Задесенцев

Устройство для контроля параллельности мерительных поверхностей, микрометров, концевых калибров и т. п.

Загрузка...

Номер патента: 63852

Опубликовано: 01.01.1944

Авторы: Задесенцев, Захарьевский

МПК: G01B 11/14, G02B 27/30

Метки: калибров, концевых, мерительных, микрометров, параллельности, поверхностей

...смещается при каждом своем прохождении через пластинку, ход лучей соответству. ет схеме по фиг. 2. При соответствующем подборе толщины пластинки н ее ориентировке можно достиг нуть такого смещения, что измерительные поверхности микрометра полностью покрываются пучком лучей и Ь= а.Ьо;ее подрсбо посыот устройство фш. 3 и 4. Здесь цифрой 1обозначен шпиндель, а цифрой 2 -пятка микрометра. Кслгиматор со.стоит из лампы 4, перекрестия 5 иоб ьектнва 6, Зрительная труба со 1 ержит обьектив 7, шкалу 8 и окуляр 9.Мекд; ерите ьныи поверхностями,шпинделя 1 и пятки 2 наклонпо установлена плоскопараллельнаястеклянная пластинка 3.Ьлагодаря тому, что пластинкасмещает пучок лучей без измененияего направления, открывается возможность использовать для...