Яес
Аппарат для микроскопического исследования
Номер патента: 198360
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Гиндин, Институт, Неотложной, Пушкарь, Стародубов, Физико, Яес
МПК: F25D 3/10
Метки: аппарат, исследования, микроскопического
...окружена хладагецтом со всех сторон, исключаялишь смотровое окно. Это достигается благоларя углублению в верхней части сосуда 7.Нихкняя часть камеры погружена в хладагент,близко подходящий к изучаемому объекту поЗО каналу в стержне.Для регулирования скорости замораживания и оттаивания в широком интервале скоростей служит электрическая печь 11, расположенная вблизи исследуемого объекта. Оттаивать обьект можно также пропуская по змеевику 10 теплый газ.Температура измеряется термопарой 12, которая вводится через изоляторы 13, расположенные на боковой поверхности вакуумной камеры 2. Спай термопары помещается в отверстие вблизи образца, Изоляторы И служат для подвода электрических проводов нагревателя.Пространство между сосудом 7 и камерой...