Способ оптимизации регулировочных характеристик ускорителя плазмы с внешним магнитным полем

Номер патента: 1603313

Опубликовано: 30.10.1990

Автор: Смолкин

МПК: G01R 33/02

Метки: бесконтактного, магнитного, плазме, поля

...каналах на входдиспергирующего элемента будут проходить световые потоки о 1 и ов компонентовлинии, промодулирован ные функциями модулятора Цм) и 1 в(у) и сдвинутые по фазе наЛ /2. Врассматриваемых условиях поляризация выходящего из диспергирующих элементов излучения в отсутствие магнитногополя была бы циркулярной, При наличии жемагнитного поля в плазме в световых пучкахО. и ОВ компонент линии с длинами волн Л== Й-АЛз иЛя = ЛО+ ЛЛз образуются дис персии разностей фаз колебаний о- и е- лучей соответственно 2 Пе поО -2 Пе По а.1М т) + Е ов 1фв(1) +Е.,2 в( М=(Е + (Еив 1 е Ов 2) в( )(4) 1Е 01.2иЕов 1ЕОв 2 . приближении монохрома- ) световой волны и в отсутких смещений (ЛЛдс =О) нии выражение (4) легко ормулу1ю -- г.оя .ь 1 в ю.5...

Номер патента: 1072635

Опубликовано: 07.03.1988

Автор: Жуковский

МПК: G21B 1/00

Метки: магнитном, параметров, плазмы, поле

...и широко применяетснв диагностике высокотемпературнойплазмы на установках "Токамак", таккак позволяет достаточно просто инадежно определять поведение в пространстве и во времени одного иэ важнейших параметров плазмы - ее плотности.Однако известный интерферометрический способ не позволяет измерять 45другой важный параметр плазмы, аименно величину и распределение впространстве полоидального магнитного поляили, что то же самое, распределение тока в плазме. Это являет" 5ся следствием того, что используетсяэлектромагнитная волна только с одйой поляризацией, и обычно точностьизмерения сдвигов фаз невысока.Целью изобретения является осуществление измерений попоидальногомагнитного поля в плазме. Для этогов способе измерения параметров плазмы в...

Номер патента: 234549

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Алексеев, Васильев, Мозин

МПК: G01R 33/02, H05H 13/04

Метки: магнитных, сравнительных, характеристик, электромагнитов, электронного

...5 времени путем изменения токов в обмоткахподмагничивания измерительных датчиков.При этом токи подмагничивания в дополнительных обмотках датчиков Д 4 и Дб оказываются пропорциональными отличию в измеряе мых точках исследуемого блока от эталонногопо полю и градиенту поля.В качестве примера на фиг. 2 изображенодин из возможных вариантов схемы питания обмоток подмагничивания датчиков, Значения 5 напряженности магнитного поля Н в точкахрасположения датчиков имеют индексы, аналогичного номерам датчиков (например, Н, - напряженность магнитного поля в точке расположения датчиков Д 1 и т. д.). При совме щении всех импульсов поле подмагничивания234549 Оюргюй аланы усслесууемый для г. каждого датчика равно соответствующему внешнему полю. Если...

Номер патента: 399776

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Чеканов, Ягло

МПК: G01N 27/72

Метки: магнитных, прибор, ферромагнитных, характеристик, частиц12

...углом; в месте пересечения поме 5 щена кювета 3, в которой находятся взвешенные в жидкости частицы,Коммутатор 4 (фиг. 2) предназначен длявключения в работу и выключения соленоида,последовательного соединения катушек 2 со 0 леноида, включения в работу одной катушки2 и изменения тока в катушках.Прибор работает следующим образом.При замыкании ключа 5 и подвижного контакта б с неподвижным 7 катушки соединяют 5 ся между собой последовательно, и при замыкании ключа 8 в некоторой небольшой области около центра системы катушек создаетсяоднородное магнитное поле, вектор напряженности которого гараллелен оси соленоидов и20 плоскости наблюдения, а его величина определяется по формуле де 1 - ток в в цепи; а - число витков катушек; Р - радиус...

Номер патента: 1093998

Опубликовано: 23.05.1984

Авторы: Винокуров, Степанов, Шекирюк

МПК: G01R 33/12

Метки: динамических, магнитных, характеристик

...тик как динамическая кривая намагничивания Вщ = Й(Н ) и кривая дефференциальной магнитной проницаемости (Э,) = Г(Н ), так как эти зависимости определяются по точкам , что суще Ф1 В ЕЕственно снижает производительность измерений.Цель изобретения - повышение про" изводительности измерения динамических магнитных характеристик.50Укаэанная цель достигается тем, что в устройство, содержащее источник намагничивающего тока, включенный последовательно с измерителем тока и намагничивающей обмоткой преобразователя, последовательно соединенные измерительную катушку, преобразователь среднего значения и индикатор, допол. кительно введены вторая измерительная катушка, объединенная в общий 60 блок с первой измерительной катушкой с воэможностью изменения...