Способ дозиметрирования ионизирующего излучения

Номер патента: 149155

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Хараджа

МПК: G01T 1/185, H01J 47/04

Метки: больших, вакуумная, гамма-излучения, доз, жесткого, камера, мощностей, рентгеновского

...потенциала от источника постоянного напряжения, Измерительный электрод б имеет форму колпачка, укрепленного на молибденовом стержне б, который впаян в стеклянную ножку и присоединен к электрометрическому устройству экранированным кабелем. Металлическая втулка, укрепленная в кольце 2, ограничивает рабочие поверхности электродов 4 и б камеры, так как электроны, попадающие на нее, огводятся к земле через винты 7, Для экранирования от воздействия внешних электрических полей вакуумная камера помещена в заземленный металлический кожух 8 и закреплена в нем винтами 7, концы которых входят в выточку кольца 2. Алюминиевый стакан 9 является дополнительным фильтром и может быть снят или заменен другим.При выполнении вакуумной камеры для...

Номер патента: 346979

Опубликовано: 15.10.1978

Авторы: Скоропад, Тарасова

МПК: G01F 15/075

Метки: водного, дозиметр, излучений, индофенолового, ионизирующих, красителя, основе, раствора, химический

...более высокой чувствительностью к ионизирующим излучениям. Так нижним пределом измеряемой дозы Явля ется доза в 50-500 рад,- в зависимости От чувствительнОСТИ метода анали- за раствора. Линейна; зависимость Оптической плотности От дозысохраняетсц до 3000-6000 рад. при концентрации 26-дихлорфенолиндофенолята натРия От 0,001 до 0,004 вес.% соответственно, С повыаением концентрации 2,6" дихлорфенолиндофнолята натрия От 0,001 до 0,004: вес.овозрастают чувст 50 вительность дозиметра к ионизирующим излучениям и диапазонлинейной зависимости оптической плотности от дозы. При концентрации 1 С) 2 еб Дихфорфено линдофенолята натрия О, 004 С О, 02 вес.% чувствительность дозиметра к ионизирующим излучениям снижается При этом, однако, диапазон...

Номер патента: 500704

Опубликовано: 15.06.1980

Авторы: Коваленко, Мелешевич, Страковская

МПК: G01F 1/203

Метки: дозиметрии, излучения, ионизирующего

...= п(Оо с)фФОо (2)а величина п(О 0,с) при температуре сможет быть выражена через значение ппри температуреи (О, с) =- и(О, сб) Ф ( -с), (3)где б - температурный коэффициенттпоказателя преломления.Подставляя значение и(О ,) изформулы (3) в Формулу (2), получим:п(О, с)=п(О,)Ф.(с-с)+Ю О. (4)Откуда получаем вйражение для измеряемой дозы в общем виде;)о ( )(5)п(О,)-п(О) , атФр Юэ 0Таким образом, получено основное уравнение для определения дозы по измеренному коэффициенту преломления п(О,) и исходному значению коэффициента преломления п(О).Практически для данйого вида дозиметрической системы должен бьнь сделан при постоянной температуре, например 20 оС градуированный график по которому определяется доза О в зависимости от измеренного...

Номер патента: 717679

Опубликовано: 25.02.1980

Авторы: Кронгауз, Шавер

МПК: G01T 1/11

Метки: детектор, излучения, ионизирующего

...известный метод компенсации. Такой материал являетсяэффективным тканеэквивалентным сцинтиллятором; энергетическая зависимость свето.выхода аналогична энергетической зависимости массового коэффициента поглощенияэнергии излучения мягкой биологическойтканью. Спектр излучения сцинтиллятора наоснове антрацена имеет максимум при445 нм,В качестве люминофора - аккумулятора этого свечения выбран сульфид стронция, активированиый самарием и тербиемЗгЗ: Зпз ТЬ,Этот люминофор обладает свойством возбуждения термолюминесценцин как под дей.ствием рентгеновского и гамма-излучения,лтак и под действием излучения выбранного,сцинтиллято па.679 7 717Как показано на чертеже, светосумма, запасенная люминофором Яг 8;.Вгп, ТЬ только за счет собственного...

Номер патента: 736030

Опубликовано: 25.05.1980

Авторы: Воробьев, Плотников, Прец, Федущак

МПК: G01T 1/16

Метки: излучений, ионизирующих, регистрации

...частиц)- электрическая постоянная;5- относительная диэлектрическая прокицаемость;- плотность тока пучка излучения;5 - площадь облучаемой частио образца;- время накопления заряда;р, - коэффициент размножения,показывающий сколько заряженных частиц образуется)5 ка поверхности диэлектрического образца при соуда -рении с ним одной заряженной частицы, одногокванта или частицы нейтрально 2 о го излучения,На фип, 1 изображена схема, с помоэцью которой реализуется способ.Устройство содержит место 1 накоп -ления заряда; держатель 2 образца; рвз 25 рядный электрод 3, детектор 4 разряда;на фиг, 2 аб изображены графически:а) экспериментальная зависимостьплотности тока излучения от времени накоплекия заряда иб) экспериментальная...