Способ получения гамма-квантов и нейтронов

Номер патента: 1485844

Опубликовано: 20.06.1996

Авторы: Игнатьев, Насыров

МПК: G01T 3/00

Метки: гамма-нейтронных, детектор, избирательный, излучения, импульсного, нейтронного, полях, регистрации, смешанных

1. Избирательный детектор для регистрации импульсного нейтронного излучения в смешанных гамма-нейтронных полях, содержащий чувствительный элемент и конвертер нейтронного излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и избирательности детектора, в нем чувствительный элемент расположен внутри имеющего щель конвертера, выполненного толщиной d 5l, где l длина свободного пробега гамма-излучения, из материала с атомным номером z 50, с коэффициентом ослабления гамма-излучения

Номер патента: 76078

Опубликовано: 01.01.1949

Авторы: Коржев, Печерников

МПК: E21B 47/022, G01V 5/00

Метки: гамма-нейтронного, каротажа, прибор, скважин

...Этот счетчик регистрирует также и рассеянные первичные Гя 1 мякванты, излучасмыс (а Ве источником, Этот источник Отгорожен от нюкн(н части прибора свинцовым экраном 6. Гамма-счетцик 11 регистоир ет рассеянные ПО)Одами Гя:мя-квянть 1, получаемые 1(я источпиком 10, который отгорожен от верхней части прибора свинцовым экпаном 9. ГОказання гамма-счетчиков могмт быть зарегистрированы на поверхности либо счетчиками-нумераторами, либо с помощью токовых самопишущих прибороз. Таким образом, показания гамма-счетчика 3 будут зависеть от трех параметров вс 1 Ородосодержанияокружающей среды, коэффициента рассеяния и коэффициента псглощения гамма-лу 1 сй. Гоказания же счетчика 11 бугдут зависеть только от коэффициента поглощения и коэффициента...

Номер патента: 543220

Опубликовано: 15.03.1986

Авторы: Демьянченко, Колесников, Мельник, Сокуренко, Чернов, Черный

МПК: B03B 13/06

Метки: абсорбционной, гамма, минерального, нейтронной, покусковой, сортировки, сырья

...пучок гамма-излучения источника 2. Гамма-кванты преобразуются детектором 3 в электрические импульсы, которые усиливаются и дискриминируются узлом 4, а далее поступают в блок 5 регистрации времени нахождения куска в зоне .измерения и параллельно,в блок 6 измерения содержания полезного компонента, Блок.6 связан с пороговой схемой 7, которая управляет исполнительным узлом 8.Блок 5 определяет размеркуска, перпендикулярный просвечиваемому размеру 5, и управляет работой 30 35 40 45 50 55 блока 9 коррекции. Блок коррекции выполнен в виде каскада генераторов 10-12, вырабатывающих частоты коррекции, и мультивибраторов 13-15 с возрастающей длительностью импульсов. Мультивибраторы связаны и запускаются от блока 5. Выходы генераторов...

Номер патента: 1367721

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Арсаев, Белоусов, Красников

МПК: G01T 3/00

Метки: блок, гамма, детектирования, дозы, излучения, нейтронного, смешанного, эквивалентной

...сцннтилляционного детектора 5, световода 6, фотоэлектронного умножителя (ФЗУ) 7, оптичес" ки связанных между. собой, и электрических разъемов; высоковольтного 8 и сигнального 9.Блок детектирования работает сле дующим образом,Гамма-излучение частично ослабля ясь в эамедлителе 1,2,3 и вэаимьдеиствуя с веществом сцинтилляционньи детекторов 4 и 5, вызывает образов ние фотонов, которые по световоду д стигают фотокатода ФЭУ 7. В ФЗУ 7 происходит преобразование потока фо тонов пропорционального поглощенно дозе гамма-излучения, в .электричес кий заряд, который также пропорцион лен поглощенной дозе гамма-излучени через сигнальный разъем 9 электриче .кий заряд передается для дальнейшей обработки. Высокое напряжение, иеоб ходимое для...

Номер патента: 1783934

Опубликовано: 27.12.1995

Авторы: Бирюков, Гатько, Сорокин

МПК: H01L 21/66

Метки: анодного, выращивания, качества, окисла, оценки, процессе

СПОСОБ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА АНОДНОГО ОКИСЛА В ПРОЦЕССЕ ЕГО ВЫРАЩИВАНИЯ, заключающийся в измерении характеристик токовых шумов системы образец-окисел-электролит и оценке качества окисла по измеренным характеристикам, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности измерений, в качестве характеристики токовых шумов измеряют их автокорреляционную функцию, причем измерения проводят при подаче на систему полупроводник-окисел-электролит постоянного напряжения, а о качестве окисла судят по наличию на измеренной характеристике участка с отрицательным значением измеряемой величины.