161566

Номер патента: 165797

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Антонов, Батура, Гладышев, Ковален, Пхкй

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектриковбиблиотека, диэлектрических, диэлектрическойпроницаемости, измерений, потерь, прибор, тангенса, твердб1х, точных, угла

...и приде ленточнои ерный нагрев одписная группа142 Известна конструкция прибора для тоизмерений диэлектрической проницаемот ангенса угла диэлектрических потерь тведиэлектриков (по авт, св,165796), вром резонатор находится при фиксировтемпературе, в то время как поршень и лщий на нем испытуемый образец имеюсокую температуру. Фиксированная темтура достигается благодаря применениюагента, циркулирующего в зарубашпространстве резонатора.Предложенный прибор отличается отстного тем, что в нем поршень выполиплатины, что дает возможность проводитследования твердых диэлектриков в воной среде, благодаря отсутствию корплатины.Нагреватель выполнен в виспирали, чем достигается равноьпоршня по всей площади. Для устранения перекоса образца, емого на...

Номер патента: 1125530

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Минаев, Реброва

МПК: G01N 27/22

Метки: газообразных, датчик, диэлектрических, емкостный, жидких, свойств, сред

...ДИЭЛЕКтРЦ.(ескц(х (1 всйтв ГаРООбразць 1 х ц жиДр:, :;гержаще;1 э;,1 е 1 тродь , - ОЦК, У( 11(ЬЕ К Вь(ХОДЫМ ",. 1 РЬ(мам ,ЗтОдЫ ВЬГ 10 лцЕНЬ; ИЗ 1 цб 1(ИХ МЕтаЛ;(ИХ (г Н жЦЛЬЦ(ЯХ ЦГц МНОГ ОжЦЛЬцы :р сч о г(ок т пскрь 1 тьц( изоляцией ит-.го, ка(:да:; цз проволок;1 з фЯГ:иэсбрах(ен прРдлагаемь(йПггт(ьц(, РАГРЕ(;, Па фиг- ЗаВЦСИ 1 ЛЕ 1, "Т,; Ч(гс( ЕМ" Т И ДатТ 1 Цк о плицы .(ровслсцьп( электрод(вцвц постоянной пг(от.,ости с.;яти: - :;ца фГ. о - зав цсимос Гь и- к Гричес 1(0.-", ЕМОС(И (атЧИК 1 ОТ ПЛОТНОСТИ СМЯ"ЦЯ Г(РОВС(ОЧНЫХ ЭЛЕКТРО СВ ПОИ По .Т(зяцнс.,. Исходной длине проволок.ДЧ.",( (ОДЕР",1(ЗГ КСР 1 У( 1 ,фц 1)тстс,:Ьй ЦМС,. ВП":Кцсй И ВЫПУСКНСй".0 г, ПП 1 Пв ( СЬ(а "ц ПОТОК(:0;1 т ропир, е:ог-" материала,стенке...

Номер патента: 959718

Опубликовано: 23.09.1982

Автор: Прокопов

МПК: A01K 63/00

Метки: живых, невесомости, обитания, организмов, содержания, среде, условиях

...крестовины 4 установлен на горизонтальном полом валу 5, связанном с редуктором. Для подачи внутрь корпуса воды, которая в данном случае является средой обитания организмов, служит штуцер 6, полость вала 5, радиальные трубопроводы 7. Корпус изготовлен из прозрачного материала и смонтирован на стойках 8. На стенках 1 и 2 укреплены радиаль ные перфорированные перегородки соответственно 9 и 10 так, что наружные концы их не доходят до противоположной стенки.Их также можно изготовить из прозрачного материала. Для поддержания рыб в корпус можно также поместить насыпной грунт, например гальку, графий, песчанник, и растения, а также сетку 11 для их удержанияУстройство действует слепчющим образом.Корпус приводят во вращения и подают внутрь...

Номер патента: 981880

Опубликовано: 15.12.1982

Авторы: Кийс, Маширин, Тенно

МПК: G01N 27/46

Метки: газового, газовой, жидкой, компонента, содержания, среде

...датчик 1 концентрации газового компонента, соединенный последовательно через источник 2регулируемого напряжения с входомусилителя 3, регистрирующий прибор 4,соединенный с выходом усилителя 3,цепь 5 обратной связи, соединяющуювыход усилителя 3 с входом источника 2 регулируемого напряжения.Ток датчика 1, пропорциональныйизмеряемой концентрации, через источник 2 регулируемого напряженияпоступает на вход усилителя 3, затемна регистрирующий прибор 4 и цепь 5обратной связи, которая Формируетсигнал коррекции, поступающий навход источника 2 регулируемого напряжения,О= (О "ьюККосгде Ок - сигнал коррекции.;( - ток датчика;й 8 - сопротивление входа нагрузки (усилителя)Кс - коэффициент усиления усилителя 3;Ко " коэффициент обратной...

Номер патента: 995016

Опубликовано: 07.02.1983

Автор: Пронин

МПК: G01R 27/26

Метки: диэлектрических, диэлектрической, локальной, области, пленок, полупроводниковых, проницаемости

...расположены над исследуемой пленкой б на подложке 7,Устройство работает следующим образом.В исследуемой области пленки из,вестной толщины наносится локальныйзаряд Чр с помощью коронирующегоэлектрода 2 и блока 1. Заряженнаяобласть транспЬртируется под измери.тельным электродом 3, размеры которого боЛьше расстояния до заземленной подложки 7, так, что справедливо приближение плоскопараллельногослоя,Далее измеряются индуцированныена электроде 3 заряды при расстояниях от него до поверхности пленкиЬ и Ь 2 соответственно и вычисляется значение диэлектрической проницаемости в области, расположенноймежду локализованным зарядом и подложкой.В общем случае заряд, индуцирован,ный на измерительном электроде, определяется соотношением1 (х у )(фх у...