Сивошипский

Номер патента: 589967

Опубликовано: 30.01.1978

Авторы: Лидоренко, Наркевич, Петренко, Рубашов, Сивошипский, Федоровский, Федосеева

МПК: A61B 6/00

Метки: исследования, кожи, новообразований, радиоизотопного

...затем составить две таблицы коэффициентов деформации амплитудного распределения импульсов в координатах Х 1 и ЛХ=Х, - Х,. Коэффициенты деформации выражаются в виде соотношений результатов двух измерений с различными режимами амплитудной дискриминации.Определение эффективных значений глубины Х 1 и толщины ЛХ слоя аномального накопления радиоактивного препарата осуществляется путем сопоставления табличных значений,коэффициентов деформации амплитудных,распределений, полученных в результате калибровки, с коэффициентом деформации амплитудного распределения для радиометрируемого слоя, рассчитанных по результатам радиометрии патологического и контрольного участков кожи в трех различных режимах измерений.Практическая возможность реализации...