Измерительная система для исследования процессов деформирования при магнитно-импульсной обработке заготовок

Номер патента: 1568352

Авторы: Глущенков, Овчинников, Самохвалов, Юсупов

Описание

1. Измерительная система для исследования процессов деформирования при магнитно-импульсной обработке заготовок, содержащая магнитно-импульсную установку с зарядным устройством с пускателем и с разрядно-коммутирующим устройством с поджигающим электродом, индуктор, соединенный с выходом магнитно-импульсной установки, камеру скоростного фоторегистратора, генератор поджигающих импульсов и пульт управления, выходы которого соединены с входами камеры скоростного фоторегистратора и генератора поджигающих импульсов, а выход последнего соединен с поджигающим электродом указанного разрядно-коммутирующего устройства, отличающаяся тем, что, с целью повышения точности получаемых результатов и надежности работы системы, она снабжена световодом, вход которого направлен на разрядный промежуток указанного разрядно-коммутирующего устройства, а выход - на рабочую зону индуктора.
2. Система по п.1, отличающаяся тем, что она снабжена электрооптическим затвором, смонтированным на выходе световода, при этом управляющий вход электрооптического затвора соединен с выходом пульта управления.

Заявка

4611351/27, 17.10.1988

Куйбышевский авиационный институт им. акад. С. П. Королева

Самохвалов В. Н, Овчинников Ю. М, Юсупов Р. Ю, Глущенков В. А

МПК / Метки

МПК: B21D 26/14

Метки: деформирования, заготовок, измерительная, исследования, магнитно-импульсной, обработке, процессов

Опубликовано: 20.05.1999

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1568352-izmeritelnaya-sistema-dlya-issledovaniya-processov-deformirovaniya-pri-magnitno-impulsnojj-obrabotke-zagotovok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Измерительная система для исследования процессов деформирования при магнитно-импульсной обработке заготовок</a>

Похожие патенты