Измерительная система для исследования процессов деформирования при магнитно-импульсной обработке заготовок
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1568352
Авторы: Глущенков, Овчинников, Самохвалов, Юсупов
Описание
2. Система по п.1, отличающаяся тем, что она снабжена электрооптическим затвором, смонтированным на выходе световода, при этом управляющий вход электрооптического затвора соединен с выходом пульта управления.
Заявка
4611351/27, 17.10.1988
Куйбышевский авиационный институт им. акад. С. П. Королева
Самохвалов В. Н, Овчинников Ю. М, Юсупов Р. Ю, Глущенков В. А
МПК / Метки
МПК: B21D 26/14
Метки: деформирования, заготовок, измерительная, исследования, магнитно-импульсной, обработке, процессов
Опубликовано: 20.05.1999
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1568352-izmeritelnaya-sistema-dlya-issledovaniya-processov-deformirovaniya-pri-magnitno-impulsnojj-obrabotke-zagotovok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Измерительная система для исследования процессов деформирования при магнитно-импульсной обработке заготовок</a>
Предыдущий патент: Способ выделения газоотдающих интервалов
Следующий патент: Установка для термостатирования раската в линии полосового стана горячей прокатки
Случайный патент: Устройство для измерения искажений длительности дискретных сигналов