) иоритетубликовано ОЗ.Х.1966. Бюллет митет по делам изобретении и открцти при Совете Министров СССРДата опубликования описания 26,Х.196 ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕРМОЭЛЕКТ ЭФФЕКТИВНОСТИ ПОЛУПРОВОДН ЧЕСКООВ которую измеряютчески это обусловлтельного тепловоготы Пельтье на торц5 при прохождении чроткого замыкания.Термоэлектрическределяют по следую110Л= ую эф щей ф ивност ле:- ол град редмет изоб ени ермоэлектрической дников, отличаюрощения процесса опроводность обействию теплового при коротком зао величине термости судят по разй теплопроводностеплопроводности,15 Способ определения т эффективности полупрово иийся тем, что, с целью уп измерения, измеряют тепл разца, подвергнутого возд 20 потока при нулевом токе и мыкании образца, причем электрической эффективно ности полученных значени ти, отнесенной к величине 25 измеренной при нулевом тоИзвестные способы определения термоэлектрической эффективности полупроводников раздельным измерением параметров а, Х и о либо по методу Хармана сопряжены с большой затратой времени и требуют строгого соблюдения условий эксперимента.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что последовательно измеряют теплопроводность образца, подвергнутого воздействию теплового потока, при нулевом токе и при коротком замыкании образца, причем о величине термоэлектрической эффективности судят по разности полученных значений теплопроводности, отнесенной к величине теплопроводности, измеренной при нулевом токе,Таким образом, термоэлектрическую эффективность определяют поизмерению одного физического парамегра и на одной экспериментальной установке, что упрощает процесс измерения,Величину теплопроводности узнают любым из известных способов. Теплопроводность Х, измеренная в условиях тока короткого замыкания, всегда больше теплопроводности Хо,при нулевом токе. Физи епо появлением дополни потока вследствие тепло ах образца, возникающей ерез последний тока ко

Смотреть

Заявка

1023776

И. С. Лискер

МПК / Метки

МПК: H01L 21/66

Метки: полупроводников, термоэлектрической, эффективности

Опубликовано: 01.01.1966

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-186538-sposob-opredeleniya-termoehlektricheskojj-ehffektivnosti-poluprovodnikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения термоэлектрической эффективности полупроводников</a>

Похожие патенты