Товарницкая

Номер патента: 1516774

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Алексеев, Бахматов, Кайзер, Товарницкая

МПК: G01B 11/08

Метки: диаметра

...основы растра, что позволяет испольэовать один эталонный растр для контроля проволокиразличного диаметра. 3 ил. 1торой измеряют, намотана на катушку 6. При этом эталонный растр 1 и полупрозрачный экран 3 расположены плоскости изображения оптической системы 4, а измерительный растр расположен в плоскости, параллельной плоскости иэображения. Механизм 7 для деформации эталонного растра 1 снабжен микрометрическим винтом 8Устройство работает следующим об разом.Витки контролируемой проволоки 5 плотно намотанные на катушку 6, освещаются источником излучения (не показан) и с помощью оптической сис темы 4 цроецируются на полупрозрачный экран 3. При этом проекция витков проволоки 5 образует на полупрозрачном экране 3 растр. В результате...

Номер патента: 1330460

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Бахматов, Кайзер, Товарницкая

МПК: G01B 11/08

Метки: диаметра

...технике и может быть использовано для измерения диаметра проволоки.Цель изобретения - определение диаметра проволоки намотанной на катушку, за счет использования объ" екта в качестве растра.На чертеже изображено предлагаемое устройство, общий вид.Устройство содержит эталонный растр 1, измерительный растр 2, полупрозрачный экран 3, оптическую систему 4, проволоку 5, диаметр которой измеряют, катушку, 6, на которую намотана проволока, при этом эталонный растр 1 и полупрозрачный экран 3 расположены в плоскости изображения оптической системы 4, а измерительный растр 2 расположен в плоскости, параллельной плоскости изображения.Устройство работает следующим образом.Витки контролируемой проволоки. 5, плотно намотанные на катушку.6,...