Бинокулярная лупа

Номер патента: 803695

Опубликовано: 30.06.1986

Авторы: Воробьев, Жданов, Кулаков, Куликов

МПК: G05D 3/12

Метки: лазерного, оси, положения, пучка, фотоэлектрическое

...жесткие требования на точностьустановки пирамиды в оптический тракти препятствует возможности автоматизировать этот процесс,Целью изобретения яаляется упрощение устройства,Цель достигается тем, что анализатор выполнен в виде диффузнорассеивающего экрана, который выполнен в видеплоскопараллельной пластины из молочного стекла марки МС 12,На чертеже изображено предлагаемоеустройство.Оно содержит корпус 1, в которомсимметрично относительно оптическойоси устройства расположены фотоприемники 2, закрытые светофильтрми 3,Перед фотоприемниками расположен диффузнорассеивающий экпан 4, выполеный в виде пло корллельой плас 5 1 О 15 20 25 ЗО 35 40 тиы из молочного стекла, напримермарки МС 12, толщиой не менее 2 мм.1 ри этом максимум...

Номер патента: 173344

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Кузьмин, Предпри, Энергии

МПК: H05H 13/00

Метки: а.я, аяeiioaiiotcka, магнитного, мсо, ось, поля, стабилизации, циклотронае, чгс

...Для измерения фазы пролета с точностью "-0,1 рад необходимо получить отношение полезного сигнала к помехам 20 - 30 дб.Известный способ снижения синхронных помех заключается в размещении чувствительных элементов датчика внутри дуантной системы. Однако и в этом случае вследствие провисания ВЧ-поля внутрь полости дуанта отношение полезного сигнала к помехам меньше единицы,Для дальнейшего увеличения отношения полезного сигнала к помехам предложено использовать высшие гармоники сигнала, наведенного пучком на чувствительный элемент датчика фазы.Возможность осуществления этого способа обусловлена тем, что азимутальная протяженность сгустков ускоряемого пучка не превышает 1 рад, а клир-фактор ускоряющего напряжения много меньше единицы в...

Номер патента: 1023265

Опубликовано: 15.06.1983

Авторы: Лисовский, Щеглов

МПК: G01R 33/12

Метки: анизотропии, легкого, магнитных, намагничивания, ориентации, оси, пленок, поля

...плоскости пленки,пленку устаавливают таким образом,цтобы. ось ее вращения совпадала сномалью к поверхности пленки, освещают пленку поляризованным светом ис помощью анализатора и микроскопанаблюдают зарождение доменной структуры, вращают пленку вокруг оси,совпадающей с нормалью к плоскостипленки, подбирают ориентацию и напряженность магнитного поля такимобразом, цтобы в момент зарождениядоменная структура имела полосовойхарактер, снимают зависимости продольной и поперечной (относительнооси вращения пленки) компонент напряженности магнитного поля, соответствующих моменту образования домен"ной структуры от угла поворота плен"гки, пред ста вляют полу ченную з ависимость в виде рядов Фурье и опреде,ляют константы и ориентацию...

Номер патента: 995055

Опубликовано: 07.02.1983

Авторы: Комарова, Русинов

МПК: G02B 25/00

Метки: лупа

...линзы, состоящей из двояковыпуклой линзы 5 и отрицательного мениска 6, одиночной плосковыпуклой линзы 7, призменной системы 8 Молофеева-Порро, двускленной линзы, состоящей из двояковогнутой 9 и двояковыпуклой 10 линз, и одиночной плосковыпуклой линзы 11. Для обеспечения резкого изображения объекта наблюдения предусмотрено смещение бинокулярной телелупы вдоль штатива Ез перпендикулярно предметной плоскости 1.4. Макет прибора (фиг. 3) представляет собой частный случай изобретения, служащий для решения конкретной задачи, поэтому подвижная насадка установлена наклонно по отношению к корпусу лупы. Для излома оптической оси в данном случае используется призма Е, отклоняющая световой поток на требуемый угол. Выходной зрачок неподвижной...

Номер патента: 1042598

Опубликовано: 23.08.1986

Авторы: Дзергач, Кузьмин

МПК: H05H 9/02

Метки: резонансная, ускоряющая

...для всех гармоник волйомость их максимальна вдоль их образу- вым числом по оси Е. Вследстви этогоющих; требуемые углы наклона к оси 2 парцИальных плоских волн различны: для бо .Поставленная цель достигается таклее коротких воля углы больше. В отже тем, что в систему введен дополникрытых Резонаторах прототипа с обычтельный отражатель, который выполненными отражателями этого условия дон виде тела вращения, и расположен со- биться невозможно,.поэтому для обеспвосно с первыми двумя внутри них и,чения нормального падения парциальныхв центре промежутка между. ними.10 волн на поверхности отражателей 2 кНа фиг.1 изображена предлагаемаяповерхностям этих отражателей, обра"снстема 1 на. фиг.2 - спектр частот ищенным к оси вращения, примыкают...